SPC统计制程控制程序.doc

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1、2文件修订履历表规章、制度系统文件文件类别程序文件文件名称统计制程控制程序版次2.0核准审核制作持有单位发行章表单编号：00040002-012文件修订履历表制定、修订记录发布日期发行版次发行页次修订版次修订页次修订内容重点表单编号：00040002-012文件修订履历表表单编号：00040002-012文件修订履历表表单编号：00040002-012文件修订履历表表单编号：00040002-012文件修订履历表表单编号：00040002-01统计制程控制程序表单编号：00040004-01统计制

2、程控制程序1、目的规定有关统计过程控制及过程能力分析的方法。2、使用范围本规定适用于设备能力、初始过程能力和长期过程能力的研究。3、术语3.1变差：也称波动，指同一过程输出个体间的差异。3.2初始过程能力：是过程总变差的总范围（6σs）。3.3过程能力：某一稳定过程固有变差的总范围（6σR/d2）。3.4初始过程能力指数：不考虑过程有无偏移，定义为容差宽度除以过程能力，用以评价生产过程准备情况。3.5过程能力指数：不考虑过程有无偏移，定义为容差宽度除以过程能力，用以评价某一稳定过程的输出同规范要求

3、（顾客要求）的关系。3.6Cmk（设备能力指数）：衡量所使用的设备是否满足零件加工精度的要求的定量化指标。3.7统计过程控制：适用诸如控制图等统计技术来分析过程或其输出，以便采取适当的措施来达到并保持统计控制状态，从而提高过程能力。3.8控制图：用来表示一个过程特性的图像，图上标有根据那个特性收集到的一些统计数据，一条中心线，一条或两条控制限。它能减少Ⅰ类或Ⅱ类错误的净经济损失。它有两个基本的用途：一是用来判定一个过程是否一直受统计控制；二是用来监控过程保持受控状态。控制图可分为计量型和计数型两大

4、类。计量型的过程表现为得到的质量特性为可度量的数值（如直径、长度等），计数型表现为只有两个数值（如合格/不合格，成功/失败…），但他们可以被计数从而用来记录和分析。4、职责4.1新产品试制阶段，由产品质量先期策划小组依据产品/过程特殊特性，制定设备能力、初始过程能力研究计划，并组织实施。4.2批量生产阶段，由技术部技术人员负责制定计划（或依特殊情况），收集数据及计算，并正确评价。4.3若统计过程不受控，相关职能部门应制定过程纠正预防措施并实施。表单编号：00040004-01统计制程控制程序4.4

5、技术部监督并验证过程纠正预防措施的实施。4.5正常生产过程中，确保每半年对关键、重要特性（可收集计量型数据的）进行一次Cpk值研究。当顾客有特殊要求时，执行顾客要求。5、工作内容及控制方法5.1设备能力的测算5.1.1确定所研究的对象分析和加工零件的待测特性及规范公差，测量方法和测量工具。5.1.2样本数：最小样本为50件。5.1.3研究时机：新零件、新设备/模具、公差带压缩、设备大修、设备更新、机器搬迁、长期停产等。5.1.4采集样本的时机在做完测量系统分析并合格后，按规定的样本数连续采集数据并

6、记录。5.1.5计算公式X=∑Xi/nS=∑（Xi-X）2(n-1)Cm=(USL-LSL)/6SCmk=min{(USL-X)/3S，（X-LSL）/3S}S——过程变差的平方根n——采集的样本数Xi——样本的测量值X——样本的平均值USL——公差的上限LSL——公差的下限5.1.6设备能力的评价Cmk≥1.67,设备有满足质量指标的加工能力，可使用于指定生产；Cmk＜1.67，设备能力不足，应对该设备加工的所有零件进行100%检验，并对设备进行检修，检修后重新进行Cmk研究。5.1.7保存设备

7、能力测算表由生产部负责保存，期限长期。表单编号：00040004-01统计制程控制程序5.2过程性能及过程能力研究5.2.1制定“Ppk、Cpk计划”5.2.2绘制分析用控制图（X-R图为例）5.2.2.1收集数据并记录在控制图上，同时与控制图下面记录过程相关事件。5.2.2.2计算每一子组的均值和极差，并记录在控制图上。X=∑Xi/n,R=Xmax-Xminn：子组中样品数量Xi：子组中每一样品测量值Xmax：子组中最大样品测量值Xmin：子组中最小样品测量值5.2.3选定控制图的刻度5.2.4

8、按平均值和极差值在控制图上描出对应点。5.2.5计算极差均值和过程均值X，并按均值在控制图上画出中心线。kX=∑Xi/KR=∑Ri/Kki=1i=1式中：k：子组数Ri：每一个子组的极差Xi：每一个子组的均值5.2.6计算控制限UCLr=D4RLCLr=D3RUCLx=X+A2RLCLx=X-A2R式中A2，D3，D4根据子组容量表查得出5.2.7按计算结果在均值图和极差图中画出控制限。5.2.8分析控制图是否随即分布：a.点：出现超出控制线的点；b.链：产生连续七点上升/下降/在