实验一 逻辑门电路逻辑功能的测试

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1、实验一逻辑门电路逻辑功能的测试实验室实验箱编号时间一、实验目的1．熟悉数字逻辑实验箱的结构、基本功能和使用方法。2．掌握常用非门、与非门、或非门、与或非门、异或门的逻辑功能及其测试方法。二、实验器材1．数字逻辑实验箱1台2.万用表1只3．元器件：cc4011两块，cc4030一块，导线若干三、实验说明1.数字逻辑实验箱提供5V0.2V的直流电源供用户使用2.连接导线时，为了便于区别，最好用不同颜色导线区分电源和地线，一般用红色导线接电源，用黑色导线接地。3.注意用电安全，实验中连线时断电操作。四

2、、实验内容和步骤1．测试与非门电路逻辑功能将cc4011正确接入面包板，注意识别1脚位置，按表1-1要求输入高、低电平信号，测出相应的输出逻辑电平。表1.1cc401l逻辑功能测试表1A1B1Y2A2B2Y3A3B3Y4A4B4Y000000000101010110101010111111112.测试cc4030四异或门逻辑功能将cc4030正确接入面板，注意识别1脚位置，按表1-2要求输入信号，测出相应的输出逻辑电平32表1.2cc401l逻辑功能测试表1A1B1Y2A2B2Y3A3B3Y4A

3、4B4Y000000000101010110101010111111113．逻辑电路的逻辑关系用cc4011将图1.1，图1.2自己设计接线，将输入输出逻辑关系分别填入表1．3、表1.4中图1.1图1.2输　入输　出ABYZ00011011表1.3表1.4输　入输　出ABY00011011写出上面两个电路逻辑表达式。五、实验报告要求1.整理实验结果，填入相应表格中，并写出逻辑表达式。2．小结实验心得体会。   32实验二组合逻辑电路的设计与测试实验室实验箱编号时间一、实验目的1．掌握组合逻辑电路

4、的功能测试。2．验证半加器和全加器的逻辑功能。二、实验器材1．数字逻辑实验箱1台2.万用表1只3．元器件：cc4011三块，cc4030一块，导线若干三、实验说明1.注意用电安全，实验中连线时断电操作。2注意按图接线，千万不要将两个门电路的输出端误接在一起。四、实验内容和步骤1.组合逻辑电路功能测试。图2.1（1）用2片cc4011组成半加器图2.1所示电路上连线。为便于接线和检查，在图中要注明芯片编号及各引脚对应的编号。（2）图中A、B、C接电平开关，Yl，Y2接发光管电平显示。（3）按表2.

5、1要求，改变A、B、C的状态填表并写出Yl，Y2逻辑表达式。（4）将运算结果与实验比较，得出判断结论。32表2.1输入输出ABCY1Y20000010111111101001010102.测试用异或门(cc4030)和与非门组成的半加器的逻辑功能。根据半加器的逻辑表达式可知。半加器Y是A、B的异或，而进位Z是A、B相与，故半加器可用一个集成异或门和二个与非门组成如图2.2。（设计画图）(1)．在学习机上用异或门和与门接成以上电路。A、B接电平开关S，Y、Z接电平显示。(2)．按表2．2要求改变A

6、、B状态，填表。图2.2表2.2输入端A0101B0011输出端YZ3．测试全加器的逻辑功能。(1)．写出图2．3电路的逻辑表达式。(2)．根据逻辑表达式列真值表。（见表2.3）32图2.3表2.3AiBiCi-1YZX1X2X3SiCi000010100110001011101111五、实验报告要求1整理实验结果，填入相应表格中，并写出逻辑表达式。2.小结实验心得体会。32实验三译码器和数据选择器实验室实验箱编号时间一、实验目的1.熟悉集成译码器、数据选择器的引脚排列图与功能表。2.了解集成译

7、码器、数据选择器的应用。二、实验器材1．数字逻辑实验箱1台2.万用表1只3．元器件：CC4028B、CC4512、导线若干三、实验说明1.注意CC4512芯片中INH、DIS端的不同控制功能。2.连接导线时，为了便于区别，最好用不同颜色导线区分电源和地线，一般用红色导线接电源，用黑色导线接地。3.注意用电安全，实验中连线时断电操作。四、实验内容和步骤1．译码器逻辑功能测试将cc4028B正确接入面包板，注意识别1脚位置，按表3-1要求输入高、低电平信号，测出相应的输出逻辑电平。表3.1cc402

8、8B逻辑功能测试表DCBAY0Y1Y2Y3Y4Y5Y6Y7Y8Y9000010001100101001110100101011011010111110001100112.测试cc4512三态8通道数据选择器逻辑功能及其应用将cc4512正确接入面包板，注意识别1脚位置。按表3-2要求，在控制端INH、DIS端有效情况下输入高、低电平信号，测出相应的输出逻辑电平。32表3.2cc4512逻辑功能测试表ABCD0D1D2D3D4D5D6D7Y00010000000001010000000100010