ddr存储器的测试方法研究及实现

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1、上海交通大学硕士学位论文DDR存储器的测试方法研究及实现姓名：王剑申请学位级别：硕士专业：计算机技术指导教师：刘胜利;朱鲁华20040901DDR存储器的测试方法研究及实现DDR存储器的测试方法研究及实现摘要DDR又称双倍速率SDRAMDualDateRateSDRSM是一种高速CMOS动态随机访问的存储器它代表着未来能与Rambus相抗衡的内存发展的一个方向和普通同步动态随机存储器SDRAMSDR相比DDR在时钟脉冲的上升和下降沿均读取数据数据传输率可以是时钟频率的两倍工作频率较高本文从存储器技术的发展

2、和分类开始对存储器的性能指标故障模式和基本测试方法等做了系统阐述针对DDR测试的不同层次分别提出了基于板级的DDR测试方案基于专用存储器测试系统的DDR测试方法和基于ETS770逻辑测试系统的DDR测试方案基于板级的DDR测试方案主要面向的是设计使用对DDR接口驱动控制信号高速工作等部分进行试验和测试测试的是器件的实际使用性能因DDR存储器的读写方式与其它存储器不同工作速率比较高对设计和使用提出了很高的要求因此对其开展板级的使用测试保障器件的正常使用是非常必要的此方案的提出和实现将解决DDR工程应用的许多

3、问题而基于专用存储器测试系统的DDR测试方法主要面向的是产品生产和用户验收对器件的功能和交直流参数进行测试测试比较全面基于ETS770逻辑测试系统的DDR测试方案则是面向用户的验收和可靠性测试DDR存储器同其他VLSI和存储器相比具有一定的特殊性国内尚无人研制出专1DDR存储器的测试方法研究及实现用的DDRSDRAM测试系统国外的专用的DDR存储器测试系统由于价格很高除生产厂外很少有研究单位购买专用的DDR存储器测试系统因此目前国内用户要开展对DDRSDRAM的验收和可靠性测试的研究受到很大的限制为解决这

4、个问题本文在无专用的存储器测试图形发生器的支持下利用程序方法进行了测试向量的自动生成在对生成的测试向量进行自动转换和少量手工修改后实现了对DDRSDRAM几种存储器图形的测试利用DDRSDRAM存储器的特性把测试向量自动生成和存储器测试图形融于一体在逻辑验证系统上予以实现是本文的创新之处在不同层面上开展对DDR存储器测试方法的研究可为用户提供对DDR存储器测试的参考借鉴具有较高的实用价值关键词存储器DDRSDRAM测试方法测试向量ETS770测试系统2DDR存储器的测试方法研究及实现RESEARCHOND

5、DRMEMORYTESTMETHODSANDIMPLEMENTATIONABSTRACTDDR(alsocalledtheDualDateRateSDRAM)isahigh-speedCMOSanddynamicrandomaccessmemory.DDRmemoryrepresentsanewdirectionofthememorydevelopmentthatwillcontendwithRambusinthefuture.Tocomparewiththegeneralsynchronousdynam

6、icrandommemory(SDRAM)DDRcanreaddatafromtherisingandfallingedgesofaclockpulse.ThereforethedatatransmissionrateofDDRdoublesthatoftheclockfrequencyanditsoperatingfrequencyismuchhigher.Startingwithanintroductiononthedevelopmentsandcategoriesofmemorytechnologi

7、esthispapermakesasystematicdescriptionontheperformanceindexesfailuremodesandbasictestapproachesformemories.ItputsforwardseveralDDRtestapproachesrespectivelybasedonboard-levelspecialmemorytestingsystemandETS770logictestingsystemfordifferentlevelsofDDRtest.

8、TheDDRtestapproachbasedonboardlevelismainlyusedinthedesignphasewhichexamsandteststheDDRinterfacedrivethecontrolsignalandthehigh-speedworksandwhatitmostconcernsaboutisthepracticalperformanceoftheinstruments.Thewrite-