第2章 FPGA与CPLD的结构原理.ppt

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1、第2章FPGA与CPLD的结构原理2.1PLD概述2.1PLD概述2.1.1PLD的发展历程2.1.2PLD分类2.2简单PLD结构原理2.2.1逻辑元件符号表示2.2简单PLD结构原理2.2.1逻辑元件符号表示2.2简单PLD结构原理2.2.1逻辑元件符号表示2.2简单PLD结构原理2.2.2PROM结构原理2.2简单PLD结构原理2.2.2PROM结构原理（2-1）（2-2）2.2简单PLD结构原理2.2.2PROM结构原理2.2简单PLD结构原理2.2.2PROM结构原理2.2简单PLD结构原理2.2.3PLA结构原理2.2简单

2、PLD结构原理2.2.3PLA结构原理2.2简单PLD结构原理2.2.4PAL结构原理2.2简单PLD结构原理2.2.4PAL结构原理2.2.5GAL结构原理2.2简单PLD结构原理2.2.5GAL结构原理（1）寄存器模式2.2简单PLD结构原理2.2.5GAL结构原理（2）复合模式2.2简单PLD结构原理2.2.5GAL结构原理（3）简单模式2.3CPLD的结构原理2.3CPLD的结构原理1.逻辑阵列块LAB2.3CPLD的结构原理2.宏单元（1）全局时钟信号。（2）全局时钟信号由高电平有效的时钟信号使能。（3）用乘积项实现一个阵列

3、时钟。2.3CPLD的结构原理3.扩展乘积项2.3CPLD的结构原理4.可编程连线阵列PIA2.3CPLD的结构原理5.I/O控制块2.4FPGA的结构原理2.4.1查找表逻辑结构2.4FPGA的结构原理2.4.2CycloneIII系列器件的结构原理2.4FPGA的结构原理2.4.2CycloneIII系列器件的结构原理2.4FPGA的结构原理2.4.2CycloneIII系列器件的结构原理2.4FPGA的结构原理2.4.2CycloneIII系列器件的结构原理2.4FPGA的结构原理2.4.2CycloneIII系列器件的结构原理

4、2.4FPGA的结构原理2.4.2CycloneIII系列器件的结构原理2.4FPGA的结构原理2.4.2CycloneIII系列器件的结构原理2.4FPGA的结构原理2.4.2CycloneIII系列器件的结构原理2.4FPGA的结构原理2.4.2CycloneIII系列器件的结构原理2.5硬件测试2.5.1内部逻辑测试2.5.2JTAG边界扫描2.5硬件测试2.5.2JTAG边界扫描2.5硬件测试2.5.2JTAG边界扫描2.5硬件测试2.5.2JTAG边界扫描2.5硬件测试2.5.2JTAG边界扫描2.5硬件测试2.5.2JTA

5、G边界扫描2.5.3嵌入式逻辑分析仪2.6大规模PLD产品概述2.6.1Lattice公司的PLD器件1.ispLSI系列器件2.MACHXO系列3.MACH4000系列4.LatticeSCFPGA系列5.LatticeECP3FPGA系列2.6大规模PLD产品概述2.6.2Xilinx公司的PLD器件1.Virtex-6系列FPGA2.Spartan-6器件系列3.XC9500/XC9500XL系列CPLD4.XilinxSpartan-3A系列器件5.Xilinx的IP核2.6大规模PLD产品概述2.6.3Altera公司的PL

6、D器件1.Stratix4/5系列FPGA2.Cyclone4系列FPGA3.Cyclone系列FPGA（低成本FPGA）4.CycloneII系列FPGA5.CycloneIII系列FPGA6.MAX系列CPLD7.MAXII系列器件8.Altera宏功能块及IP核2.6大规模PLD产品概述2.6.4Actel公司的PLD器件2.6.5Altera的FPGA配置方式2.7CPLD/FPGA的编程与配置（1）基于电可擦除存储单元的EEPROM或Flash技术。（2）基于SRAM查找表的编程单元。（3）基于一次性可编程反熔丝编程单元。2

7、.7CPLD/FPGA的编程与配置2.7.1CPLD在系统编程2.7CPLD/FPGA的编程与配置2.7.1CPLD在系统编程2.7CPLD/FPGA的编程与配置2.7.2FPGA配置方式2.7CPLD/FPGA的编程与配置2.7.3FPGA专用配置器件2.7CPLD/FPGA的编程与配置2.7.4使用单片机配置FPGA2.7CPLD/FPGA的编程与配置2.7.4使用单片机配置FPGA2.7CPLD/FPGA的编程与配置2.7.5使用CPLD配置FPGA