X-R控制图培训课件.ppt

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1、X-R控制图培训2011-03统计过程控制的来源和作用统计过程控制(SPC)，主要应用于对过程变量的控制，它的基本控制原理为3σ原则,即平均值±3σ作为过程控制的上下限,它是由Waltear博士在1924年提出。其作用为:1、从数据到图形应用统计技术可以反馈生产或服务过程性质变化的信息。2、帮助我们分析过程变化的原因。3对于超出控制界限的点采取整改行动。4根据样本数据可以对过程性质作出评价。5、评定生产/过程性质变化与原来过程状态进行比较。2016-02SPC应用的好处节约成本使标准趋于准确使过程更加稳定使控制规格更加真实减少检

2、验频度减少问题出现的频度改善和提高客户的满意度可靠地测出实际过程能力改善测量结果的准确度改善产品品质减少出货周期时间统计过程控制的好处一、X-R控制图定义的目的：定义：用于长度、重量、时间、强度、成份等以计量值来管理工程的控制图，利用统计手法，设定控制均值X和极差R的界限，同时利用统计手法判定导致工程质量变异是随机原因，还是异常原因的图表。目的：对公司现场制程的初始能力进行监控，对有规格变异的产品质量特性或过程质量特性值进行动态控制，对配套的各种“零部件”的尺寸进行控制，以判定工程是否处于稳定状态，并依据制定相应的措施纠正异常。

3、X-R控制图示X控制图UCLLCLUCLXR二、X-R控制图操作程序1、X-R控制图编号、规格、参数填写（填写规范如下）（1）控制图编号（2）部门：技术质量责任部门或单位（3）工序：X-R控制图控制的工序（4）操作者：工序操作者（4）质量特性：说明控制何种计量特性，如零件孔径、长度、焊接强度（焊合直径、溶合深度）等。（5）工程规范：产品质量特性值或过程特性值设计或规范公差如长度尺寸20+0.2-0.12011-03（6）样本容量/频率：抽样测量数据的数量/抽样频次，如：5件/每半小时，13次/每日，12次/次日等。（7）产品型号

4、：受控产品的型号如XJ-630挤压机（9）零件名称：受控产品零件的名称（10）测量工具：抽样测量质量或过程特性数据的测量工具，如数显卡尺、卷尺、塞尺等（11）机器编号：受控工序操作的机器编号二、X-R控制图操作程序2011-032、收集数据合理的子组大小、频率和数据在控制时段内，按抽样容量/频率要求，收集产品工序质量或过程特性数据125个或者100个，然后根据抽样时间段连续性，将数据分成25个子组，每个子组由4－5数据组成，每个子组数据是在非常相似的生产条件下生产出来的，并且相互之间不存在着系统的关系，因此，每组之间的变差为普通

5、原因造成的，对于所有的子组的样品应保持恒定。频率：在过程的初期研究中通常是连续进行分组或很短时间间隔进行分组，检查时间间隔内是否有不稳定的因素存在。当证明过程处于稳定时，子组间的时间间隔可以增加。2011-033、建立控制图及记录原始数据1）X－R通常把数据栏位于X图和R图的上方，X图画在R图的上方，X和R的值为纵坐标，按时间先后的子组为横坐标，数据值（极差和均值点）纵向对齐，数据栏应记录读数的均值(X)、极差(R)以及日期／时间或其它识别子组代码的空间2011-034计算每个子组的均值（X）和极差（R）X1＋X2＋．．．．．．

6、＋XnX=—————————————nR=X最大值－X最小值式中：X1、X2．．．．．．Xn为子组内的每个测量值，n为子组样本容量。2011-035选择控制图的刻度X图：纵坐标上的刻度值的最大与最小之差应至少为子组均值X的最大与最小值差的2倍。R图：刻度值应从最低值0开始到最大值之间的差值为初期阶段所遇到最大极差R的2倍。2011-036将均值和极差画到控制图上。1）计算控制限计算平均极差（R）及过程平均值（X）。R=R1＋R2＋．．．．．．＋RkKX=X1＋X2＋．．．．．．＋XkK式中：K为子组数量，R1和X1即为第1个子组

7、的极差和均值，R2和X2为第2个子组的极差和均值，其余类推。2011-03（2）计算控制限2）计算控制限UCLX＝X均值上限LCLX＝X均值下限UCLR＝R极差上限LCLR＝R极差下限N34567D42.572.282.112.001.92D300000.08A21.020.730.580.480.422011-03（3)在控制图上作出平均值和极差控制限的控制线将平均极差(R)和均值X画成水平线，各控制限UCLR、LCLR、UCLX、LXLX画成水平虚线,把线标上记号。(4)控制图描点链将各子组计算出X、R值各作X图和R图的纵坐

8、标值，以子组序号为横坐标值，描出X图和R图中的相应的点，注意，在控制界内的点打记，在控制图界外的作⊙记，并连成点链。2011-03X-R控制图示X控制图UCLLCLUCLXRR控制图7X-R控制图分析（1）分析均值极差图上的数据点A）点在控制界线外；一个或多个