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时间:2020-03-25
《非硅MEMS电容式微加速度计的测控电路设计.pdf》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在行业资料-天天文库。
1、90传感器与微系统(TransducerandMicrosystemTechnologies)2012年第31卷第2期非硅MEMS电容式微加速度计的测控电路设计张运奎,崔峰,万镇,刘武,张卫平(上海交通大学微纳科学技术研究院,微米/纳米加工技术国家级重点实验室,上海200240)摘要:为了提高MEMS微加速度计的量程和抗过载能力,设计了基于uV—LIGA技术的非硅MEMS电容式微加速度计。针对该加速度计,设计了基于相敏解调的差分电容测控电路。检测通道主要由前置级电荷积分放大电路、带通滤波电路、相敏解调器、低通滤波以及电平转换电路组成,反馈通道由低通滤波和加法电路组成。完成了微加速
2、度计测控电路的调试和检测通道的标定实验,实验表明:检测通道的量程约为±6pF,灵敏度为89.3mV/pF,线性度为2.59%,满足加速度计检测通道的要求。关键词:微机电系统;微加速度计;差分电容;测控电路;标定中图分类号:V241.4,TP212.1文献标识码:A文章编号:1000-9787(2012)02-0090-03Designofdetectionandcontrolcircuitsforcapacitivemicroaccelerometerbasedonnon.siliconMEMSZHANGYun—kui,CUIFeng,WANZhen,LIUWu,ZHANGWei
3、—ping(NationalKeyLaboratoryofNano/MicroFabricationTechnology,ResearchInstituteofMicroandNanoScienceandTechnology,ShanghaiJiaoTongUniversity,Shanghai200240,China)Abstract:Toimprovetheanti—overloadingcapabilityofMEMSmicroaccelerometer,anewnon—siliconMEMScapacitivemicroaccelerometerbasedonUV—LIG
4、Atechnologyanditsdetectionandcontrolcircuitsofdifferentialcapacitancebasedonphase—sensitivedemodulationisdesigned.Thedetectionchannelmainlyconsistsofchargeintegratedpreamplifier,band—passfilter,phase—sensitivedemodulator,low—passfilterandvoltageconversioncircuits.Thefeedbackchannelconsistsofl
5、ow—passfilterandaddercircuits.Thedebuggingofsystemdetectionandcontrolcircuitsandthecalibrationforthedetectionchannelisfinished.Theresultsshowthattherangeofthedetectionchannelisabout±6pF,thesensitivityis89.3mV/pF,andlinearityis2.59%respectively,whichcanmeettherequirementsofthedetectionchanne1.
6、Keywords:MEMS;microaccelerometer;differentialcapacitance;detectionandcontrolcircuit;calibration0引言分电容,结构简单,却可输出较大信号,灵敏度高,且机械强随着微机电系统(MEMS)的发展,微加速度计在航空度高于前者,可达到很高的量程。针对硅材料脆性大、加工航天、武器装备、汽车、消费电子等方面有着广泛的应用与工艺复杂、支撑梁易于发生高冲击断裂失效(尤其是梳齿需求,尤其在冲击载荷测量、弹药引信等领域,对高过载高结构)等问题,本文给出了一种基于uV—LIGA技术的非硅g(g为重力加速度)值加
7、速度计提出了较高要求:上万至MEMS金属多梁支撑圆盘敏感质量的“三明治”结构电容数十万g量程,且频率范围较宽,工作环境恶劣。其中,式高g微加速度计,对其结构、微位移微弱电容信号检测电容式微加速度计灵敏度和测量精度高、稳定性好、温度漂及其测控电路进行了设计,对高频载波发生、电荷积分放大移小、功耗极低,而且过载保护能力较强;能够利用静电力前置级、相敏解调等各级电路进行详细设计,并通过电容标进行自检,通过实现闭环控制,可显著提高传感器的性能,定实验对微位移检测通道进行了性能评估和验证。
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