材料研究方法复习题.doc

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1、、名词解释:1）短波限连续X射线谱的X射线波长从-•最小值向长波方向伸展，该波长最小值称为短波限。P7o2）质最吸收系数指X射线通过并位而积上旳位质量物质后强度的相对衰减量，这样就摆脱了密度的影响，成为反映物质本身对X射线吸收性质的物理最。P12。3）吸收限吸收限是指对一定的吸收体，X射线的波长越短，穿透能力越强，表现为质最吸收系数的下降，但随着波长的降低，质量吸收系数并非呈连续的变化，而是在某些波长位置上突然升高,出现了吸收限。每种物质都有它本身确定的一系列吸收限。P12。4）X射线标识谱当加于X射线管两端的电压增高到与阳极靶材相应的某一特定值t/斤时，在连续谱的某些特定的波长位置

2、上，会出现一系列强度很高、波长范围很窄的线状光谱，它们的波长対一•定材料的阳极靶有严格恒定的数值，此波长可作为阳极靶材的标志或特征，故称为X射线标识谱。P9o5）连续X射线谱线强度随波长连续变化的X射线谱线称连续X射线谱线。P706）相干散射当入射线与原子内受核束缚较紧的电子相遇，光量子不足以使原子电离，但电子可在X射线交变电场作用下发生受迫振动，这样的电子就成为一个电磁波的发射源，向周围辐射与入射X射线波长相同的辐射，因为各电子所散射的射线波长相同，有可能相互干涉，故称相干散射。P14o7）闪烁计数器闪烁计数器利用X射线激发磷光体发射可见荧光，并通过光电管进行测量。P54。8）标准

3、投影图对具有一•定点阵结构的单晶体，选择某一个低指数的重要晶面作为投影面，将各晶面向此面所做的极射赤面投影图称为标准投影图。P99o9）结构因数在X射线衍射工作中可测量到的衍射强度/井/■与结构振幅Fhkl2的平方成正比，结构振幅的平方i^r称为结构因数。P34。10）晶带面（共带面）品带轴我们说这些相交于平行育•线的--组晶面属于同一晶带，称晶带面或共带面，其交线即为晶带轴。P99o11）选择反射镜面可以任意角度反射可见光，但X射线只有在满足布拉格方程的&角上才能发生反射，因此，这种反射亦称选择反射。P27o12）倒易点阵倒易点阵是在晶体点阵的基础上按照一•定的对应关系建立起來的空

4、间几何图形，是晶体点阵的另一种表达形式。P144,13）球差球差即球面像差，是山于电磁透镜的中心区域和边缘区域对电子的折射能力不符合预定的规律HlJ造成的像差。P124。14）衍射衬度这种山于样品中不同位向的晶体的衍射条件（位向）不同而造成的衬度差别叫衍射衬度。P170o15）、结构消光当Fhkl=0吋，即使满足布拉格定律，也没有衍射束产生，因为每个晶胞内原子散射波的合成振幅为零,这叫做结构消光。P149。二、填空题：1.PDF卡片的索引有（字母索引）和（Hanawalt索引）两种。当不知所测样品的化学元素时釆用（Hanawalt索引），当知样品元素时釆用（字母索引）。2.TEM中物

5、镜光阑又称为（衬度光阑），通常被安放在物镜的（后焦面）上。3.在X射线的吸收中，线吸收系数是在X射线传播的方向上单位（厚度物质）上的X射线衰减程度，而质量吸收系数是旳位（质量）物质对X射线的衰减量。4.特征X射线和二次特征X射线的区别是，特征X射线是山（入射电子）激发物质产生的，而二次特征X射线是（入射X射线）激发物质产生的。5.在选择滤波片时，可以选择滤波片的波长入k刚好位于辐射源©和Kp（^

6、法是用（连续）X射线照射（不动的单晶体）样品进行衍射的方法。&结构因子表征了晶胞内（原子种类），（原子数目），（原子位置）对衍射强度的影响。9.在体心立方晶胞中，当晶而指数H+K+L为（偶）数时，该晶而衍射线存在；当H+K+L为（奇）数时，该晶面衍射线不存在。10.在面心立方晶体中，当晶面指数（全为奇数或全为偶数）时，该晶面衍射线存在；当晶面指数（奇偶混杂）时，该品面衍射线不存在。H.衍射仪的衍射花样均來白于与试样表面（平行）的晶面的反射。12.X射线衍射仪中计数器的作用是精确地测定衍射线的（强度）。13.分辨本领是指成像物体上能分辨出来的两个物点间的（最小）距离,不管是光学显微镜述

7、是电子显微镜，分辨本领取决于照明光源的（波长）。14.球差是山于电磁透镜的中心区域和边缘区域対电子的（折射能力）不符合预定的规律造成的。15.色差是山于入射电子（波长）的非单一性造成的。16.透射电镜的一个特点是景深（大），焦长（很长），这是山于（小孔径角）成像的结果。17.TEM的成像系统主要由（物镜），（中间镜）和（投影镜）纽•成，TEM分辨本领的高低主要取决于（物镜）。18.TEM的中间镜是一个长焦距变倍率的透镜，可在（0-20）倍范围调节，当放大倍