资源描述：
《用于esd分析的传输线脉冲(tlp)测试--元件级》由会员上传分享，免费在线阅读，更多相关内容在行业资料-天天文库。
1、用于ESD分析的传输线脉冲测试（TransmissionLinePulse-TLPMeasurement）元件级2015.01.23版WeiHuang,JerryTichenorWeb:www.esdemc.comEmail:info@esdemc.comTel:(+1)573-202-6411Fax:(+1)877-641-9358Address:4000EnterpriseDrive,Suite103,Rolla,MO,65401目录ESD的定义3ESD的研究意义4ESD防护方法8ESD抗扰度测试10TLP测试简介15ESD抗扰度测试vs.TLP测试(脉冲形状参数)
2、29TLP测试的优点30TLP测试步骤31采购注意事项32TLP标准33TLP测试系统比较34TLP常见问题35参考文献432什么是ESD的定义•静电放电（ElectrostaticDischarge-ESD)是两个物体间的电荷转移。当两个物体直接接触，或ESD相互靠近发生介质击穿时，会产生静电放电。？表1静电产生实例（来源：ESDAssociation)不同相对湿度（RH）生成静电电压实例静电生成方式10%-25%RH65%-90%RH人在地毯上走动35,000V1,500V人在乙烯树脂地板上走动12,000V250V人在工作台上操作6,000V100V从工作台上上拿
3、起普通聚乙烯袋20,000V1,200V从垫有聚氨基甲酸泡沫的工作椅上站起18,000V1,500V注意：例子中的电压值相当高，部分在某些极端情况下可能发生。3我们为何关注ESD的研究意义ESD？来源:2005ESD/EOS会议论文•电路设计的潜在ESD损坏可能导致：•产品质量差•用户不满•维修和返工费用上涨•电击穿，氧化击穿，以及由于元件不能及时散热造成的局部过热，都会造成元件的永久性损坏。4我们为何关注硬件故障–ESD造成的IC损伤ESD？Picture515kV静电电击后的RS-232接口IC5我们为何关注有物理损伤,但功能正常-ESD造成的IC损伤ESD？Pic
4、ture6ESD浪涌造成的过电压。IC仍然能工作，但已经接近彻底损坏。6我们为何关注硬件故障-ESD造成的IC损伤ESD？Picture7电气过应力(ElectrostaticOverStress-EOS)损坏7如何进行ESD防护方法1.受控环境1•减少潜在的电荷积聚ESD•设备和家具接地•清洁房间--控制湿度和颗粒粉尘防护？•这类措施对电子产品终端用户（例如消费电子的用户）无效。Picture8ESD友好的工作环境8如何进行ESD防护方法2.改善系统ESD抗扰度•了解电子系统的工作环境和潜在的ESD风险ESD•仔细考虑系统的ESD防护设计!(请参考SystemLeve
5、lESD-WhitePaper1,2,3-IndustryCouncilonESDTarget防护？Levels,http://esda.org/IndustryCouncil.html)•了解关键元件的ESD敏感度•测试并选择ESD薄弱点的最佳防护方案•测试并进一步改善系统级ESD抗扰度设计师需要掌握不同类型ESD测试的关键数据。TLP测试可以为ESD设计提供很多重要数据！9Graph2Graph1如何进行ESD抗扰度测试•人体模型(HumanBodyModel-HBM)2•带电人体接触受试设备(DUT)ESD•ANSI/ANSI/ESDA/JEDECJS-001-2
6、010抗扰度测试？•对地测试电压4000V,电流<3A(也可用8000V)•皮肤放电(IEC61000-4-2标准是手持金属放电)Picture9对地放电，上升时间(tr)–2to10ns对地放电，衰减时间(td)–130to170ns10如何进行ESD抗扰度测试•机器模型(MachineModel-MM)3(MM模型很少用到)•带电机器对设备放电，在生产过程中可能发生ESD•ESDSTM5.2-2012抗扰度测试？•400V测试电压•对地放电电流<7AGraph3对地放电，脉冲主周期(tpm)–66to90ns11如何进行ESD抗扰度测试•带电器件模型(Charged
7、DeviceModel-CDM)4•带电器件对其他金属部件或对地平面放电，例如集成电路装配时可能发生ESD•ESDS5.3.1-2009•器件由导电平板充电抗扰度测试？•为非接触式放电，例如，当接地物体向带电引脚靠近时，会发生CDM放电•测试电压达2000V•放电电流达30A(验证模块电容为4pF,260ps上升时间)Graph4上升时间(tr)–~200ps,脉冲宽度(50%-50%)(td)-~400psCDM测试装置12如何进行ESD抗扰度测试•IEC61000-4-2标准:2008版5•带电人体持金属对受试系统设备（DUT）放电E
