布鲁克X射线衍射仪.doc

布鲁克X射线衍射仪.doc

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1、.X射线衍射仪---D8ADVANCE型X射线衍射(XRD)是所有物质,包括从流体、粉末到完整晶体,重要的无损分析工具。对材料学、物理学、化学、地质、环境、纳米材料、生物等领域来说,X射线衍射仪都是物质结构表征,以性能为导向研制与开发新材料,宏观表象转移至微观认识,建立新理论和质量控制不可缺少的方法。通过对置于分光器(测角仪)中心的样品上照射X射线,X射线在样品上产生衍射,改变X射线对样品的入射角度和衍射角度的同时,检测并记录X射线的强度,可以得到X射线衍射谱图。用计算机解析谱图中峰的位置和强度关系,可以进行物质的定性分析、晶格常数的确定和应力分析等。而且通过峰高和峰面积也可进

2、行定量分析。除此以外,通过峰角度的扩大或峰形进行粒径、结晶度、精密X射线结构解析等各种分析,还可以进行高低温及不同气氛与压力下的结构变化的动态分析等。1.主要性能  D8型X射线衍射仪系列是当今世界上最先进的X射线衍射仪系统。它的设计精密、硬件、软件功能齐全,能够精确对金属和非金属多晶粉末样品进行物相检索分析、物相定量分析、晶胞参数计算和固溶体分析、晶粒度及结晶度分析等。仪器包括陶瓷X光管、X射线高压发生器、高精度测角仪、闪烁晶体探测器、计算机控制系统、数据处理软件、相关应用软件和循环水装置。2.技术指标   最大输出功率:≥2.2kW;电流电压输出稳定性优于0.005%(外电

3、压波动10%)时;X射线防护:国际安全认证,射线剂量≤0.2μSv/h。光管类型:陶瓷X光管,Cu靶,其他靶材可选,更换无需校准;光管功率:2.2kW;长细焦斑:0.4×12mm;最大管压:60kV;最大管流:80mA;测角仪:采用步进马达驱动和光学编码器技术,扫描方式θ/θ或θ/2θ测角仪;最小步进角度0.0001o;角度重现性0.0001o;扫描角度范围2θ=-110o~168o;最高定位速度≥1500o/min。索拉(Soller)狭缝:0.02,0.04,0.08rad。探测器:闪烁晶体计数器;动态范围≥2×106cps;背底噪声<0.5..cps。固体探测器:锂漂移硅

4、能量色散型;测量范围2keV~30keV;能量分辨率:E≥279eV。   系统软件:系统控制和数据采集软件;物相检索软件及数据库;粉末衍射全分析软件包(相分析软件、物相定量分析软件;精密测定晶胞参数;样品中无定型含量;微晶尺寸和(或)微观应力分析软件;结构精修和面间距与角度计算;模拟复杂混合相或单相的无标定量分析);残余应力分析软件;晶粒度分析软件。3.应用范围   D8ADVANCE型X射线衍射仪集成最先进的技术提供了完善的衍射解决方案,可进行如下工作,物相检索;物相定量分析;嵌镶尺寸(晶粒大小)及微观应力(晶格畸变)测定;线形分析:除函数拟合法外,含独家开发的基本参数法分

5、析软件,用作物相分析、点阵参数测定等数据处理前进行线形优化处理;Kα剥离、数据平滑、傅立叶变换、3维图形功能等。广泛应用于物理、化学、药物学、冶金学、高分子材料、生命科学及材料科学。可以分析黏土矿物、合金、陶瓷、食品、药物、生物材料、建筑材料、高分子材料、半导体材料、超导材料、纳米材料、超晶格材料和磁性材料的物相鉴定,材料可以是单晶体、多晶体、纤维、薄膜等片状、块状、粉末状固体,为科学研究提供准确可靠的数据。4.样品要求   来样标明名称、来源、主要成分、待测样品包含元素;   固体粉末:大于1g,建议事先处理300目左右。5.相对于其它厂家的同类配置而言,该配置具有如下独特的

6、特点:1θ/θ衍射仪:我们提供的是θ/θ衍射仪,这样样品不动,入射光路及衍射光路运动,因此可以测量液体、大的样品及所有不适合动的样品,从而有利于高低温、气氛反应等的研究。q/q测角仪对测角仪的稳定性要求非常高。D8系列测角仪采用大轴设计方案,稳定性好,与q/2q具有相同的精度。2测角仪:测角仪是衍射仪的心脏。我们的测角仪具有如下特点:l精度高(角度重现性达0.0001度);..l同一测角仪能立能卧;l模块化性能好、组合灵活(可配置不同附件,组合成多种光路,以实现不同的应用);l各种部件安装在高精度导轨上(从而可实现模块化快速互换)l测角仪圆能根据需要改变(以得到高强度或高分辨率

7、配置)l步进马达驱动+光学译码器保证了衍射仪快速而精确的定位。3X光管:我们提供的标准尺寸(因此可以与其它厂家的标准尺寸X光管互换)的陶瓷管,因此,相对某些使用特殊尺寸光管的厂家而言,用户今后受厂家的限制少。4软件:我们的软件是真正32位、WindowsNT/95环境下的多任务操作软件。所有软件的操作接口、操作方式都与Windows一样,非常容易上手。而且具有三维图形功能。你可以从不同角度审视测量结果,可以对结果进行各种操作。这一功能对高低温研究非常有价值。lXRD-XRF互动根据XRF或其

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