材料测试技术测资料1new

《材料测试技术测资料1new》由会员上传分享，免费在线阅读，更多相关内容在学术论文-天天文库。

1、一、名词解释：1.布拉格定律：如果波程差2d’sinθ=nλ(n=0,1,2,3,……)时散射波1’、2’的位相完全相同，所以互相加强。2.布拉格方程：布拉格方程是给出晶体X射线衍射方向的方程。2dsinθ=nλ(n=1,2,3…)。3.晶带：晶体中平行于同一晶向的所有晶面总体，而此晶向称为此晶带的晶带轴。4.电子衍射基本公式：Rhkldhkl=Lλ，其中Rhkl为衍射斑与透射斑距离，dhkl为（hikili）晶面的晶面间距，λ为入射电子束波长，L为样品到底板的距离。5.能谱仪：所谓能谱仪实际上是一种电子仪器，主要单元是半

2、导体探测器（一般称为探头）和多道脉冲高度分析仪器，用以将Ｘ光量子按能量展谱。6.差热分析是在程序控温条件下，测量试样与参比的基准物质之间的温度差与环境温度的函数关系。7.热重分析是在可调速度的加热或冷却环境中，把被测物质的重量作为时间或温度的函数来记录的方法。8.超声波检测：超声波在被检测材料中传播时，材料的声学特性和内部组织的变化对超声波的传播产生一定的影响，通过对超声波受影响程度和状况的探测了解材料性能和结构变化的技术称为超声波检测。二、简答题１.试简单说明电子入射固体样品表面激发的主要信号，主要特点和用途。答：（1）

3、背散射电子，包括：弹性背散射电子和非弹性背散射电子。背散射电子来自样品表层几百纳米的深度范围。由于它的产额能随样品原子序数增大而增多，所以不仅能用作形貌分析，而且可以用来显示原子序数衬度，定性地用作成分分析。（2）二次电子，在入射电子束作用下被轰击出来并离开样品表面的样品的核外电子叫做二次电子，真空中的自由电子。二次电子一般都是在表层5～10nm深度范围内发射出来的，它对样品的表面形貌十分敏感。因此，能非常有效地显示样品的表面形貌。二次电子的产额和原子序数之间没有明显的依赖关系，所以不能用它来进行成分分析。（3）吸收电子，

4、入射电子进入样品后，经多次非弹性散射能量损失殆尽(假定样品右足够的厚度没有透射电子产生)，最后被样品吸收。产生背散射电子较多的部位(原子序数大)其吸收电子的数量就较少，反之亦然。因此，吸收电子能产生原子序数衬度，同样也可以用来进行定性的微区成分分析。（4）透射电子，当试样厚度小于入射电子的穿透深度时，入射电子将穿透试样，从另一表面射出称为透射电子。透射电子信号是由微区的厚度、成分和晶体结构来决定。透射电子中除了有能量和入射电子相当的弹性散射电子外，还有各种不同能量损失的非弹性散射电子，其中有些遭受特征能量损失ΔE的非弹性散

5、射电子(即特征能量损失电子)和分析区域的成分有关，因此，可以利用特征能量损失电子配合电子能量分析器来进行微区成分分析。（5）特征X射线，当样品原子的内层电子被入射电子激发或电离时。原子就会处于能量较高的激发状态。此时外层电子将向内层跃迁以填补内层电子的空缺，从而使具有特征能量的x射线释放出来。根据莫塞莱定律，如果我们用x射线探测器测到了样品微区个存在某一种特征波长，就可以判定这个微区中存在着相应的元素。（6）俄歇电子，在入射电子激发样品的特征X肘线过程中，如果在原子内层电子能级跃迁过程中释放出来的能量并不以x射线的形式发射

6、出去，而是用这部分能量把空位层内的另一个电子发射出去，这个被电离出来的电子称为俄歇电子。特别适用做1nm左右范围内表层成分分析。2.要在观察断口形貌的同时，分析断口上颗粒状夹杂物的化学成分，选用什么仪器？用怎样的操作方式进行具体分析？答：可选用配有能谱仪的扫描电镜，利用二次电子形貌像进行断口形貌的观察。操作：可用电子探针的定点分析操作。关闭扫描线圈，使电子束固定在所要分析的某一点上，不同元素的特征Ｘ射线能量不同，经探头吸收，信号转换和放大后，得到不同电压脉冲幅值。具有不同幅值的电压脉冲（对应不同的Ｘ光子能量）按其能量大小进

7、行分类统计，在显示器上显示，即可确定被分析点的化学组成。３.什么叫做无损检测，常规的无损检测包括哪几种形式，什么叫做超声波检测？答：无损检测，顾名思义是以不损坏被检测物体内部结构为前提，应用物理的方法，检测物体内部或表面的物理性能、状态特性以及内部结构，检查物体内部是否存在不连续（即缺陷），从而判断被检测物体是否合格，进而评价其适用性。无损检测五大常规检测方法：射线检测（RT），超声波检测（UT），磁粉检测（MT），渗透检测（PT），电磁检测（ET）。超声波在被检测材料中传播时，材料的声学特性和内部组织的变化对超声波的传播

8、产生一定的影响，通过对超声波受影响程度和状况的探测了解材料性能和结构变化的技术称为超声波检测。４．简述扫描电镜中用能谱仪进行微区成分分析的三种形式。答：（1）定点分析：用于测定样品上某个指定点，如成分未知的第二相，夹杂物或基体的化学成分。（2）线分析：用于测定某种元素沿给定直线的分布情况。（3）面分析：