材料分析方法重点总结

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1、1.透射电镜中有哪些主要光阑？分别安装在什么位置？其作用如何？答：主要有三种光阑：①聚光镜光阑。在双聚光镜系统屮,该光阑装在第二聚光镜下方。作用:限制照明孔径角。②物镜光阑。安装在物镜后焦面。作用：提高像衬度；减小孔径角从而减像差；进行暗场成像。③选区光阑:放在物镜的像平面位置。作用：对样品进行微区衍射分析。2.决定X射线强度的关系式是试说明式中各参数的物理意义？3.比较物相定量分析的外标法、内标法、K值法、宜接比较法和全谱拟合法的优缺点？答：外标法就是待测物相的纯物质作为标样以不同的质量比例另外进行标定，并作曲线图。外标法适合

2、于特定两相混合物的定量分析，尤其是同质多相（同索异构体）混合物的定量分析。内标法是在待测试样中掺入一定量试样中没有的纯物质作为标准进行定量分析，其目的是为了消除基体效应。内标法最大的特点是通过加入内标来消除基体效应的影响，它的原理简单，容易理解。但它也是要作标准曲线，在实践起来有一定的困难。K值法是内标法延伸。K值法同样要在样品中加入标准物质作为内标，人们经常也称之为清洗剂。K值法不作标准曲线，而是选用刚玉AIO作为标准物质，直接比较法通过将待测相与试样中存在的另一个相的衍射峰进行对比，求得其含量的。直接法好处在于它不要纯物质作

3、标准曲线，也不要标准物质，它适合于金属样品的定量测量。4磁透镜的像差是怎样产生的？如何来消除和减少像差？像羌分为球差，像散，色差.球差是磁透镜中心区和边沿区对电了的折射能力不同引起的.增大透镜的激磁电流可减小球差.像散是由丁•电磁透镜的周向磁场不非旋转对称引起的.可以通过引入一强度和方位都可以调节的矫正磁场来进行补偿.色差是电子波的波长或能量发生一定幅度的改变而造成的•稳定加速电压和透镜电流口J减小色差5别从原理、衍射特:点及应用方面比较X射线衍射和透射电镜中的电了衍射在材料结构分析中的异同点。原理:X射线照射晶体，电子受迫振动

4、产生相干散射；同一原子内各电子散射波相互干涉形成原子散射波；晶体内原子呈周期排列，因而各原子散射波间也存在固定的位相关系而产生干涉作用，在某些方向上发生相长干涉，即形成衍射。特点："电了波的波长比X射线短得多2）电子衍射产生斑点大致分布在一个二维倒易截而内3）电子衍射中略偏离布拉格条件的电子束也能发生衍射4）电子衍射束的强度较大，拍摄衍射尼样吋间短。应用：硬X射线适用于金属部件的无损探伤及金属物相分析，软X射线可用于非金屈的分析。透射电镜主耍用丁-形貌分析和电了衍射分析（确定微区的品体结构或品体学性质）6子束入射固体样品表面会激

5、发哪些信号？它们有哪些特点和用途？答：圭要有六种：1）背散射电子:能量高；來自样品表面几百nm深度范围；其产额随原子序数增大而增多•用作形貌分析、成分分析以及结构分析。2）二次电子:能量较低;来自表层5-10nm深度范围;对样品表而化状态十分敏感。不能进行成分分析•主要用于分析样品表面形貌。3）吸收电子:其衬度恰好和SE或BE信号调制图像衬度相反;与背散射电子的衬度互补。吸收电了能产生原了序数衬度，即可用來进行定性的微区成分分析.4）透射电子:透射电子信号由微区的厚度、成分和品体结构决定•可进行微区成分分析。5）特征X射线:用特

6、征值进行成分分析，来自样品较深的区域6）俄歇电子:各元索的俄歇电子能量值很低；來自样品表面l—2nm范围。它适合做表面析。由于样品中，不同位向的晶粒，因其衍射条件不同，造成称度差别形成图像反差，这就是衍射成像原理。明场像：通过衍射成像原理成像时，让透射束通过物镜光阑而把衍射束挡掉形成的图像称为明场像。暗场像：通过衍射成像原理成像时,让衍射束通过物镜光阑而把透射束挡掉形成的图像称为喑场像。中心喑场像：通过衍射成像原理成像时，让入射束倾斜一定角度，使得衍射束平行于透镜屮心轴,此时若物镜在光轴位置则会让衍射束通过物镜光阑而把透射束挡掉

7、。这样形成的像称为中心暗场像。扫描电镜的成像原理与透射电镜有何不同？透射电镜：质厚成像原理和衍衬成像原理，是通过电磁透镜放大成像的。2.扫描电镜：细聚焦电子束扫描样品时激发出各种物理信号，将这些信号调制成像。二次电子像和背散射电子像在显示表面形貌衬度吋有何相同于不同？1、二次电子像是在入射电子束作用下被轰击出来并离开样品表面的样品的核外电了。二次电了成像的特点是二次电了的能量较低；二次电了一般都是在表层5-10nm深度范围内发射出来的，对样品的表而形貌十分敏感，能非常冇效地显示样品的表面形貌二次电子的产额和原子束之间没有明显的依

8、赖关系，所以不能用它来进行成分分析/2、背散射电子形貌衬度特点是分辨率比二次电子低，图像上显示出很强的衬度，图像层次感差，背散射电子像是表面形貌衬度和原子序数衬度的叠加。1、背散射电子：来自样品表层儿百纳米的深度范围。形聚分析，成分分析。2、二次电子:在表层5—