电镜制样要求.docx

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1、电镜制样要求SEM适合基底上样品的表面形貌TEM适合测样品的形貌，但是测试时需要样品比较薄，以便电子通过，所以基底上的样品不行。SEM样品制备的主要要求是：尽可能使样品的表面结构保存好，没有变形和污染，样品干燥并且有良好导电性能。另外，扫描电镜生物样品制备技术大多数生物样品都含有水分，而且比较柔软，因此，在进行扫描电镜观察前，要对样品作相应的处理。是否要喷金，取决于你的样品性质，如果是金属或导电性好的半导体，不需要喷金。如果是导电性比较差的样品，要喷金，但是是喷在你已经干燥后的样品上，不是喷到硅片上。1.对试样的要求试样可以是块状或粉末

2、颗粒，在真空中能保持稳定，含有水分的试样应先烘干除去水分。表面受到污染的试样，要在不破坏试样表面结构的前提下进行适当清洗，然后烘干。新断开的断口或断面，一般不需要进行处理，以免破坏断口或表面的结构状态。有些试样的表面、断口需要进行适当的侵蚀，才能暴露某些结构细节，则在侵蚀后应将表面或断口清洗干净，然后烘干。对磁性试样要预先去磁，以免观察时电子束受到磁场的影响。试样大小要适合仪器专用样品座的尺寸，不能过大，样品座尺寸各仪器不均相同。2.块状试样扫描电镜的试样制备是比较简便的。对于块状导电材料，除了大小要适合仪器样品座尺寸外，基本上不需要进

3、行什么制备，用导电胶把试样粘结在样品座上，即可放在扫描电镜中观察。对于块状的非导电或导电性较差的材料，要先进行镀膜处理，在材料表面形成一层导电膜。以避免电荷积累，影响图象质量。并可防止试样的热损伤。3.粉末试样的制备。先将导电胶或双面胶纸粘结在样品座上，再均匀地把粉末样撒在上面，用洗耳球吹去未粘住的粉末，再镀上一层导电膜，即可上电镜观察。TEM样品制备的主要要求：样品厚度小于100nm;不损坏样品微观结构；不危害电镜设备；获得尽量大的可观测薄区。可测样品类型：块状；粉末；薄膜；纤维。1.大块金属样品：切割样品——平面磨——钉薄（注意样品

4、清洁）2.粉末、纤维样品：覆膜网；包埋树脂（选用高强度、高温稳定性的包埋剂，常用的有G-1，G-2，M-Bond600/610，EP812）；软金属包埋（粉末分散在软金属粉末中——压块——轧片——机械研磨——冲剪——离子减薄）