基于ATE的FPGA测试方法.doc

《基于ATE的FPGA测试方法.doc》由会员上传分享，免费在线阅读，更多相关内容在教育资源-天天文库。

1、基于ATE的FPGA测试方法1引言随着集成电路技术的发展，现场可编程门阵列FPGA(FieldProgrammableGateArray)器件的应用越来越广泛，其测试技术也得到了广泛重视和研究。FPGA的测试可分为面向制造的测试过程(MTP)和面向应用的测试过程(ATP)两类。MTP主要是从制造商的角度来测试，测试成本主要体现在测试向量集长度所决定的测试时间的费用上。MTP主要针对可编程逻辑块(CLB)、输入输出单元(10B)、可编程连线(PI)及编程用的SRAM等进行测试。ATP是在应用级上的测试，也就是把FPGA配置为特定

2、的功能进行测试，具有很强的针对性，测试过程相对简单。国内的研究大多集中在MTP，且主要用于自主搭建的测试系统，可移植性差。本研究基于J750测试系统用Xilinx4010为研究对象，使用两种简单的电路，即可完成对LUT、进位逻辑、D触发器的测试，而且修改方便，可移植性好，为FPGA的通用测试提供了一种方法切实可行的有效方法。2可编程逻辑资源测试2．1可编程逻辑资源(CLB)可编程逻辑功能块实现FPGA中的逻辑功能，是FPGA的主要部件，Xilinx4010CLB的基本逻辑结构如图1所示。从图中可以看出，CLB主要是由两个查找表

3、(LUT)，一个进位逻辑，两个D触发器及一些多路选择开关组成。