边界扫描技术在某导航雷达控制电路板测试与诊断中的研究运用.pdf

边界扫描技术在某导航雷达控制电路板测试与诊断中的研究运用.pdf

ID:52499258

大小:302.66 KB

页数:4页

时间:2020-03-28

边界扫描技术在某导航雷达控制电路板测试与诊断中的研究运用.pdf_第1页
边界扫描技术在某导航雷达控制电路板测试与诊断中的研究运用.pdf_第2页
边界扫描技术在某导航雷达控制电路板测试与诊断中的研究运用.pdf_第3页
边界扫描技术在某导航雷达控制电路板测试与诊断中的研究运用.pdf_第4页
资源描述:

《边界扫描技术在某导航雷达控制电路板测试与诊断中的研究运用.pdf》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在行业资料-天天文库

1、V01.33No.12舰船电子工程总第234期——』兰—————::一叁!垫星竺!丝垒丝星圣量!竺!垒坚塑!!堡篁!!塑边界扫描技术在某导航雷达控制电路板测试与诊断中的研究运用4柳颖马溧梅张静(海军七O二厂上海200434)摘要针对某导航雷达控制电路板PCB中大量采用集成度很高的芯片.传统的测试方法无法进行测试与诊断的问题;通过对边界扫描技术的研究,运用边界扫描技术解决高集成度、高性能的PCB板的测试与故障诊断;详细阐述了某导航雷达控制电路板的测试诊断策略以及测试诊断的开发流程。关键词边界扫描;jTAG控制接口

2、;扫描链路;互连测试中图分类号TP391DOI:10.3969/j.issnl6729730.2013.12.044Boundary-ScanTestforTestingandDiagnosisofOneControlCircuitBoardEquippedinNavigationRadarLIUYing/vIALimeiZHANGJing(Navy702Factory,Shanghai200434)N;ltttr∞tForthetestinganddiagnosisthePCBofonecontrolcirc

3、uitboardequippedinnavigationradar,whichhasalargenunlberofhighintegrationchips,peoplecan’tresolvethisproblemwithconventionaltestingmethod.ResearchingOilboundary-scantesttechnologyandtestalgorithm,byapplyingboundary-scantechnology,thetestinganddiagnosisthePCBw

4、ithhighintegrationlevelandhighperformancehavebeensolved.Thispaperexpoundsthistestinganddiagnosisstrategyanddevelopmentprocessindetail.K吖Wombboundary-scan,JTAGcontrolinter{ace,scanninglink,interennnectiontesICIassNI盯1b盯TP391l引言随着纳米数量级制造工艺的使用和大规模集成电路的发展,集成电路的集

5、成速度快速增加,同时其封装管壳尺寸变得越来越小,FPGA、DSP器件以及BGA封装器件在最新产品中得到了大量的应用[13。这些改变为电路设计带来了很大的便利,如其功耗的降低、面积的减小等;同时,它也带来了一些困扰。例如。由于功能模块或芯片内部节点变得无法探测,使得电路调试工作存在一定的困难,因为测试过程中无法使用测试探笔,导致大量故障变得很难测试,甚至根本没有物理测试点。由于芯片或器件封装的减小,管脚密度增大,从而大幅度提高了单位PCB电路板上的器件密度,增加了互联测试的难度,降低了芯片互联的可靠性[I]。这类

6、芯片的测试与诊断问题对传统的诊断方法提出了更高的要求,由于传统测试技术面临的测试困难的增多,需要一种新的测试理念和测试技术来解决传统测试方法所无法解决的问题。边界扫描技术应运而生E8]。边界扫描技术作为一种国际标准,提供了一套完整的、标准化的超大规模集成电路测试性设计方法,能克服测试复杂数字电路的技术障碍,利用它可以实现芯片级、板极和系统级的测试。基于边界扫描测试技术的故障诊断突破了传统的管脚接触式检测理论和手段,可以解决其他技术无法完成的超大规模集成电路的测试问题,可以解决新型电子装备中含可编程超大规模集成电

7、路器件(CPLD及FPGA)、微处理器和数字信号处理器(DsP)等器件的电路板的板级测试和系统级测试问题,己日益成为可测试性设计中应用最为广泛的技术之一,并己经形成了一系列的国际标准[7]。本文介绍了边界扫描技术的原理、优点。通过提出某导航雷达控制电路板的测试与诊断问题,运用边界扫描技术,给出了该电路板的测试与诊断解决方法。可以将故障迅速定位到芯片的管脚以及芯片管脚之间的连线上,提高了测试的可靠性和测试效率。2边界扫描技术2.1边界扫描技术简介边界扫描测试技术是联合测试行动组(JTAG)于1987年提出一种新型

8、的电路板可测性设计方法。1988年,IEEE和JTAG组织达成协议,共同开发边界扫描测试架构,并于1990年形成了IEEE1149.1标准,也称为JTAG标准Is]。到目前为止,边界扫描技术已经成为一种比较成熟的技术,*收稿日期:2013年6月5日,修回日期:2013年7月27日作者简介:柳颖,女,工程师,硕士,研究方向:电路板自动测试和故障诊断技术。马溧梅,女,工程师,硕士,研究方向

当前文档最多预览五页,下载文档查看全文

此文档下载收益归作者所有

当前文档最多预览五页,下载文档查看全文
温馨提示:
1. 部分包含数学公式或PPT动画的文件,查看预览时可能会显示错乱或异常,文件下载后无此问题,请放心下载。
2. 本文档由用户上传,版权归属用户,天天文库负责整理代发布。如果您对本文档版权有争议请及时联系客服。
3. 下载前请仔细阅读文档内容,确认文档内容符合您的需求后进行下载,若出现内容与标题不符可向本站投诉处理。
4. 下载文档时可能由于网络波动等原因无法下载或下载错误,付费完成后未能成功下载的用户请联系客服处理。