双源CT后颅窝双能量扫描的图像质量评价.pdf

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1、278MedicalScienceJournalofCentralSouthChina,May2014,Vo1.42,No.3文章编号:2095—1116(2014)03—0278—03·临床医学·双源CT后颅窝双能量扫描的图像质量评价陈凯,李庆。吴晓东,彭昭杰,唐德秋(1.南华大学附属第一医院放射科,湖南衡阳421001;2.湘南学院附属医院放射科)摘要:目的评价双源CT双能模式扫描后颅窝的图像质量。方法收集79例双源CT双能模式头部平扫的数据资料,后处理得到配对的非线性融合图(模拟传统CT扫描)及单能量70ke~图(最佳单能量参数),采用客观评价(图像质量分析)及主观评

2、价(图像伪影分析),研究双能扫描法对比传统CT、对后颅窝图像质量的改变。结果双能CT扫描图三个感兴趣区的客观噪声水平(SD)均低于传统CT(P<0.05),而主观伪影分析双能CT图的评分与传统CT差异无显著性(P>0.05)。结论双能CT扫描能明显提高后颅窝的图像质量。关键词:双源CT;双能扫描;后颅窝;图像质量;硬化伪影中图分类号:R816文献标识码:A常规CT平扫在后颅窝病变检出中占有重要地1.2扫描参数位、有很多其他影像学手段比如磁共振(magnetic采用双球管双能量平扫程序;螺旋扫描,以听毗resonanceimaging,MRI)无法代替的优势,但存在图线为基线

3、,从颅底至颅顶;管电压分别为sn140kv/像质量差、伪影较多等影响诊断的因素⋯。80kv;管电流统一为:160mAs,准直厚度:128排X双源CT由于双能量成像及相应后处理技术的0.6mm、层厚:4mm,旋转速度:0.28s/转,螺距:0.9。使用,可减少或去除颅底x射线伪影,提高后颅窝1.3图像后处理影像质量J,但未见实验研究报导。本文拟探讨双扫描结束后将自动获得的80kvp、140kvp图及源CT双能量成像技术在去除后颅窝伪影及提高后非线性融合图(sn140kvp和80kvp两组原始数据颅窝CT图像质量方面的价值。按以7:3的比例融合,相当于120kvp图像)共三组图

4、像。然后在西门子工作站(syngoMMWPVE40B)1资料与方法中,调出人选患者在双能量扫描(sn140kvp/80kvp)的数据,利用双能单能谱分析(dualenergy1.1一般资料monoenergetic)软件,可自动重建得到单能量70keV按顺序收集2013年9月一2014年2月期间在图像。本院放射科采用双源CT(SIMENSSOMATOMDeft.1.4图像质量分析nitionFlash256rowCT)双能量(snl40kv/80kv)模选取所有患者的非线性融合图及单能量70keV式进行头颅CT平扫的患者资料,并排除下列情况:图,测定每位患者两组图像中脑桥中

5、心层面、同层面①运动伪影显著、有颅内植入物;②临床资料明确头单侧小脑脚以及延髓共3个均为约30mm感兴趣颅手术史、后颅窝病变、颅内占位性病变,③基本资区(regionofinterest,ROI)的CT值及标准差(stand—料不完全患者。共计人选79名患者,男49例,女arddeviation,SD)。图像质量分析采用图像噪声水30例,年龄32~70岁(41±11.5岁);检查原因有平(指标为cT值的标准差,SD)来衡量。头痛查因40例(50.6%)、眩晕16例(20.3%)、发1.5图像伪影分析热查因8例(10.1%)、其它原因15例(19.0%)。所有患者的两组图像资

6、料随机混合编号后,由两名副主任医师(神经影像学方向)共同对后颅窝伪影进行盲法评分,标准如下:1分:严重影像诊收稿日期:2013—12—20作者简介:陈凯,硕士研究生,住院医师,研究方向:神经影像学,E断(后颅窝可见多发条带、片状伪影,后颅窝多数组mail:ck85@163.con,通讯作者唐德秋,本科,主任医师,研究方向:织结构显示不清);2分:影响诊断(后颅窝可见较多影像诊断与介入治疗,E—mail:deqiu.t@163.com.线条状伪影,部分后颅窝组织结构显示不清);3分:中南医学科学杂志2014年5月第42卷第3期279基本不影响诊断(后颅窝可见线条状伪影,各组织

7、者采用GE宝石CT来研究后颅窝影像质量,其研结构基本不受影响);4分:不影响诊断(后颅窝可见究表明,70keV为颅脑CT成像的最佳单能量水平,少许线样伪影);5分:优质图像(后颅窝无伪影)。具有最佳的综合减少后颅窝硬化伪影及背景噪声的1.6统计学处理能力,且不增加放射剂量J。因而在本实验中,分分别记录每例对象的非线性融合图及单能量别采用非线性融合图和70keV单能量图来模拟常70keV图上的3个感兴趣区的CT值及噪声水平规CT和代表双能量CT后颅窝成像的最佳技术(SD表示),采用SPSS19.0软件的配对t检验,比

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