资源描述：
《基于march算法的内存异常检测研究 -march-tb及march-y算法分析-毕业论文》由会员上传分享，免费在线阅读，更多相关内容在学术论文-天天文库。
1、厦门大学软件学院-毕业论文本科毕业论文(毕业设计)题目：基于MARCH算法的内存异常检测研究-MARCH-TB及MARCH-Y算法分析姓名：学院：软件学院系：软件工程专业：软件工程年级：学号：指导教师（校内）：职称：年月40厦门大学软件学院-毕业论文40厦门大学软件学院-毕业论文摘要在当今工业，由于生产技术和产品设计提高等的原因，每个晶体管的制造成本呈持续下降的趋势，而每个晶体管的测试成本却基本保持不变。因而测试成本在快速追上制造成本，并且将很快超过其制造成本。原因很简单，因为先进的测试设备的价格非常昂贵使得测试成本居高不下。因此，对测试方法和测试算法的改进就成了重中之重。本文
2、从研究系统芯片可测试性设计理论出发，从对可测试性设计的内建自测试方法的研究中找寻对内存测试方法的有益论点。然后，分析存储器和存储单元的故障类型，思考他们的特点，进而比较各种当前较常用的算法，详细分析MARCH算法的特性，探寻对MARCH算法的改进。在文章的下半部份以便于学者及研究人员对MARCH算法的研究和改进为目标，分析设计了一个以MARCH算法为基础的内存检测系统，并对系统的重点和难点进行了详细分析。本文包括了对内存故障模型和内存测试算法的分析，并主要对所设计的Windows和DOS版内存检测系统进行介绍，分别列出了其详细设计，和运行效果，并就各种MARCH算法所提供的测试
3、向量进行了分析比较。关键词：MARCH算法存储器内存异常检测BIST40厦门大学软件学院-毕业论文AbstractIntoday'sindustry,duetoproductionoftechnologyandimproveofproductdesign,andotherreasons,themanufacturingcostoftransistorcontinuesdown,butthebasiccostofthetestoftransistorremainsunchanged.Thusthetest’scostisrapidlycatchingupwiththemanufa
4、cturingcost,andwillexceeditsmanufacturingcosts.Thereasonisverysimple,becauseofthehighpriceofadvancedtestequipmentmakesthecosthigh.Therefore,thetestmethodsandtestalgorithmhasbecomethetoppriorityofimproving.Thisarticlestartfromcanbetestedonsystem-on-chipdesigntheory,fromthedesigntotestthebuilt
5、-inself-testingmethodsinthestudyofmemorytestingmethodstofindausefulargument.Then,memoryandstorageunitofthefaulttype,thinkingtheircharacteristicsandthencomparethemorecommonlyusedmethod,detailedanalysisofthecharacteristicsofMARCHalgorithm,toexploretheMARCHalgorithmimprovements.Inthearticle,int
6、hesecondhalftoscholarsandresearchersinMARCHtostudyandimprovethealgorithmasthegoal,thedesignofaMARCHalgorithm-baseddetectionsystemmemoryandsystemofprioritiesandcarriedoutadetailedanalysisofdifficult.Inthispaper,includingthefaultofmemoryandmemorytestmodelalgorithmanalysisanddesignofthemainWind
7、owsandDOSversionofmemorytestsystem,abreakdownofitsdetaileddesignandoperationaleffectiveness,andanalysethedifficultiesinachieving,toresolve.Keywords:MARCHAlgorithm，Memory，MemoryAnomalyDetection，BIST40厦门大学软件学院-毕业论文目录摘要II引言1第一章存储器测试的发展21.1存储器测试发展动态21.
