改善銲线站失铝之研究

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1、天马行空官方博客：http://t.qq.com/tmxk_docin；QQ:1318241189；QQ群：175569632範例一改善銲線站失鋁之研究　　1.原作者簡介1.1李錦城先生─黎明工專畢業─矽豐股份有限公司製程工程師1.2林瑞蘭小姐─省立新竹高商畢業─矽豐股份有限公司品質保證工程師1.3鄭瑩玲小姐─勤益工專畢業─矽豐股份有限公司管理師1.4蔡森源先生─東海大學畢業─矽豐股份有限公司製造部副課長2.本範例之榮譽─1996年榮獲矽豐股份有限公司第一屆D.O.E專題發表會特優獎3.本範例導讀本範例有下列優點，值得留意A.本範例用多特性值實驗，直接追求全面性之最佳條件，整體構想

2、十分嚴謹。B.連續進行20週之量產，證明最後獲得之KNOW-HOW確實經得起時間考驗。C.該組成員不僅以有成果為滿足，更進而探索KNOW-WHY，追根究底之精神令人敬佩。D.此專題為一群並無統計背景之實驗計劃初學者，邊學邊做之成果，證明實驗計劃真的可以速學活用，值得其他後學者效法。 　　範例一改善銲線站失鋁之研究　1.選題理由：　　對IC封裝業而言，銲線站失鋁問題(PeelingPad)對產品良率有著決定性之影嚮，也是多年來一直無法有效解決之夢靨。這次藉由實驗計劃法進行實驗，期能從參數方面，尋找PeelingSoftware之最佳生產條件改善不良率並提昇製程能力。 2.流程介紹： 

3、　　3.現況分析：週別PINCOUNT45週46週47週48週容易PEELING型號100Q0.11%0.10%0.14%0.14%92100、8663、8496、86694.預期目標：　　失鋁報廢缺點數控制800PPM以下。　　5.特性要因圖：　　　　　6.第一階段實驗計劃：6.1因子與水準：常數項1.機台：K&S1488LB-1402.CAPILLARY：414FB-0213-3343.GOLDWIRE：NIPPONTI-ψ32um4.SOFTWARE：7.02-04-11-E025.其他：SOFTWARE可控制之參數　　6.2點線圖：　6.4數據量測說明6.4.1以失鋁發生次

4、數作為量測依據。6.4.2以金球推力克數Σ(Xi)/6為量測依據。　6.5數據量測實驗次數特性12345678PEELING012700003BALLSHEAR(x)21.4342.4045.0821.2029.4028.8629.9350.60實驗次數特性910111213141516PEELING0122600000BALLSHEAR(x)23.1547.4544.1522.7639.4522.9834.7840.23　　　　　7.變異數分析7.1PEELING之ANOVA（合併後）7.2BALLSHEAR(χ)之ANOVA（合併後）7.3貢獻率帕拉圖分析　　　　8.第一階段實

5、驗結論　　　　9.第二階段實驗計劃9.1因子與水準：常數項1.PAMPDOWN：C12.INITIALFORCE：D13.1STFORCETIME：F24.FORCERAMPTIME：G29.2點線圖：　9.4數據量測說明9.4.1以失鋁發生次數作為量測依據。9.4.2以金球推力克數Σ(Xi)/6為量測依據。9.5數據量測實驗次數特性123456789PEELING000000000BALLSHEAR(x)25.7433.7841.9638.0626.9831.1334.1336.6837.54實驗次數特性101112131415161718PEELING000000000BALL

6、SHEAR(x)31.0835.4628.3927.5829.6135.1436.9936.1632.43實驗次數特性192021222324252627PEELING000000000BALLSHEAR(x)34.5027.3630.7828.1432.8636.3928.0828.4436.21　　 　　10.變異數分析10.1BALLSHEAR(χ)之ANOVA（合併後）10.2最小顯著差(LSD)分析10.2.1非常顥著因子(**)：I10.2.2雖I因子仍非常顯著，因此用LSD期望找出操作WINDOW　 　　 　I1I2I3I1　-0.5967-5.9600I2　　-5.

7、3633I3　　　　由於I1與I2只差0.5967，遠小於LSD(5.50)，故表示I1與I2為最佳操作WINDOW。  　　11.第二階段實驗結論:11.1最佳參數A.USGDELAY:A1B.RAMPUP:B3C.RAMPDOWN:C1D.INITIALFORCE:D1F.1STFORCETIME:F2G.FORCERAMPTIME:G2H.CONTACTTHRSHOLD:H2I.POWER:I1~I211.2再現性確認　機本數(K)失鋁數(ea)LOSSRATE