基于March+C-算法的SRAM测试设计与实现

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1、大连海事大学硕士学位论文基于MarchC-算法的SRAM测试设计与实现姓名：肖莹莹申请学位级别：硕士专业：电子与通信工程指导教师：房少军;宋夕政20070901中文摘繇攘妥本文给出一个基于MarchC．算法的面向字节的sRAM测试电路的设计。测试乎灸爨基于表软集嚣爨文墙项瓣戆测试叛，该扳透露豹是一令256K×16跑特豹涟机存储器，采用Marchc．算法实现电路对箕谶行测试。该测试电路熄对板级sRAM的内建自测试(BIsT)的设计，是为了确保扳级S恕≮M戆霹靠搜。因考露到投缓S获AM务秽教瘴模墼，从

2、嚣选择使惩Ma照c．算法。本文在传统面向比特方戏优化MarchC．算法基础上，给出了丽向字节方式优化算法，该算法可对sRAM进行字节内组合故障和数据维持故障测试，对呆滞薮簿、雾&交放藩、嚣鼹敌簿、戆蛙译羁器敖黪蠲字节阋缀会敖障能够逡劐9势§以上的故障覆盖率。同时在只增加少量成本的情况下，使用肿GA构成存储器的BIsT控制器，可以满飓SRAM的W测性的要求。该测试电爨貔竣势方法必巍瑗彝下，蕊飕‰蠢log黝b语言来进弦臻冀。首先通道分析M鲫chc-算法，获取测试向量，将这些测试向煮放到FPGA中的固定

3、单元保存；其次由Marchc．算法得到写入这贱向量的先后顺序，从这个顺序中抽象逡一个算法滚程辫，在实际孛鬟簧傻曩Ⅵ醛bg鄹L语轰寒对蹶痔谚囊，验涯其歪确性。然后通过算法流程图演化出数据通路及状态转换阕。数据通路是用于保存实际测试中需要用到的数据，如测试向量、读写SRAM的指令和控制字等。状态转羧强孛包籍状悉豹痿号羧疼爱状态魏魏转袈傍，可敬缓麓FsM<鸯羧状态爨)来嶷现。最后稃将数据通路岛状态机连接成～个数字系统，该系统即可以实现SRAM的测试。零文蕊设计鹣灏试宅路鬏霹麓来溺试狻鼗豹sRAM模块遣霹

4、终梵内建叁溅试(BIST)电路测试嵌入式SRAM。关键{嚣：静态隧骥荐睡器蕊l弧艇)；溺试；馘鑫rchc-冀法；嚣lsT英文摘要S地～MTestDesi弘andInlplememBasedonMarchC—AlgorithInAbstract1hedcsi弘andimplementofbit-嘣％tcdStatic＆mdomAccessMemory(S鼬址DtcStcircllitb硒edonMarchC-alg吲也mispresemcdinthisp印盯．1ktestbenchisbascdon

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7、soft11eSI“M．Thef甑111recoveragera_teisupto99％t0delayfaults，abmptfaults，Open．circllitfaultsoraddressdecodcrfauh．Besides，Wnincreasiilgofa锄all锄。吼tofcost，aBISTcon仃011er、Ⅳimam伽oryb试lt诵thFPGAis璐edtomectthercquirementofSRAMtestabili够Thedesi掣ln圮tllodof也etcstci

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