集成门电路逻辑功能的测试.doc

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1、个人收集整理勿做商业用途实验一集成门电路逻辑功能的测试一、实验目的1.熟悉数字电路实验的结构、基本功能和使用方法2.掌握集成门电路逻辑功能的测试方法3.掌握非门、与非门、或非门等门电路的逻辑功能4.掌握门电路的逻辑变换二、实验原理三、实验设备与器件1.数字电路实验箱2.74LS04（CC4069）六反向器74LS00(CC4011）四2输入与非门或74LS20(CC4012)双4输入与非门74LS02（CC4001)四2输入或非门四、实验内容及步骤1.测试六反相器74LS04的逻辑功能实验前先检查实验箱电

2、源是否正常(请先不要接通），然后在合适的位置选取一个14p芯片座，将实验用集成芯片（74LS04）正确插入芯片座。14脚接+5V直流电源输出插口,7脚接地插口;输入端接逻辑电平开关输出插口(逻辑电平开关用于提供逻辑高低电平,开关往上拔时，对应的输出插孔输出逻辑“1”，开关往下拔时,输出逻辑“0”)。输出端接逻辑电平显示器的输入插口（逻辑电平显示器由发光二极管LED组成，用于测试电路逻辑电平的高低,LED亮为逻辑“1”，不亮为逻辑“0”)。特别注意Vcc及地线不能接错。接好线后经指导教师检查无误后方可通电。

3、实验过程中改动接线必须先断开电源，接好线后再通电实验.按表1-1要求按动逻辑电平开关（输入高、低电平信号），测出相应的输出逻辑电平。表1—11A1Y2A2Y3A3Y4A4Y5A5Y6A6Y0101010101011010101010102.测试四2输入与非门74LS00或双4输入与非门74LS20的逻辑功能个人收集整理勿做商业用途测试方法及步骤同实验1.按表1-2或表1—3，测出相应的输出逻辑电平。表1-21A1B1Y2A2B2Y3A3B3Y4A4B4Y00100100100101101101101110

4、1101101101110110110110表1-3ABCDY111100111110111个人收集整理勿做商业用途11011111013.测试四2输入或非门74LS02的逻辑功能测试方法及步骤同实验1.按表1—4，测出相应的输出逻辑电平。表1—41A1B1Y2A2B2Y3A3B3Y4A4B4Y001001001001010010010010100100100100110110110110尽管COMS集成芯片内部结构与TTL不同，但它们的逻辑功能完全一样，测试方法也完全相同。4.集成门电路的逻辑变换（1）

5、用一片74LS00构成或非门Y1变换好后，测试方法及步骤同实验1.按表1—5,测出相应的输出逻辑电平。个人收集整理勿做商业用途（2）用一片74LS00构成异或门Y2变换好后，测试方法及步骤同实验1。按表1—5，测出相应的输出逻辑电平。表1-5输入输出ABY1Y20000011110111110