边界扫描测试技术分析与研究

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1、西安电子科技大学硕士学位论文边界扫描测试技术的分析与研究姓名：杨军申请学位级别：硕士专业：计算机软件与理论指导教师：段振华2011-01摘要近年来，随着电子技术飞速发展，芯片集成度越来越高，封装技术也得到了广泛的应用，使得可供测试的物理引脚越来越少，传统的探针等测试方法远远不能满足现代复杂电路的测试需求。人们认识到，在进行电路设计同时，应该考虑测试问题，需要在电路中设计便于测试的结构，这也就是系统的可测性设计。从上世纪八十年代中期开始，边界扫描测试方法逐渐发展成熟，并在工业上得到了广泛应用，后来形成了IEEEll49．1标准。边界扫描测试是一种可测性设计方法，它只需要5

2、根引脚就能实现数据的传输功能，它不但能测试各种集成电路芯片，也能测试相应的印刷板电路。论文首先论述了系统可测性设计的理念，并简略地介绍了几种常见的可测性设计方法。紧接着，详述了边界扫描测试的结构的各个组成部件，以及测试原理。随后对边界扫描结构进行详细的分析与设计，并进行v耐log建模，随后对一些关键技术进行了分析。最后给出的边界扫描测试基本理论和方法，然后探讨了边界扫描测试的紧凑性问题与完备性问题，研究了测试向量集生成的优化问题，证明了测试向量集的抗误判定理并给出其推论，对现有的True／Cornpl洫ent算法和极小权值算法进行仔细分析，并在现有算法上进行改进。同时，

3、本章还根据自适应完备诊断的思想，在现有的w步和优化C步自适应诊断算法的基础上，提出了新的优化白适应完备诊断算法。可以证明，改进后各算法的紧凑性和完备性指标均有一定的优化。关键词：边界扫描J1溘G可测性’rAP边界扫描测试技术的分析与研究ABSTRACTABSTRACTInrecentyears，w砒l也erapiddevelopmentofele酏ronictechlology，也ecKpsbecomemoreaIldmoreinte孕ated，a11dpaCkagetecllIlologyis诵delyuSed．HoweVer’tllephysicalpinsavai

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6、1troducesomecommondesi印fortestmetllod．T量len，detailmes仃U加ⅡeofmebouIldaryscallteSta11d也eirtestingttleoⅨtllen，proposetheideat11atuseofmeFPGAbo眦da珂sc趾teStmemodstotestinsoftlⅣaretest，aIldisdemonstr{lted，menmodelaIldaIlalysist11egtm叽鹏oftllebouIldar)，一scanuSingVerilog．FiIlally，proposethebasictl

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