qj - 石墨材料和制品的x射线照相检验方法

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1、QJ1246-1987石墨材料和制品的X射线照相检验方法中华人民共和国航天工业部部标准石墨材料和制品的x射线探伤方法本标准适用于厚度为300mm以下的石墨材料和制品的无损探伤-舰要求1.1探伤比率保伤部位及质量定标准均投产品技术条件或设计要求远行1.2石墨料或工件寝面须仔细清理不应有高密度的粘附彻1.3石墨工件着与其它工件组装应在组提前i差行踪伤。fJ12-!-6-19871.4探伤1丰片人员应具有射线H资格证探伤操作人员应具有川级(慑低级〉资格证-2深{先要求2.1方法采用高灵敏度x射线照帽法2.2探伤机x射线探伤机的性能应满足

2、寝1的要求.6O<Tζ1ωI50<U，.，;二1ω160<T，.，;二300I150<U，.，;二4∞2.3越线器毅，射线保伤饥筐'在要求1;;a,8运4.0X4.0g三4.0X4.0萝雾重穹XY1520'4XY30103当透照厚度大于50mm或营电压高于55KV时必须采用海线器过越做射线.海线栅规格为70线/英寸焦距为IOOOn】m.墨照时将滔线器置于被深工件与胶片之间越线栅作连续匀速的往返运动.2.4股片根据透帽厚度选用寝2;'规定的非增感性三环腾(天，章严〉胶片或选用性能

3、更好的其它胶片胶片灰雾麽不大子O.20.;>照厚度mmT<二ω60<T';;;;160160<T，.，;ζ3002.5透度计胶片型号袭2胶片型号选用及幢幢主要性能f市霄盲目玄育事克西厦市苟，2队1使用栅孔邀靡计型哥与R寸细圈1相貌s所未.避废计';吗应与篮锦工件精同碰选用密II帽涯的赏它石.??.bzfxw4>>?2006年元级检测与第伤应用技术标准孚册29231型透度计适用于退阳厚度不大子100mm的工件11型遮度计适用于100-300mm的工件LA小巾小山EA小巾小山6mA小巾小山N

4、A小巾小山A小巾小山A小巾小山6主Y面1刺骨孔温度计缓3遗应计型号及尺寸mm￥:+FT,HC。l型0.250.320.400.50,.,254;;40.650.801∞H型。矗;，川、1.2S1.日。;35;20;62.002.503.202.S.2透照例将遗度计披在射线源-侧的工件上或者放在与遗照厚度相当的石噩试块上并使它位于透照区内的边缘处遗度计上小孔径-鹅在外大孔径-a在内当无法将透度计撞在射线源-倒时也可披在胶片侧但须在报告和记录中加以说明2.5.3遗度计灵敏麽按如下公式计算k叶俨100%式中K遗麽计灵敏麽%争底片上可分

5、;的短小孔径mmT__i差照工件厚度mmT,透麽计厚度rnrn2.6增感屏遗照管电压不高于100KV时不用18感廓管电压高于100KY则用铅屏糟感前后辱厚度为0.03mrn后辟厚度不小子0.03rnrn.2.7透照2.7.1墨照方向应份剔取工件厚度黑薄的方向和思窑易产生裂纹的方向2.7.2透照场最大直径不大子焦距的O.6倍.2.7.3网铅I!遮挡非遗照区.2.7.4透照例应披置铅字标记以衷示工件编号、底片编号及不同部位的接绪编号等2.8规范根据x射线深伤机性能制定跚先规范在满足3.，条底片黑度要求的前提下选用较低曾咆压和较大曾29

6、242006年元级检测与第伤应用技术标准孚册电流.焦距后表4边停为伙小时少·工件

7、不用耐??--:-SII:';;;:;60mmI600~酬

8、周边锺雷厚度〉创mmI酬-1000,.9胶片处理袋4焦距逃锦焦踵(mm)大型;.个工悴800-10001000-1200胶片处理应采用胶片厂推荐的显影液和定;穰配方芥按配方规定的温度和时闯进行2.10评片评片周可调强光观片灯应在光线睛，炎的室内i差行可用5-10倍施大饿分析僻认细小缺陷-JJjrt质.底片影lit质量应满足以下要求否则应重新返回3.I底片黑度范围为1.5-3.03.

9、2遗麽计灵敏麽不低于表5的规定当选阳也厚度(含透Jl[计厚度)'J、子就等于12mm则可清晰地鳞认0.25mm的横孔即可.m寞'眼;y.裂5温度计翼'院度要求3.3底片上不允许有影响质量课定的各种伪缺陷-4探伤报告及资料保存4.I探伤报告应包括以下内容a工件各称材料膊号及密度批次编号探伤报告单编号及日期;透照厚度和遗度计灵敏度c缺陷种类部位大小敏量质量评定标准号和评定结论d探伤报告的各级〈操作评片后对初审核〉签署应宪整.4.2探伤记录报告单副页和底片等资料应妥善保存5-10年以备核查.250<丁

10、';;;;300ζ。90