材料分析方法重点

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1、X射线基本知识:1.产生条件：3点2.射线管构造：阳极靶阴极灯丝聚光管3.X射线的本质：电磁波，波粒二象性两个式子4.X射线谱：1）连续X：影响因素：管电压，管电流，阳极原子序数矩波限的解释2）特征X：产生原因；莫塞来定理；KaKP意义5.相互作用1）散射相干散射：概念非相干散射：概念，为什么不相干2）透射与吸收：线吸收系数，意义质量吸收系数，意义，与波氏、原子序数的关系吸收限，吸收谱3）光电效应：对吸收限的解释荧光X射线概念4）俄歇效应X射线衍射方向：1.劳埃方程的缺点：繁琐2.布拉格方程：推导是必要条件，不是充分条件，因为述有系统消光讨论e,入，d：xx—定，另两个的变化，说明什么

2、问题3.x射线衍射法：3种，注意区别：单晶/多晶，e变/不变，入变/不变4.倒易空间：倒易矢量方向和长度会画倒易点阵：Fcc/Bcc注意消光5.爱乩尔徳球X射线衍射强度1.知道有儿个因子，都叫什么，与什么有关2.基本思路：一个电子散射（极化因子）T一个原子（原子散射因子）T一个品胞（结构因子）3.多重性因子：｛100｝等同晶面有多少种？四方晶系的多重性因子4.角因素：包括极化因子和洛伦兹因素洛伦兹I大I素：衍射的积分强度（半鬲宽，最鬲峰）参加衍射的晶粒数忖单位弧长的衍射强度1.吸收因子2.温度因子圆柱试样（徳拜法）的5.6因了抵消重点掌握结构因子，多重性因子和角因子的物理意义，什么叫温

3、度因子、吸收因子德拜谢乐照相法1.底片安装方法：3利J偏装法最好2.选材阳极靶：要求不激发二次X射线TZ阳WZ样+1滤波片：要求滤过除KU的x射线（吸收限与特征X射线波长关系）TZ样<40,Z阳二Z样J；Z样>40,Z阳二Z样-2管电压：3-5倍K系临界激发电压T特征谱线与连续谱线比值最大曝光时间3.误差来源与修正试样吸收误差底片收缩误差4.立方晶系德拜像的标定过程XRD构造1.测角仪：光源与计数管保持角度1:2联动2.狭缝冇哪些，作用是什么X射线物相分析1.定性分析为什么能够实现定性分析？两点1•每种结品物质都有其特定的结构参数。每种物质的多晶体衍射线条数冃、位置以及强度是该种物质的

4、特征，因而可以成为鉴别物相的标志。2.多相物质的衍射花样互不干扰，相互独立，只是机械地叠加。索引：两种方法：数字，字母分析过程：谱->20->sin0->sin（）平方->sin0平方比值->确定结构（sc,bcc,fee注意前两者的区分:第一峰是最强锋则为bcc,第二峰为最强锋则为sc）sin0~>d,hkl->a2.定量分析：4种方法：外标，内标，参比，直接对•比3.点阵参数的测定：3种方法：图解外推，最小二乘（最准），标样对比宏观应力测定1.三种宏观应力,是什么,如何影响X谱线2.宏观应力测定的原理和过程电子显微学1.像差：3种，成因，球差不能被消除2.分辨率：2方面决定，与孔径

5、半角关系衍射效应球差3.景深和焦长概念TEM1.结构：3部分其屮电了光学系统，3部分（从上到下位置）3种电磁透镜，各自作用2.样品台、电子枪、消像散器、偏转线圈3.3种光阑：位置、作用（聚光镜光阑3个作用，物镜光阑3个作用，选取光阑一个作用）4.点分辨率，晶格分辨率，放大倍数电子衍射1.电子衍射和X射线衍射的区别：4点2.倒易点阵扩展：2/t3.基木公式：rd=XL=K4.选区电子衍射步骤：3步5.衍射图样标定：测RTR平方TR平方相除9确定结构T{hkl}T任意hkl注意B洽9求晶带轴测RTd+hkITa衍射衬度成像1.质厚衬度：与厚度t和原子序数Z有关2.衍射衬度概念3.薄膜样品制

6、样过程：3步4.明场暗场中心暗场成像操作5.消光距离概念6.衍射运动学两个基木假设两个途径两个近似方法等厚条纹，随t改变；等倾条纹，随s改变7.应变场衬度（位错）SEM1.电子打物体的几种作用产生的信号，产生原因，强度取决于，应用5种电了：背散射（分辨率小于二次），二次（不能用于成分分析），吸收，透射，俄歇特征X2.SEM结构：3部分其中电子光学系统：3部分其屮电磁透镜作用不是放大成像，而是聚焦3.分辨率的影响因素3个，测量方法4.放人倍数5.二次电了成像原理：形貌背散射电子成像原理：形貌与成分，A+B/A_B吸收电子成像原理：与背散射相反EPMA1.波谱仪与能谱仪的优缺点（波谱仪分辨

7、率更高）x射线衍射谱标定，和，电子衍射花样标定，必考