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时间:2019-02-27
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1、学位论文版权使用授权书本学位论文作者完全了解北京交通大学有关保留、使用学位论文的规定。特授权北京交通大学可以将学位论文的全部或部分内容编入有关数据库进行检索,并采用影印、缩印或扫描等复制手段保存、汇编以供查阅和借阅。同意学校向国家有关部门或机构送交论文的复印件和磁盘。(保密的学位论文在解密后适用本授权
2、兑明)学位论文作者签名:泵埋/签字H期:加一』年f}月哆H导师签名:签字同期:}ID』灭f4知智年f2月11日中幽分类号:TN402学校代码:100MUDC=621.38密级:公开北京交通大学硕士学位论文基于MarchC算法的SRAM内建白测试电路设计SRAMBISTCircuitDesi
3、gnBasedontheMarchC—Algorit}1m作者姓名:吴迪导师姓名:郊陶雷学位类别:工学学号:09120057职称:副教授学位级别:硕士学科专业:微电子学与固体电子学研究方向:集成电路设计北京交通大学致谢本论文的工作是在我的导师郑陶雷副教授的悉心指导下完成的,郑老师严谨的治学态度和科学的工作方法给了我极大的帮助和影响。在此衷心感谢三年来郑老师对我的关心和指导。郑老师悉心指导我们完成了实验室的科研工作,在学习上和生活.L都给予了我很大的关心和帮助.在此向郑老师表示衷心的谢意。郑老师对于我的科研工作和论文部提出了许多的宝贵意见,在此表示衷心的感谢。另外电感谢我的家人,他们的理解
4、和支持使我能够在学校专心完成我的学业。北京交通人学硕十学位论文中文摘要摘要:随着集成电路设计技术的进步和工艺技术的发展,嵌入式存储器占典型的片上系统(System-on-Chip,SoC)芯片的很大一部分,嵌入式存储器的任何设计或工艺上的进步,都会影响整个SoC芯片特性(成本、产量、性能和可靠
5、生)。出于这个原因,存储器使用最先进的工艺技术,以达到快速的存墩速度和实现高的集成度。但是,这样做的后果是,存储器更容易受到生产工艺和工艺偏差的影响而导致错误,成为影响SoC芯片成品率的主要因素。现如今,静态随机存储器(StaticRandomAccessMemory,SRAM)的测试已经成为了一
6、项重要的课题。在现在的主流可测性技术中,内建自测试技术(Built-inSelf-Test,BIST)是一种节省时问、降低成本的方法。通过考虑嵌入式SRAM的故障模型,选择MarchC.算法作为嵌入式SRAM的测试算法,并将MarchC一算法扩展为字定【&l算法。字定向的MarckC.算法对SRAM的常见故障有比较高的覆盖率,并且硬件实现难度适中。本文重点设计基于状态机控制的SRAM内建自测试电路。用砸件拙述语音VefilogHDL语言,搭建SRAM内建自测试电路:用ModelSim完成电路的功能仿真:在FPGA、F台Iz完成时序和功能验证:最后,用DC综台电路,m成门绒网表,进行静态时
7、序分析.自动布局市线实现l乜路的版图设计。本文给出的罐于MarchC一算法的SRAM内建自测试设计方案可行的例证,此设计能够覆盖到嵌入式SRAM的大多常见故障类型,其优势在于测试时问和芯片面积参数。关键词:嵌入式SRAM;内建自测试电路;MarchC一算法:SRAM故障模型分类号:TN402北京交通大学硕十学位论文ABSTRACTABSTRACTABSTRACT:Withthedevelopmentofintegratedcircuitdesigntechniquesandprocesstechnology,semiconductormemoriesrepresentasignifica
8、ntpartoftypicalSoCs,anyimprovementinthedesignandmanufacturingprocessesofmemorydeviceshasastrai曲tforwardandsignificantimpactonnumerousfeaturessuchascost,yield,perfonnance,andreliabilityofthewholeSoCForthisreason,memorieshavebeendesignedwiththemostup-to-datatechnologysoastoachievethehi吐eststoragede
9、nsityandaccessspeedThemainconsequenceisthatmemorydevicesarestatisticallymorelikelytobeaffectedbymanufacturingdefectsandprocessvariations,whichbecomesthemainproblemoftheoverallSoCfieldNowadays,StaticRandomAccessMemories
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