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1、SPCX-barRChart教育訓練教材何謂S.P.C？S.P.C即為StatisticalProcessControl(統計制程管理)﹒何謂Q.C.七大手法特性要因圖(CharacteristicDiagram)直方圖(Histogram)柏拉圖(ParatoGraph)管制圖(Q.C.Chart)散布圖(ScatterDiagram)查檢表(CheckSheet)層別法(Stratification)何謂管制圖？是一種以實際產品品質特性與根據過去經驗所判明的製程能力的管制界限比較，而以時間經過用圖形表示者大數定律（1）萬物皆有變化（2）個別事物無法
2、預測(3）在相同情況下的一群事物其趨勢可以預測何謂正確度、精密度？正確度―群體平均值與目標值之接近程度，叫做正確度。精密度―群體數據之分布範圍大小，叫做精密度。正確度、精密度目標值正確度精密度***********優劣****優優*******劣劣***劣優預備數据的調查先搜集某一期間的數据作為預備數据X-R管制圖製作方法步驟1:搜集數据----搜集100個以上的數据,依測定時間順序,或群体順序排列.(1)這些數据是最近的數据,并且在技術上可認為今后的制程不會有多大變化.(2)數据的履歷必須很清楚.如:机器編號,材料編號,作業員,時段.步驟2:數据分組
3、----把2~6個數据做為一組,把全部數据分為20~30組.(1)一組內的數据個數,謂之樣本數,以n表示.(2)組之個數,謂之組數,以k表示.(3)同一組內不要含有異質的數据.通常是以群体順序,或測定時間順序來分組.步驟3:記入數据表----把數据記入如表2.1.1的數据表裡.步驟４:計算平均值Ｘ(4捨5入后,比測定值多求１位數),求各組的平均值Ｘ.Ｘ１+Ｘ２+······+ＸnＸ=(n:為樣本大小)n例如表２.１.１的第１組的平均值為:４８+４９+４８+５０+５１Ｘ==４９.２５步驟５:計算全距Ｒ求每組的全距ＲＲ=Ｘ(最大值)一Ｘ(最小值)例如表２.
4、１.１的第１組的全距.Ｒ=５１一４８=３步驟６:計算總平均Ｘ(4捨5入后測定多求２位數)Ｘ１+Ｘ２+······ＸkＸ=(K:組數)K例如表２.１.１４９.２+５０.２+５０.４+４８.０+······+５０.６+４９.６+５０.４Ｘ==４９.７4２５步驟７:計算全距的平均值ＲＲ１+Ｒ２+······+ＲkＲ=Ｋ例如表２.１.１３+４+７+６+４+······+８+６+３+４Ｒ==４.７２５步驟８:計算管制界限(a)X管制圖中心線CL=X上管制界限UCL=X+A2R下管制界限ＬＣＬ=Ｘ–Ａ２Ｒ(Ａ２為系數,可由表查得)例如表２.１.１因n=5,故查表得
5、Ａ２=０.５７７ＣＬ=Ｘ=４９.７4ＵＣＬ=Ｘ+Ａ２Ｒ=５２.４5ＬＣＬ=Ｘ-Ａ２Ｒ=４７.０3(b)R管制圖中心線ＣＬ=Ｒ上管制界限ＵＣＬ=D4R下管制界限ＬＣＬ=Ｄ３Ｒ(當n<6時,不考慮)(Ｄ４,Ｄ３為系數,可由表查得)例如表２.１.１因n=5故查表得Ｄ４=２.１２,Ｄ３=０ＣＬ=Ｒ=４.７ＵＣＬ=Ｄ４Ｒ=９.９６ＬＣＬ=Ｄ３Ｒ(因n<6,故不考慮)步驟９:記入管制界限一准備管制圖用紙,繪上分度使上下管制界限之間隔能在２０~３０mm左右.Ｘ管制圖時Ｒ管制圖時中心線記入實線中心線Ｒ記入實線ＵＣＬ,ＬＣＬ各別記入虛線ＵＣＬ,ＬＣＬ各別記入虛線步驟１０
6、:檢討制程是否在管制狀態把點全部記入管制圖上,如果點都在管制界限內時,即認為制程是在管制狀態下,如果有超出管制界限外的點時,就判斷制程非管制狀態,必須進一步做制程解析,追查原因,制定標准,採取去除原因的措施使制程完全進入管制狀態,點在管制界限上時,亦視同超出界外的點.END
