基于FT2232H的边界扫描测试控制器的研究与设计.pdf

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1、·信息技术·汪选胜，等·基于FT2232H的边界扫描测试控制器的研究与设计基于FT2232H的边界扫描测试控制器的研究与设计汪选胜，陈真(河海大学能源与电气学院，江苏南京211100)摘要：为满足复杂数字电路故障诊断的测试需求，研究并设计了一种基于FI"2232H的边界扫描测试控制器，完成了系统的硬件设计与软件设计。其中，硬件设计以FT2232H芯片为基础，可以方便快速地实现USB／JTAG双向转换，且USB数据的收发和各种协议转换工作全部由转换器独立完成；测试软件在VC6．0环境下开发，通过面向对象编程及数据库设计，实现了系统的协调运行。该测试控制器能增强测试设备的故障诊断能力，提高

2、电子设备的可测性，具有很高的工程应用价值。关键词：边界扫描；FT2232H；测试；故障诊断中图分类号：TP272文献标志码：B文章编号：1671．5276(2013)01．0093—04ResearchonBoundary．scanTestControllerBasedonFT2232HandItsDesignWANGXuan．sheng．CHENZhen(CollegeofEnergyandElectricity，HohaiUniversity，Nanjing211100，China)Abstract：Inordertosatisfytherequirementofthefaultd

3、iagnosisofcomplicatednumberelectriccircuit，thispaperdesignsthebounda~-scantestcontrolerbasedonFT2232H．ThehardwaresystemisbasedonFT2232H，anditcanachievetwo-wayconvePsionbetweenUSBandJTAGandreceptionandsendingofdataandavarietyofUSBconvemionprotocolaredonebytheconverterindependently．Thesoftwareisde

4、velopedonVC++6．0withobject·odentedprogrammingmethodanddata—base，whichisusedtocompletecoordinatedoper~ionofthesystem．Thediagnosiscapacityandmeasurabilityofthetestequipmentareimproed，SOitisofhighvaluetoengineeringapplication．Keywords：bounda~-scan；FT2232H；test；faultdiagnosis随着大规模的集成电路技术朝着超深亚微米方向发能力

5、，提高电子设备的可测性。展，芯片的内部结构变得日趋复杂。芯片的集成度也已达千兆位，时钟频率正朝着向千兆赫兹以上发展，芯片的引1测试需求分析脚数量也在急剧上升。新型的芯片封装技术如PGA，BGA，SMT，MCM等被大量采用，同时电路板的布线层数边界扫描测试系统的要求是能够根据测试人员提供和密度也大大增加，使得外部可以接触的引脚越来越少，的硬件描述文件(电路板网络表文件和器件边界扫描描特别是如今正日益兴起的片上系统(SOC)，在一块芯片上述文件)产生合适的测试矢量集，将测试矢量加载到被测集成了整个系统，因此也就不能通过外部的物理探针对系电路，完成对被测电路的测试，分析，诊断等功能，进一步统

6、的内部节点进行访问测试；而且，对于高密度的复杂电要求测试系统具有友好的人机交互界面、精确的故障诊断路板而言，采用物理探针可能会对电路板结构和布线造成能力等。其具体需求如下：损坏。可以看出，集成电路实现的功能是越来越强大，其1)边界扫描测试的时钟频率可调。由于边界扫描测内部结构的复杂度也13益增强，但是测试的费用却呈指数试时候，测试矢量是通过TDI串联加载到被测电路的，所递增，测试的开销在电路和系统总开销中所占的比例Et益以测试的速度是测试过程中考虑的重要因素，在这套系统变大。对电路板在线测试的传统方法通常是通过测试探中，测试速度主要取决于测试时钟TCK的频率，但是，很针或针床技术来实现

7、的，它必须用金属探针与PCB电路多被测芯片对最高的TCK频率有限制，所以就要求边界板上的器件和走线产生直接的物理接触。可以看出，用传扫描测试系统的时钟是可调的。统的线路检测设备(ICT)和针床测试需要付出很高的代2)JTAG接口的电平兼容问题。由于测试系统的输价，有时甚至不能解决这些问题』。出电平与被测电路的接1：3电平不一定完全相同，为了使系针对传统测试方法在测试复杂数字电路板过程中所统具有更高的兼容性，需要将边界扫描测试系统的输出电遇到的阻