SoC测试的领先技术.pdf

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1、2004AdvantestChinaSeminarSoCSoC测试的领先技术测试的领先技术大规模SoC/混合信号测试系统T6600/T65001/28您将要了解什么？2004AdvantestChinaSeminarADVANTESTSoC测试系统的Roadmap芯片的高度集成／多功能化所需要的测试对应ADVANTEST的提案T6600/T6500的特点强大的软件环境2/28ADVANTESTSoC测试系统的Roadmap（1）2004AdvantestChinaSeminarMPU/HighEndASIC高速、高精度2001.７1GHz/500MHz/T6683250MHzT6682

2、1024PinSystemLSIPG/MixedEnhancementLowCostT2000ES500MHz/2001.799.11T2000LS250MHz/2000.9125MHzT2000RFT6671ET6672T66732002.3QT6573T6563T6575T6577T3326/47T6533T6565MCU/LowEndASIC512PinLowCostCompactT65351999200020012002200320043/28ADVANTESTSoC测试系统的Roadmap（2）2004AdvantestChinaSeminar2004200520061Q2Q

3、3Q4Q1Q2Q3Q4Q1Q2Q3Q4QSoCSolutionT2000MixedModuleOtherModulesRFModule6.5GHzModule250MDigitalT6683250MHzNext1024pinT6577小型化T6672/3同测机能改进125MHzRF测试功能对应1024pin・RFOption・125MHz/1024pin・BBWG/DT6575多通道对应・Mixed(VAFG/D)Viewpoint125MHz・SCPG,ALPG,512pinMixed增强IDDQ,HSCLK,,,etcSpecificSolutionLCDDriverT6372/6

4、362TBDT6371/6361HighPin-Count车载芯片T7722T7721TBDImageSensorT8571TBDCCDT6171T8531CMOSTBDCCD/CMOS4/28芯片的高度集成／多功能化所需要的测试对应2004AdvantestChinaSeminar芯片MEMORYT6600/T6500的高度扩充性DRAM・SRAMMaskROMALPGEPROMetcAFMCPUHighspeedTESTPATTERNRISCReloadServerCISCetc16MＷ(64MＷ)(max35MB/S)DFT多功能SCANPATTERNSCAN2G*2bit/１C

5、hainBIST高度集成8G*2bit/１ChainIddqHighSpeedclockoption多管脚IddqoptionI/OSoCPCIP.E.GTLTECHNOLOGYSCSIetcANALOGA/DconverterD/Aconverter小型PLLetcANALOGASSPOPTION高度可靠性MPEG低价格CODECetc5/28ADVANTEST的提案2004AdvantestChinaSeminarT6500系列测试系统■测试成本低、测试功能全（内含AD,DA，存储器等的芯片都可测试）■可根据用户测试需要灵活升级（T6535T6565T6575）T6600系列测试系

6、统从评价到大批量生产，■T6500系列测试系统的上位从LowEnd到HighEnd，兼容测试系统软硬件基本相同6/28T6600/T6500系列产品的特点2004AdvantestChinaSeminarAT-Speed测试最大500MHzDataRate(PTMUX＆PINMUX)提供丰富的测试功能用于测试系统大规模集成电路(SCPG,ALPG,ANALOG等)大容量测试图形的发生SQPG64MW(MAX)SCPG16GW(MAX)ALPG16X,16Y,36D高速度、小振幅路径接口的对应时间设定非常灵活每根针都可被分配有6个TIMINGEDGE、3bit测试向量、最多32组时间设定

7、，可自由组合产生各种波形软硬件的兼容性Viewpoint/Siteseer/程序、测试板兼容高速度的数据存储服务器高度的可靠性排除机械继电器和过去产品系列的兼容性通过HIFIX实现测试板的兼容绝大多数的图形程序的目标程序都兼容高性能的测试用电源最多可配备32台ｘ2A的测试用电源7/28T6600测试系统的特点（1）2004AdvantestChinaSeminar多管脚对应最多1024数字通道×1STN、512数字通道×2STN（另含模拟测试通