基于March算法的内存异常检测分析——TBA算法分析-毕业论文.doc

基于March算法的内存异常检测分析——TBA算法分析-毕业论文.doc

ID:10839973

大小:1.07 MB

页数:53页

时间:2018-07-08

基于March算法的内存异常检测分析——TBA算法分析-毕业论文.doc_第1页
基于March算法的内存异常检测分析——TBA算法分析-毕业论文.doc_第2页
基于March算法的内存异常检测分析——TBA算法分析-毕业论文.doc_第3页
基于March算法的内存异常检测分析——TBA算法分析-毕业论文.doc_第4页
基于March算法的内存异常检测分析——TBA算法分析-毕业论文.doc_第5页
资源描述:

《基于March算法的内存异常检测分析——TBA算法分析-毕业论文.doc》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在学术论文-天天文库

1、本科毕业论文(科研训练、毕业设计)题目:基于March算法的内存异常检测分析——TBA算法分析姓名:学院:软件学院系:软件工程专业:软件工程年级:学号:指导教师:职称:年月厦门大学本科毕业论文摘要在当今工业,由于生产技术和产品设计提高等原因,每个晶体管的制造成本呈持续下降的趋势,而每个晶体管的测试成本却基本保持不变。因而测试成本在快速追上制造成本,并且将很快超过其制造成本。原因很简单,因为先进的测试设备的价格非常昂贵使得测试成本居高不下。因此,对测试方法和测试算法的改进就成了重中之重。本文从研究系统芯片的可测试性设计理论出发,对可测性设计中的内建自测试方

2、法作了更为深入的研究,并对该领域的研究情况进行了介绍。在此基础之上,本文分析了嵌入式存储器内建自测试技术的相关理论和方法,包括其故障模型与测试算法,重点剖析了March测试算法,并在己有算法(March-TB)的基础上分析了一种改进型的March测试算法March-TBA算法。该算法通过增加六步读(写)操作,不但覆盖了更多的测试过程中可区分的故障类型,增强了故障诊断能力,而且减少了测试所需要的时间。改进后的算法的故障覆盖率更高,从而验证了该算法的有效性。关键词:可测性设计(DFT)内建自测试(BIST)嵌入式存储器March算法48厦门大学本科毕业论文A

3、bstractIntoday'sindustry,duetoproductionoftechnologyandimproveofproductdesign,andotherreasons,themanufacturingcostoftransistorcontinuesdown,butthebasiccostofthetestoftransistorremainsunchanged.Thusthetest’scostisrapidlycatchingupwiththemanufacturingcost,andwillexceeditsmanufactur

4、ingcosts.Thereasonisverysimple,becauseofthehighpriceofadvancedtestequipmentmakesthecosthigh.Therefore,thetestmethodsandtestalgorithmhasbecomethetoppriorityofimproving.Firstofall,thethesisresearchesthetestingdesigntheoryofsystemchips.Then,thethesisgivesadeeperdiscussionofBISTindes

5、ign-for-testandilluminatestheresearchsituationofthisarea.Besides,thethesisexplainstherelatedtheoriesandmethodsofembeddedmemoryBISTincludingthefaultmodelofmemoryandthetestalgorithmsofembeddedmemory,ParticularlyanalyzestheMarchalgorithm.andthethesisputsforwardanimprovedMarchalgorit

6、hm—March-TBAbasedontheexistentalgorithm.Thealgorithmnotonlycoversmoredistinguishablefaultkindsinthetestingprocessandintensifiesthefault一diagnosedcapability,butalsoshortensthetestingtime.Andtheresultshowsthattheimprovedalgorithmcancovermostfaults.Accordingly,ittestifiesthevalidity

7、ofthealgorithm.Keyword:Design-For-Test(DFT)Built-InSelf-Test(BIST)EmbeddedMemoryMarchAlgorithm48厦门大学本科毕业论文目录引言1第一章存储器测试的发展21.1存储器测试发展动态21.2BIST的测试方法4第二章存储器的故障模型82.1存储器故障分类82.2存储单元的简化功能故障92.3基于嵌入式存储器的故障模型102.4存储器故障诊断算法分析112.4.1Checkerboard算法(棋盘法)112.4.2Gallop算法(奔跳法)122.4.3March算法(

8、进行法)132.4.4基于棋盘算法的改进13第三章March算法介绍163.1M

当前文档最多预览五页,下载文档查看全文

此文档下载收益归作者所有

当前文档最多预览五页,下载文档查看全文
温馨提示:
1. 部分包含数学公式或PPT动画的文件,查看预览时可能会显示错乱或异常,文件下载后无此问题,请放心下载。
2. 本文档由用户上传,版权归属用户,天天文库负责整理代发布。如果您对本文档版权有争议请及时联系客服。
3. 下载前请仔细阅读文档内容,确认文档内容符合您的需求后进行下载,若出现内容与标题不符可向本站投诉处理。
4. 下载文档时可能由于网络波动等原因无法下载或下载错误,付费完成后未能成功下载的用户请联系客服处理。