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1、八位数模转换器的半自动/测试’张宝元曹光明李金健,:,摘要阐述一种采用自动榆入个数码被测DAC和基准DAC相比36较、、且自动控制PZSLY4打印机将误差电压打印在纸带上的低成本快速的八。,。位DAC的刚试方法通过测试实践证明此方法及系统合理可靠大,,、线性误差数据但由于视觉误差往往一问题的提出。读数不准D/A转换器的线性误差和微分误差的测试,因为O1共习上要求在到等刻度的全范习人C,,围内i生行考查对八位来讲需要测试并乙5日。。处理256个点的数据这是相当麻烦的有一种动态测试方法是在。到1等刻一月5务J城气、广勺l卜J匕,计卜被刀八叫〔度全范围内进行扫描在终端用示波器或
2、O峰值检波器指示误差电压川(如图1所,刁曰`二已。示)这种方法可给出线性误差的分布及最图1259码测试原理图.,。.尹、ZL八oOn闷夕沪、几.,Teehnol16(2)618(1977)上目,、尾形仁士等l」本学振会141委员会1,,。`、..产尹、`é几,njù性J2夕1ttberg,…,,6回研究P20「160、TNWiIbid15第会资料昭不年...,。InoroHornei,…,ap(2)348(1978)iliJJAppl...,,,,,oRWSpringer…Ibid15Phys1563(1976)、L`、,。沪I八几J0口U`、夕」飞l一:。(2)210(
3、1978)r通叮AMP10才一之了,才夕夕一`子、”。、产、L`qnúó户lJ尹l.,.,·,.沪lU!11Snger夕日本电子株式会社i…]bid15(2)。....725(1978)WHeisenberger,…,IVa(W..,.,ossnage,…,Seeeno,:5MRlIbid16iThl12(6)1365(1975).`沪卫j,。沪、产夕lse.,(2)568(1979)lùnjdó0UR!TIshida,…,lbid,13(3)711户、、..尹、厂lIJ尸夕沈i,,,,`的台n自7O.MTMartin…Ibid16(2)(。1976)。,日本学振会141
4、委员会474(1978)井上知泰等.,,,,,,。KPloog…lbid15(2)255第7回研究会资料P57昭和51年产ó.廿、1、夕se..,..。口朽d9ùUQJJPHHoolloway,ae(1978)…JVr廿、、.,IL...,`t.r`勺on八0Ué、Zouston,…,,,Seeeno,JEHIbid13(1)iThl12(6)1418(1盯5)。,,,361(1976)CharlesAEvansJrIbid12..,,ura.`,…((JMMORABIT()Sf(1)144(1975).,,。eSi33422(1972)用计算机进行全自,吞川匕测试是快而
5、好故高四位采用循环码的办、法,但成本极高。3。考虑高四位对低四位的影响及测那么,,量,,有没有一种测试点少且数据微分误差在高四位码循环的同时低。可信的方法呢?四位同时由“O”到“1”交替变化有一种采用36个输入数码的测试方。:表I采用8码的测试数码法对这种方法的原理分析如下设:D/A转换器的理想传递函数为数码n。i`二·六。一00000000AR、{D’一共”(1)2丫11111111:实际D/A转换器的传递函数为。。1_00000001·六·’’咨·、一“刀一卜`十`夕1“几六斗斗00000010(2)00000100。;`为各位的误差式中么,一。00001000为各位
6、间的干扰引起的误。差00010000、:(1)(2)两式相减得总误差00100000吕`:=。,:8士`卜习01000000,:若各位间无干扰则10000000:,〔二乞〔再“0”“1”,考虑在全和全校正。`二O,则1+刃。卜}一万。。这样就需要测试36个数码点(如表亚)当l36个数码的误差电压中最大的可认为非常(3)。3),D/A转换器具有逼近DAC的最大线性误差同理可得出由(式知若。,即,微分误差误差对称特性位间干扰小的情况下,测试8个移位码就可以算出最大线性误实际上使用者并不关心误差是否对,差,称(即位间干扰的大小)而是关心误差并根据如下公式计算微分误差(如表。,:
7、是多少而且在制作中由于工艺的分散I),。吕性DAC产品并不都具有好的对称特性;=。、一`、,。……乞那么,对于位间干扰不能忽略的情况:a,.〔刀吕=〔下(大于1/IOLSB)需要测试36个点对八`:、〔2,〔。,,其中……`为误差电压为微位DAC来讲手动开关置位测一支管子。。分误差要手动开关36xs=28次而且由于测试一,。,`,。,,若存在自就变得复杂了但可时间较长被测管除需要预热之外中间还。。“”作如下考虑而得予简化需在O及满等刻度校准儿次这种方1.,。低四位因位电流小相互间的干法对小批量及大批量生产是不能适应的,故低四位
