DFT(可测性设计、制造测试)

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1、DFTIntroduce2016/7/29Page1(Title,Arial,30pts)
DFTSummary
ScanChain
BIST
BoundaryScan/NtreePage2DFT:designfortest(可测性设计)测试分功能测试和制造测试功能测试主要寻找设计上可能存在的错误，用来验证电路中的逻辑行为制造测试用于寻找在制造过程中可能存在的制造缺陷（开路、短路等）DFT是为了使制造测试尽可能简单，覆盖率尽可能高，而在电路中加入一些特殊逻辑的设计方法Page3DFT分类:
Scan:扫描电路主要测试寄存器和组合逻辑。工具生成
BIST:内建自测试，电路自己生

2、成测试向量对自己进行测试，主要用在IP测试，我们常用的就是测试RAM用的MBIST电路。工具生成或者RTL设计
BoundaryScan:测试IO，已及芯片与芯片之间互连测试。工具生成
Ntree:测试IO，功能比BoundaryScan少，但是面积也比BoundaryScan小。RTL设计Page4(Title,Arial,30pts)
DFTSummary
ScanChain
BIST
BoundaryScan/NtreePage5将电路中的普通触发器（flip-flops）替换为具有扫描能力的扫描触发器，如下图:当S=0时，触发器为正常的功能输入，而当S=1时，触发器为扫描

3、输入。Page6将扫描触发器连在一起Page7
ScanPIN可以和functionpin共享，也可以是专用PIN，视实际应用而定ScanPINdefineexample:Page8
Stuck-AtFaultFault类型有很多，这里主要讨论Stuck-AtFault(固定故障)，某个信号的值被固定为某一电平值(0或1)Page9UncontrollableClockFixExampleNote:UncontrollableAsynchronousSetsandResets也需要FIXPage10下图为SCAN的几个主要过程，可以看出shfit占用了大部分时间，这个时间取决于s

4、canchian的长度Page11一般说来，要定一个故障覆盖率指标，比如95%，Page12Page13(Title,Arial,30pts)
DFTSummary
ScanChain
BIST
BoundaryScan/NtreePage14电路结构Page15
MBISTPage16MBIST有多种算法Page17
MBIST可用工具产生，也可设计RTL实现，我们是通过设计RTL实现的，采用的是MARCHC+算法对Memory读写的数据为0x00/0xFF和0x55/0xAA两组数据Page18(Title,Arial,30pts)
DFTSummary
ScanChain

5、BIST
BoundaryScan/NtreePage19
BoundaryScan边缘扫描是欧美一些大公司联合成立的一个组织——联合测试行动小组（JTAG）为了解决PCB板上芯片与芯片之间互连测试而提出的一种解决方案。由于该方案的合理性，它于1990年被IEEE采纳而成为一个标准，即IEEE1149.1Page20JTAGPIN:
TDI:testdatain
TDO:testdataout
TCK:testclock
TMS:testmodeselect
TRST:TAP复位信号（可选）Page21
BoundaryScan一般是用工具做，在芯片的每一个IO上增加一个Boun

6、daryScanCell，然后再将这些BoundaryScanCell连成一起，从而构成一条扫描链。BoundaryScanCell有多种，如下是输入/输出的BoundaryScanCell例子Page22以输出BoundaryScanCell来说明，BoundaryScanCell的通路有四条Pi->PO:正常功能SI->SO:移位操作SI->PO:移位到功能IOPI->SO:抓取功能IO的data进行移位Page23
NTREE(nandtree)对Input进行Nand操作，将测试结果通过Output送出观察，通过设计RTL实现。优点：面积小缺点：只能测本芯片IO的某个方向

7、Page24对输入（a，b，c）来说，每一个输入都实现了0<->1的互相翻转。而在输出（d）测，我们可以观察到1<->0翻转的输出波形abcd000100100111111001110010OutputOutputOutput0001Page25