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时间:2019-06-17
《实验一:逻辑门电路的逻辑功能及测试》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在教育资源-天天文库。
1、实验一逻辑门电路的逻辑功能及测试一.实验目的1.掌握了解TTL系列、CMOS系列外形及逻辑功能。2.熟悉各种门电路参数的测试方法。3.熟悉集成电路的引脚排列,如何在实验箱上接线,接线时应注意什么。二、实验仪器及材料a)数电实验箱、万用表。b)TTL器件:74LS86二输入端四异或门1片74LS02二输入端四或非门1片74LS00二输入端四与非门1片74ls125三态门1片74ls04反向器材1片三.预习要求和思考题:1.预习要求:1)复习门电路工作原理及相应逻辑表达式。2)常用TTL门电路和CMOS门电路的功能、特点。3)三态门的功能特点。4)熟悉所用集成电路的引线位置及各引线用途。2
2、.思考题1)TTL门电路和CMOS门电路有什么区别?2)用与非门实现其他逻辑功能的方法步骤是什么?四.实验原理1.本实验所用到的集成电路的引脚功能图见附录。2.门电路是最基本的逻辑元件,它能实现最基本的逻辑功能,即其输入与输出之间存在一定的逻辑关系。TTL集成门电路的工作电压为“5V±10%”。本实验中使用的TTL集成门电路是双列直插型的集成电路,其管脚识别方法:将TTL集成门电路正面(印有集成门电路型号标记)正对自己,有缺口或有圆点的一端置向左方,左下方第一管脚即为管脚“1”,按逆时针方向数,依次为1、2、3、4············。如图1—1所示。具体的各个管脚的功能可通过查找
3、相关手册得知,本书实验所使用的器件均已提供其功能。图1—13.图1—2分别为基本门电路各逻辑功能的测试方法。4.图1-3是为了理解TTL逻辑门电路多余端的处理方法。5.图1-4为三态门逻辑功能测试。五.实验内容及步骤选择实验用的集成电路,按自己设计的实验接线图接好连线,特别注意Vcc及GND不能连接错。线连接好后经检查无误方可通电实验。1.TTL门电路及CMOS门电路的功能测试。将CMOS或门CC4071,TTL与非门74LS00、和或非门74LS02分别按图1-2连线:输入端A、B接逻辑开关,输入端Y接发光二极管,改变输入状态的高低电平,观察二极管的亮灭,并将输出状态填入表1-1中:
4、表1-1输入AB输出Y1CD4071输出Y274LS00输出Y374LS0200011011逻辑表达式逻辑功能2.TTL门电路多余输入端的处理方法:将74LS00和74LS02按图示1-3连线后,A输入端分别接地、高电平、悬空、与B端并接,观察当B端输入信号分别为高、低电平时,相应输出端的状态,并填表1-2.3.TTL三态门逻辑功能测试:将TTL三态门74ls125和反相器按图1-4连线,输入端A、B、G分别接逻辑开关,输出端接发光二极管,改变控制端G和输入信号A、B的高低电平,观察输出状态,并填表1-3.表1-2输入输出AB74LS00Y174LS02Y2接地01高电平01悬空01A
5、、B并接01表1-3GABY表达式000110110110五.实验报告1.按各步骤要求填表。2.通过实验分析,说明TTL门电路和CMOS门电路有什么特点,总结他们多多余端的处理方法。3.说明三态门有什么特点。
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