基于soc的测试数据压缩技术研究

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1、分娄日IIIIIII㈧lllllllllll[1llllllll!Pr¨lY1437277工学硕士学位论文编号：基于SoC的测试数据压缩技术研究硕士研究生指导教师学科、专业学位论文主审人贾艳红马光胜教授计算机应用技术张汝波教授哈尔滨I程大学2008年1月哈尔滨工程大学硕士学位论文摘要超深亚微米技术的应用使得芯片的集成度大幅提高，集成电路设计正快速地向片上系统SoC(System．On—a．Chip)设计方法转变，．SoC不论在开发周期，还是在系统功能、性能方面，均具有无可比拟的优点。但是随着SoC集成P核数目的增多，功能越来越复杂，SoC的测试数据量、测试功耗也随之急剧增加，其测

2、试访问也变得更加困难，进而也就为SoC的测试带来了更大的挑战。SoC的测试问题已经受到越来越广泛的关注。而测试数据压缩是解决SoC测试问题的一种行之有效的方法，它可以用于减少所需存储的测试数据量。测试时，压缩后的数据经过解码电路被还原为原始的测试向量，施加到被测电路完成测试。对此，本论文围绕SoC测试数据压缩问题展开了研究。详细介绍了SoC测试的相关理论和SoC测试数据压缩技术，对现有的几种典型方法的优缺点进行了分析，总结出了每种方法各自的适用范围，并在此基础上提出了部分改进。本文提出了一种基于无关位预处理的改进FDR码压缩方法。该方法是一种综合性能比较高的编码压缩方法，它对当前

3、在测试数据压缩领域比较优秀的FDR码做了相应的改进。针对FDR码只对0游程进行编码而对测试序列中连续的1压缩率不高的缺点，本文提出了一种对0和1游程同时编码的压缩方案；为达到更高的压缩率和降低测试功耗，文．中提出了一种根据前后数据指定无关位的预处理方法；随后给出了相应的编码算法，并设计了相应的解码器。最后，本文将这种无关位指定方法应用到了状态翻转连续长度码中，并在预处理方面作了相应的改进。为了验证本论文提出方法的正确性和有效性，随后做了实验。从ISCAS．89电路的实验结果来看，该方法达到了预期的结果。关键词：SoC测试；测试数据压缩；压缩／解压缩；预处理；改进FDR码哈尔滨下程

4、大学硕士学位论文AbstractTheapplicationofVeryDeepSub-Micron(VDSM)technologyincreasesthedensityofchipsgreatly．ICdesignisbeingquicklytransformedintoSoC(System-On—a-Chip)design．SoChasincomparableadvantagesnotonlyindevelopingperiod,butalsointhesystemfunctionandperformance．However,、jvimtheincreaseinthenumb

5、erofIPcoresintegrated，anditsfunctionbecomingmorecomplex，testdatavolumeandtestpowerconsumptionforSoCgrowquickly,testaccessisalsomoredifficult．Allthecasespose，morechallengesforSoCtest．TheproblemofSoCtestisdrawingmoreandmoreattention，andtestdatacompressionisafeasiblewaytosolvethisproblem．Itcanbe

6、usedtodecreasetheSoCtestdatavolume．Whiletesting，thecompresseddataCanbedecompressedtotheoriginaltestvectorsbythedecodingcircuit，thentheoriginalvectorsareputintotheCUT(CircuitUnderTest)tofinishthetest．．ThustestdatacompressionofSoCisstudiedinthisdissertation．TherelatedtheoriesofSoCtestandSoCtest

7、datacompressiontechnologyaredescribedindetail．Thentheadvantagesanddisadvantagesofseveralexistingtypicalmethodsareanalysed．Alsotheapplicabilityofeverymethodissummarizedandsomeimprovementsaremadebasedonthem．AnimprovedFDRcodescompressionmethodba