轴类零件的测量.ppt

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1、§2—5轴类零件的测量本节主要内容主要介绍：四种轴径测量方法及轴径测量的误差因素分析（原理、测量特点、运用场合、精度、主要测量误差、如何提高测量精度）要求：通过本节学习能实际解决轴类零件的检测问题（测量方法的选择，具体测量）。重点：万工显上测轴径的各种方法轴径测量误差分析任务：轴类零件的测量测量对象和被测量问题1：轴类零件有哪些？（外形、特点、分类、用途）问题2：测轴类零件的什么量？测量单位和标准量长度单位-米高等级线纹尺高等级量块高等级的标准轴光波波长测量方法相对测量光学计、接触式干涉仪立式测长仪，测长机指示表绝对测量万能测长仪、测长机，万工

2、显卡尺、千分尺激光扫描测径仪测量精度（方法精度、影响因素）万工显：Δ=±（3+L/200）um光学计接触式干涉仪：同量块测长仪：Δ=±（1.5+L/100）um测长机：Δ=±（2+L/100）um千分尺：Δ=±5um卡尺：Δ=±20um激光扫描测径仪：（5-15）um一．概述轴类零件尺寸属于外尺寸，凡能测外尺寸的量仪都可使用，具体选择方法、仪器视被测件的精度、工件的特性、批量大小等定。低精度：通用量具，如三大类。高精度：各种光学量仪。典型的测量仪器有立式光学计、超级光学计、立式接触干涉仪、测长机、测长仪等，测量方法同量块检定；测量位置：上、中、

3、下三截面;X、Y两方向;共六个尺寸。百分比较仪千分比较仪双面百分表杠杆百（千）分表数显百（千）分表投影立式光学计精密光学计测　长　机二.测量方法（一）.万能工具显微镜上测量轴径的方法万能工具显微镜的光学系统原理如图2-10。图2-10万能工具显微镜的光学系统这两光拦的作用是什么？通常有三组物镜目镜有多组，此为测角目镜依瞄准方式不同，有不同的测量方法。显微镜光学系统1．影象法是最常用的非接触测量方法，利用仪器目镜分划板上的刻线对工件影象进行瞄准，读出相应读数，既可以测得内、外尺寸。Y1Y2d=

4、Y1-Y2

5、（1）测量过程：调光圈(影响及对象）、调

6、视度、调焦、瞄准，测量。最佳光圈：实际光源非点光源，使成象光束不平行，将对曲面轮廓的测量带来误差。须按被测工件的曲率半径调整光圈，以减小成象误差。最佳光圈的大小可在仪器说明书中查得或通过实验近似公式计算求得。（2）误差因素及减少方法：瞄准——半宽压线、由工件外向内调焦——注意方法步骤，用焦距规误差为负偏差读数——尽量在中间阿贝误差——尽量串联，若并联尽量靠近标尺。温度——定温（3）影象法测量的特点：简单、方便、能保证一定的精度，应用广泛2．测量刀法（１）原理：用直刃测量刀接触测量轴径，在测量刀上距刃口0.3mm处有一条平行于刃口的细刻线，在工具

7、显微镜上测量时，用这条细刻线与测角目镜中米字中心线平行的第一条虚线对线瞄准读数。0.3（２）目的：提高测量精度。较之半宽压线瞄准，瞄准精度提高一倍。无光圈影响（３）测量时的注意点：测量时必须用3倍物镜，测角目镜；正确对刀（采用该种方法测量关键的一步）测量刀的磨损应修正。由于此法操作麻烦，一般很少采用。3．干涉测量法目的：提高瞄准精度(瞄准精度和测量刀法同)，无光圈影响，减低对工件表面质量要求。实现方法：微小孔照明干涉法、斜照明干涉法。（1）微小孔照明干涉法就是利用干涉条纹来对被测件进行瞄准和测量的（图2-13）。干涉条纹的产生是罗埃镜干涉原理。

8、第一条干涉条纹和轮廓的距离b与被测工件曲率半径有关，需事先通过实验得出b—R对照表，供测量时采用。从而影响了该法的推广应用。微小照明孔径光圈如图2-14所示。用该方法，b值是一个定值，能有效解决方法(1)的不足，用于相对测量，较为实用。（2）斜照明干涉法干涉原理如图2-15所示。光束以角入射，其值为：tan=a/fb值为：b=λ/2sin式中—光源波长为了使轴径测量时，相对边均能接受斜照明，利用上述原理设计的实用方案为双光束斜照明装置(如图2-16)。（二）卧式（万能）测长仪测外尺寸卧式测长仪是按照阿贝原则设计制造的，读数装置原理和立式

9、测长仪相同，但卧式测长仪可测内、外尺寸，不仅对光滑孔、轴，甚至内、外螺纹均能测量，所以又名万能测长仪。1．主要技术参数2．仪器结构底座：仪器基础，上有导轨，用于安装测量座（阿贝头）、尾架。测量座：测量轴1（内装分度值为1mm，长100mm的玻璃刻度尺）；测微读数显微镜，分度值为1um；重锤悬挂机构：产生内、外测力；测量杆：可装不同测帽；微动装置、照明装置等。尾座：尾架、尾管（有微动手轮和可装不同形状的测头的测杆）。万能工作台：有5个自由度的运动，既升降、横向、纵向的运动，绕垂直轴的转动和绕其横轴的摆动。3．主要误差因素4．测量时的注意点：测量力

10、方向调整（内外尺寸不同）；测头的选择与调整（点接触、找转折点）；工件的定位调整（稳定可靠、阿贝原则）。（三）、V形块上测轴径设备：V形铁、测微表方法：