资源描述：
《en444_金属材料x射线和_射线照相检验通则》由会员上传分享，免费在线阅读，更多相关内容在行业资料-天天文库。
1、《元损探伤办双月刊!!∀年第#期欧洲标准∃%&&&金属材料∋射线(射线照相检验通则和引言∃%,0012无损检测)工业射线照相观片灯最低要求020012一!10本标准规定工件射线照相的基本方,+)法这些方法可以经济地获得令人满意和定义有重复性的结果)这些方法是根据一般公/。本标准所用术语定义如下认的作法和有关基本理论制订的+)标称厚度3,范围被检区材料的标称厚度不必考虑制造公差。本欧洲标准概述工业∋射线和(射线)+,穿透厚度4以胶片照相法透检各种金属材料缺陷的通根据标称厚度算出的射线束方向的材。则料厚度。此检验应由按∃%&∗+经资格鉴定合,
2、在双壁透照法中穿透厚度应由标称。格的探伤人员进行厚度算出。。本标准不包括缺陷的验收条件+)+工件表面至胶片距离5,参考标准试件射源侧表面与胶片表面之间沿射线束中心线测出的距离。本欧洲标准吸收了其他出版物已注明+)&6射源尺寸。或未注明日期的标准中的一些条款这些射线源的尺寸。,参考标准在本标准正文相应处均已提及+)0射源一胶片距离789篇名如下。对注明日期的参考标准,如有修射源与胶片之间沿射线束方向测出的,−。改内容则采用了修订版对未注明日期的距离,。参考标准则采用了最新版+)∀射源至工件表面距离:∃%&∀,一#无损检测)射线照相影像射源与试件
3、射源侧表面之间沿射线束./。质量丝型像质计像质值的选定中心线测出的距离∃%&∀,一,无损检测)射线照相影像&兀/射线照相方法等级质量阶梯孔型像质计像质值的选定)∃%&∀,一+无损/检测射线照相影像射线照相方法与两种等级/质量互铁素体金属的像质等级;级基本法∃%&∀,一&无损检测)射线照相影像<级—优化法/质量%像质值的实验评价和像质表<—。级法用于;级灵敏度不够的场合,∃%&∗+无损检测人员的资格鉴定通还有比<级更优的方法可由订约双则方商定相应的检测参数。)∃%01&。一无损检测工业射线胶片透照方法的选定应由订约双方协议。,二在拟订中系统分类
4、如果由于技术原因实际不可能满足一,&一《无摘探伤=双月刊!!∀年第期,、,<级法规定的某一条件时如射源类型射应使用像质计验证影像质量有关要,,、源至工件表面距离:经订约双方同意也求须符合具体的应用标准和∃%&∀,一#、、。。∃%&∀,一,∃%&∀,一+∃%&∀,一&可选用;级法规定的条件但灵敏度的损规定/失应如下补偿将底片的最低黑度提高到∀+)2,或选择衬度较高的胶片系统。此时因推荐的透照工艺;,被检区可视为按∀)所得灵敏度优于级<透检布置。透检。级条件检查布置应按具体的应用标准确定)∋∀?射线管电压和射源的选择0一般要求)∋∀),#射线设
5、备0)对电离辐射的防护为保持良好的探伤灵敏度,∋射线管/∋。注意人体任何部分受到射线或(电压应尽可能低些与不同厚度相应的管。。射线照射均对健康严重有害无论何处使电压最高许用值如图#所示,用∋射线设备或放射源均须遵循有关法∀),),其他射源。常用(.≅ΑΒ以上∋定要求射线源和射线注/,应严格遵循。使用电离射线时地方设备允许穿透的厚度范围示于表。或国家或国标安全防护规定「一「一#口).Χ#Α门二「曰「厂团)门门#一曰)=「门口冈日0,表面修整和制造阶段=门「厂Δ日=Δ#〔阅百门9一般毋须作表面修整,但若表面缺陷)3百3介下).口日口口妇朴8圈口叼
6、日,护)里、气花目目曰日于Ε「旧团口口之或涂层有可能妨碍缺陷检出时表面就应套宜打磨光滑,或铲除涂层。厚口昌巨兰目翻门3#匕#Ε仁〕昌口胃「,口日口口口Δ)口口口,口口除非另有规定射线照相应在制造最口口口口Δ#Χ#口口口口口,。口口口口门口门终阶段进行如在打磨或热处理后进行口口口口叮汀#」口口日)0+一常盆军Φ)尸)射线照相标识一。。被透检的每一区段均应贴放符号这图0。ΓΗ以下与不同穿透厚度和材料相应的∋射线最高许用管电压些符号的影像应显示在射线底片上尽,—Α可能落在被检区外并应确保被检区段标表了射线源和能在.≅Β以上)∋。的射线设各容许的穿透厚
7、度范围识一目了然铜、钢和锌基合金0)&标记穿进厚度4ΙΙ”级<级为对每一透检部位在重复检验时可准入Δ,。确定位被检工件上应作出永久性标记ϑΙ#,Κ4成040若由于材料性质或其使用条件不允许簇,镇0,镇4镇,,打永久性标记时也可画出准确的草图将。,2,22,24镇!2透检部位记录下来0)0ΛΚ∀Κ&2Π,22∀24成胶片搭接簇簇02,当透检区域由两张以上胶片组成时二ΑΒ+24,2202412射线机丈认≅镇,以确保整个被检区这些胶片应充分搭接∋能。封线机Α4》02412Μ毛Ν,≅Β均被透照到为此应在工件表面放置高密Ο,线机≅
8、ΑΗ,些霭4124》22度材料制成的搭接标记其影像应显示在。,,对铭/每张底片上和伙容许穿进厚度为)0∀像质计.>.;级/2Θ∗Ρ
