石墨材料和制品的射线探伤方法

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1、QJ1246--87石墨材料和制品的X射线探伤方法中华人民共和国航天工业部部标准QJ1246--87石墨材料和制品的X射线探伤方法----------------------------------------------------------------------------本标准适用于厚度为300mm以下的石墨材料和制品的无损探伤。1一般要求1.1探伤比率、探伤部位及质量评定标准均按产品技术条件或设计要求进行。1.2石墨材料或工件表面须仔细清理，不应有高密度的粘附物。1.3石墨工件若与其它工件组装,应在组装前进行探伤。1.4

2、探伤评片人员应具有射线Ⅱ级资格证,探伤操作人员应具有Ⅲ级(最低级)资格证。2探伤要求2.1方法采用高灵敏度X射线照相法。2.2探伤机X射线探伤机的性能应满足表1的要求。表1X射线探伤机性能要求透照厚度mm管电压kV管电流mA焦点尺寸mm窗口材料参考型号T≤60U≤50I≥3≤0.4×0.4铍DGX-6XY1520/460＜T≤16050＜U≤150I≥3≤4.0×4.0铍XY1520/4160＜T≤300150＜U≤400I≥8≤4.0×4.0不要求XY3010/32.3滤线器当透照厚度大于60mm或管电压高于55kV时,必须采用滤

3、线器过滤散射线。滤线栅规格为70线/英寸,焦距为1000mm。透照时将滤线器置于被探工件与胶片之间,滤线栅作连续、匀速的往返运动。2.4胶片根据透照厚度选用表2中规定的非增感性三环牌(天津产)胶片或选用性能更好的其它胶片,胶片灰雾度不大于0.20。表2胶片型号选用及性能透照厚度mm胶片型号主要性能T≤60V颗粒微细,反差高,感光速度慢.60＜T≤160V或Ⅲ 160＜T≤300Ⅲ颗粒中等,反差较高,感光速度中等.2.5透度计2.5.1使用横孔透度计,型号与尺寸如图1和表3所示。透度计材料应与被探工件相同或选用密度相近的其它石墨。Ⅰ型

4、透度计适用于透照厚度不大于100mm工件,Ⅱ型透度计适用于100--300mm的工件。表3透度计型号及尺寸mm尺寸型号 Φ F F T1 H C DⅠ型0.250.320.400.500.650.801.00 44 25 4 12 10 4Ⅱ型0.801.001.251.602.002.503.20 66 35 10 20 15 6 图1横孔透度计2.5.2透照时将透度计放在射线源一侧的工件上或者放在与透照厚度相当的石墨试块上,并使它位于透照区内的边缘处,透度计上小孔径一端在外,大孔径一端在内,当无法将透度计放在射线源一侧时,也

5、可放在胶片一侧,但须在报告和记录中加以说明。2.5.3透度计灵敏度按如下公式计算:ΦK=------×100%T+T1式中:K---透度计灵敏度,%;Φ--底片上可分辨的最小孔径,mm;T---透照工件厚度,mm;T1-透度计厚度,mm。2.6增感屏透照管电压不高于100kV时不用增感屏,管电压高于100kV时用铅屏增感,前屏厚度为0.03mm,后屏厚度不小于0.03mm。2.7透照2.7.1透照方向应分别取工件厚度最薄的方向和归容易产生裂纹的方向。2.7.2透照场最大直径不大于焦距的0.6倍。2.7.3用铅板遮挡非透照区。2.7.

6、4透照时应放置铅字标记,以表示工件编号、底片编号及不同部位的连续编号等。2.8规范根据X射线探伤机性能制定曝光规范,在满足3.1条底片黑度要求的前提下,选用较低管电压和较大管电流。焦距按表4选择:表4焦距选择焦距mm方法小型或少量工件大型或多个工件不用滤线器,厚度≤60mm600--800800--1000用滤线器,厚度＞60mm800--10001000--12002.9胶片处理胶片处理应采用胶片厂推荐的显影液和定影液配方,并按配方规定的温度和时间进行。2.10评片评片用可调强光观片灯,应在光线暗淡的室内进行,可用5--10倍放大

7、镜分析辨认细小缺陷。3影像质量底片影像质量应满足以下要求,否则应重新透照:3.1底片黑度范围为1.5--3.0。3.2透度计灵敏度不低于表5的规定,当透照总厚度(含透度计厚度)小于或等于12mm时,可清晰地辩认0.25mm的横孔即可。表5透度计灵敏度要求透照厚度mm12≤2020≤4040≤8080≤140140≤250250≤300灵敏度%≤2.0≤1.5≤1.0≤0.90≤0.80≤0.903.3底片上不允许有影响质量评定的各种伪缺陷。4探伤报告及资料保存4.1探伤报告应包括以下内容:a.工件名称、材料牌号及密度、批次编号、探伤

8、报告单编号及日期;b.透照厚度和透度计灵敏度;c.缺陷种类、部位、大小、数量、质量评定标准号和评定结论;d.探伤报告的各级(操作、评片、校对和审核)签署应完整。4.2探伤记录、报告单副页和底片等资料应妥善保存5--10年,以备核查。