液晶显示屏背光源模组表面缺陷自动光学检测系统设计.pdf

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1、第28卷第5期传感技术学报Vo1．28No．52015年5月CHINESEJOURNALOFSENSORSANDACTUATORSMav2015DefectInspectionSystemDesignBasedontheAutomatedOpticalInspectionTechniqueforLCDBacklightModulesSHIYanqiong，LURongsheng，ZHANGTengda(1．Electromechanicaldepartment，HuainanUnionUniversity，

2、HuainanAnhui232001，China；2，SchoolofInstrumentScienceandOpto—ElectronicsEngineering，HefeiUniversityofTechnology，Hefei230009。China)Abstract：AnautomatedopticalinspectionmethodandapplicationforthesurfacedefectinspectionofLCDbacklightmoduleispresented．Theimagin

3、gtechniques，inspectionsystemcomposition，mechanicalandelectriccontrolsystemprin—ciple，anddesignmethodsaresystematicallyillustrated．Thereviewinspectionmethodofnon—conformingpartsandrepairstrategyarealsogiven．Thetypica／typesoftheLCDbacldightmoduledefectsandth

4、edefectclassificationcriterionsarelisted．Thewidevarietyofbacklightmodulesurfacedefectsarecategorizedintothreetypes：thepicturedefects，the印一pearanceofdefectsandabnormalitiesdefects．TwoAOIdetectionmethods，lightingmethodandnon—lightingmethod，areintroducedaccor

5、dingtothecausesandtypesofthedefects．TheAOItechniquegivenisexpectedtohaveabeneficialref-erencevaluefortheindustrialdevelopmentofthedefectdetectionsystemforLCDbacklightmodules．Keywords：automatedopticalinspection；LCDbacklightmodule；surfacedefectsEEACC：7120；72

6、10A；7260Fdoi：10．3969／j．issn．1004-1699．2015．05．026液晶显示屏背光源模组表面缺陷自动光学检测系统设计水史艳琼，卢荣胜，张腾达(1．淮南联合大学机电系，安徽淮南232001；2．合肥工业大学仪器科学与光电工程学院，合肥230009)摘要：详细介绍了自动光学检测技术在液晶显示屏背光源模组表面缺陷在线检测中的应用，分析并比较了背光源模组缺陷自动光学在线检测中的成像技术、检测系统的组成、结构原理与设计方法，阐述了检测结果为不良品的返修方法。给出了背光源模组表面缺陷常见缺

7、陷的种类和缺陷分类判断准则，把种类繁多的背光源模组表面缺陷分为画面缺陷、外观缺陷与异常缺陷；根据背光源模组缺陷形成的原因、种类，设计了背光源模组缺陷点灯检测和非点灯检测两种自动光学检测方案，所设计的自动光学检测方案对背光源模组组装产业开发缺陷检测系统具有有益的参考价值。关键词：自动光学检测；背光源模组；表面缺陷中图分类号：TH702文献标识码：A文章编号：1004—1699(2015)05—0768—06TFT．LCD液晶显示屏已广泛应用于电脑、手机质和表面划伤等，这些缺陷的产生将对液晶显示屏等电子产品的文

8、本与图像显示，其中的背光源模组的使用性能带来严重的影响。为了降低生产成本，是液晶显示屏中的关键元件之一，功能在于供应充提高零件制造与部件组装过程中的成品率，生产过足的亮度与分布均匀的光源，使液晶面板能正常显程中需要对背光源模组各光学膜片的微观和宏观缺示影像。背光源类型按光源类型划分主要有EL、陷，进行100％实时在线自动检测。CCFL及LED3种，依光源分布位置不同可分为侧基于自动光学检测技术的表面缺陷检测方光式