现代材料科学分析方法.doc

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1、必考题：一、填空1.晶体可分为：3人晶族,7人晶系。2•晶体定义：内部质点三维空间呈周期性重复排列的固体。3.晶体的基本性质：均•性各向异性、対称性、自限性、最小内能性和最大稳定性、4•对称：物休上的相同部分、有规律的重复出现、的性质。5.晶体宏观对称元索及相应操作：（1）・对称中心,对一个定点的反伸。（2）.对称面，对平面的反映。（3）・对称轴，围绕直线旋转基转角uo（4）・倒转角（旋转反伸轴），閘绕一根直线的旋转和对此直线上的一个点反伸的复合操作。6・晶体有47种几何单形,32种对称型,230个空间群。7.晶体屮单

2、位平行六面体的描述包括形状、结点分布、两方面,按形状分有乙种，结点分布有4种，所以综合考虑吋，布拉菲空间格子有14种。&晶体定向的任务包括选择坐标轴、和坐标轴确定、两方面。9.DTA曲线的影响因素：仪器方面、试样、实验条件、（3空的）。升温速率、气氛、参比物、样詁用量、样詁形状及填装、样詁的热历史、（6空的）。10.X射线衍射方法分类：劳厄法、转晶法、粉晶法、二、名词解释1•倒格子：设晶格基矢为3bc,则由下式决定的（竝bc）为基矢的格了是以（8bC）为基矢的正格子的倒格子。2•像差：由于实际的电子透镜并不能完全满足理

3、论要求的条件，因此从物而上一点散射出的电子束，不一定全部会聚在一点，或者物面丄的各点并不按比例成像于同一平面内，结果图像模糊不清，或者与原物的几何形状不完全相似，这种现象称为象差。3.球差：由于电磁透镜磁场的近轴区和远轴区对电子束的会聚能力不同而造成的象差。4•差热分析（DTA）:是在程序温度控制下，测量试样与参比物之间的温度差与温度关系的一种技术。5.特征X射线谱：在X射线谱屮由若干条特定波长的分立谱线构成的能表征元索特征的谱图称为特征X射线谱。6•透射电镜（TEM）:用聚焦电子束作照明源，使用对电子束透明的薄膜试样

4、，以透射电子为成像信号，透射电子的强度分布与观察试样区的形貌、组织、结构一一对应，荧光屏把电子强度转化为人眼可见的光强分布，在荧光屏上显示出与试样形貌、组织、结构相应的图像。7.差示扫描量热分析（DSC）:在程序温度控制下，测量试样与参比物之间的温度差保持为零时，所需要输给试样与参比物的能量差与温度关系的一•种分析技术。8•热重分析（TG）：在程序温度控制下，测量试样的质量变化与温度或吋间关系的一种技术。9•扫描电子显微镜(SEM)是用聚焦电子束在试样表面逐点扫描成像，试样为块状或粉状颗粒，成像信号可以是二次电子，背散

5、射电子或吸收电子，其屮二次电子是最主要的成像信号。10.质厚衬度：对于非晶和多晶的试样，由于试样各部分的密度、厚度、或组成不同因而对入射电子有不同的散射能力，由此形成的图像的明暗衬度称为质厚衬度。11.衍射衬度：是基于晶体薄膜内各部分满足衍射条件的程度不同而形成的衬度,称为衍射衬度。根据衍射原理形成的电子图像称为衍衬象。12.相位衬度：半入射电子波射到极薄试样上后，由于样品各点的散射波与透射波的相位差不同，在象平面上干涉厚合成的波不同，由此形成的衬度，称为相位衬度。13•形貌衬度：由于试样表面形貌差别而形成的衬度。14

6、.原子序数衬度：由于试样表面物质原子序数差别而形成的衬度。15.电压衬度：由于试样表面电位差别形成的衬度。三、问答1•在X射线衍射屮，晶体的无穷多组面网组只有有限的面网组能够发生衍射，而每个面网组只可能产生有限的儿条衍射线，为什么？答：(1)一组晶面貝能在有限的几个方向“反射”X射线。(sin0=nX/2d-*nW2d/入)(2)无穷多组面网组屮，只有有限的面网能够发生衍射。即使对一定波长的X射线而言，晶体屮能产生衍射的而网组数H也是有限的。n=2dsin0/入=(2d/X)*sin0因为：nMl,sinBWl所以2d

7、/X^1,只有这样才能产生衍射。2•为什么说布拉格方程2dsinB二入是X射线衍射的必要条件，而非充分必要条件？答：衍射产生的必要条件“选择反射”即反射定律+布拉格方程是衍射产生的必要条件.即为满足此条件时有可能产生衍射；若不满足此条件，则不可能产生衍射.%1布拉格方程由原子面反射方向上散射线的干涉(一致)加强条件导出，按衍射强度理论可知，对于理想情况(即当晶体无限大吋)，非反射方向散射的干涉加强作用可忽略不计，故“选择反射”是衍射产生的必要条件。%1“选择反射”作为衍射的必要条件，意味着即使满足“选择反射”条件的方向

8、上也不一定有反射线。