基于march c算法存储器内建自测试自测试设计和仿真

基于march c算法存储器内建自测试自测试设计和仿真

ID:32532719

大小:3.71 MB

页数:66页

时间:2019-02-11

基于march c算法存储器内建自测试自测试设计和仿真_第1页
基于march c算法存储器内建自测试自测试设计和仿真_第2页
基于march c算法存储器内建自测试自测试设计和仿真_第3页
基于march c算法存储器内建自测试自测试设计和仿真_第4页
基于march c算法存储器内建自测试自测试设计和仿真_第5页
资源描述:

《基于march c算法存储器内建自测试自测试设计和仿真》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在学术论文-天天文库

1、哈尔滨理工大学硕士学位论文基于MarchC+算法的存储器内建自测试自测试设计与仿真姓名:翟明静申请学位级别:硕士专业:微电子学与固体电子学指导教师:殷景华20090301哈尔滨理T大学工学硕士学位论文基于MarchC+算法的存储器内建自测试自测试设计与仿真摘要随着信息技术的发展,IC设计更加复杂,嵌入式存储器在soC芯片面积中所占的比例越来越大。由于本身单元密度很高,嵌入式存储器容易造成硅片缺陷,降低了芯片的成品率。目前,芯片的测试己成为制约系统集成度和规模的瓶颈,传统的自动测试设备已经不能满足大规模集成电路测试的需求,而内建自测试的方法已

2、经逐步运用到存储器测试中。本文分析了存储器主要的故障模型,并对存储器测试的各种方法进行比较,确定存储器内建自测试是一种比较有效的方法,在研究嵌入式存储器内建自测试技术相关理论的基础上,重点剖析了各种March测试算法特点,得出MarchC算法是能够检测存储器各种常见故障的有效算法。采用自顶向下的思想对存储器内建自测试系统进行设计,运用VHDL硬件描述语言描述整个系统结构,使用一种改进的MarchC算法——MarchC+算法,基于有限状态机实现存储器内建自测试电路设计,并用ModelSimSE6.2b工具进行仿真,验证了整个设计的正确性。本设

3、计对传统的存储器内建自测试电路结构进行优化,将测试向量生成器、地址向量发生器和读写控制器集成在BIST控制器一个模块中,使结构更合理,降低了设计难度;同时避免了模块及模块问的通信信号过多不利于调试的缺点,而且节省了芯片面积;在系统时钟频率为5MHz,仿真精度为Ins的情况下,完成整个存储器内建自测试所需要的时问是2.1701ms,达到减少测试时间的目的;本设计的Ⅲ具有通用性,当对其他的存储器系统进行测试设计时,只需要修改本设计中存储器输入输出端口的位数,就可以应用到另外的存储器测试系统中,因此具有很强的可移植性。关键词MarchC+算法;嵌

4、入式存储器;内建自测试哈尔滨理T大学T学硕f:学位论文DesignandSimulationofMemoryBISTBasedOilMarchC+AlgorithmAbstractWimthedevelopmentofinformationtechnology,designsbecomemolecomplex,andembeddedmemoryhasbeentakingmoreandmoreareainSoC(system-on-a-chip).Becauseofthehighdensityoftheembeddedmemory,itism

5、ucheasiertoresultinfaultsonthechipandthereforetodegradeyield.Now,chiptestingissuehasbecomeabottleneckrestrictingthescaleoftheintegratecircuit.111etraditionalAutoTestEquipments(ATE)cannotmeetthetestdemandofverylargescaleintegratecircuit,SO,BIST(Build-InSelf-Test)methodhasbe

6、enusedinthememorytest.Inthispaper,themainfaultmodelsofmemoryareanalysedandthecomparisonbetweenthemainmethodsofembeddedmemorytestalemade.ItisprobedthatMBIST(MemoryBuild.InSelf-Test)isaneffectivemethodofmemorytest.OnthebasisofresearchingonrelevantMBISTtheories,weparticularly

7、analysetheMarchalgorithm,thenweelicitthatMarchCalgorithmisaneffectivemethodwhichcandetectmanymemoryfaults.Thetop-downmethodisusedintheMBISTdesign,andtheVHDLhardwaredescriptionlanguageisusedtoprogramtheentiresystem.TheimplementationofMBISTcircuitdesignisbasedonFiniteStateMa

8、chine(FSM)andallimprovedMarchCalgo订mn卜——-MardlC+algorithmisemployed,thedesignissimulatedb

当前文档最多预览五页,下载文档查看全文

此文档下载收益归作者所有

当前文档最多预览五页,下载文档查看全文
温馨提示:
1. 部分包含数学公式或PPT动画的文件,查看预览时可能会显示错乱或异常,文件下载后无此问题,请放心下载。
2. 本文档由用户上传,版权归属用户,天天文库负责整理代发布。如果您对本文档版权有争议请及时联系客服。
3. 下载前请仔细阅读文档内容,确认文档内容符合您的需求后进行下载,若出现内容与标题不符可向本站投诉处理。
4. 下载文档时可能由于网络波动等原因无法下载或下载错误,付费完成后未能成功下载的用户请联系客服处理。