数字电子技术实验报告样本.docx

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1、资料内容仅供您学习参考，如有不当或者侵权，请联系改正或者删除。专业:班级:学号:姓名:指导教师:电气学院资料内容仅供您学习参考，如有不当或者侵权，请联系改正或者删除。实验一集成门电路逻辑功能测试一、实验目的1.验证常见集成门电路的逻辑功能;2.熟悉各种门电路的逻辑符号;3.熟悉TTL集成电路的特点,使用规则和使用方法。二、实验设备及器件1.数字电路实验箱2.万用表3.74LS00四2输入与非门1片74LS86四2输入异或门1片74LS11三3输入与门1片74LS32四2输入或门1片74LS04反相器1片三、实验原理集成逻辑

2、门电路是最简单,最基本的数字集成元件,当前已有种类齐全集成门电路。TTL集成电路由于工作速度高,输出幅度大,种类多,不宜损坏等特点而得到广泛使用,特别对学生进行实验论证,选用TTL电路较合适,因此这里使用了74LS系列的TTL资料内容仅供您学习参考，如有不当或者侵权，请联系改正或者删除。成路,它的电源电压为5V+10%,逻辑高电平”1”时＞2.4V,低电平”0”时＜0.4V。实验使用的集成电路都采用的是双列直插式封装形式,其管脚的识别方法为:将集成块的正面(印有集成电路型号标记面)对着使用者,集成电路上的标识凹口左,左下角

3、第一脚为1脚,按逆时针方向顺序排布其管脚。四、实验内容㈠根据接线图连接,测试各门电路逻辑功能1.利用Multisim画出以74LS11为测试器件的与门逻辑功能仿真图如下按表1—1要求用开关改变输入端A,B,C的状态,借助指示灯观测各相应输出端F的状态,当电平指示灯亮时记为1,灭时记为0,把测试结果填入表1—1中。资料内容仅供您学习参考，如有不当或者侵权，请联系改正或者删除。表输入状态输出状态1-1ABCY00000010010001101000101011001111悬空111悬空00074LS11逻辑功能表2.利用Mul

4、tisim画出以74LS32为测试器件的或门逻辑功能仿真图如下资料内容仅供您学习参考，如有不当或者侵权，请联系改正或者删除。按表1—2要求用开关改变输入端A,B的状态,借助指示灯观测各相应输出端F的状态,把测试结果填入表1—2中。表1—2输入状态输出状态BYA0000111011110悬空11悬空1悬空01悬空11悬空悬空174LS32逻辑功能表资料内容仅供您学习参考，如有不当或者侵权，请联系改正或者删除。3.利用Multisim画出以74LS04为测试器件的非门逻辑功能仿真图如下按表1—3要求用开关改变电平开关的状态,借

5、助指示灯观测各相应输出端F的状态,把测试结果填入表1—3中。表1—374LS04逻辑功能表资料内容仅供您学习参考，如有不当或者侵权，请联系改正或者删除。输入输出状态(0

6、1)0100悬空0㈡根据管脚功能图连接,测试各门电路逻辑功能1.74LS00四二输入与非门管脚功能如下图所示,用其中一个门测试其逻辑功能。利用Multisim画出以74LS00为测试器件的非门逻辑功能仿真图如下