考题 材料分析

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1、班级：姓名：学号：题号一二三四总分评分得分评卷人一、判断对错（具体要求:每小题2分，共10分）1.透射电镜的分辨率由物镜决定，而扫描电镜的分辨率由所收集信号的分辨率决定。（）2.当干涉指数为任意整数时，干涉面都代表了一族真实的晶面。（）3.X射线衍射具有“选择反射”特性。即只有当λ、θ、d三者之间满足布拉格方程时才能发生反射，而可见光可以在任何入射角反射。（）4.衡量一个原子对入射X射线的散射采用原子散射因子，而衡量一个结构对入射X射线的散射采用结构因子。（）5.单晶体电子衍射花样由排列得十分整齐的许多

2、斑点组成；多晶体电子衍射花样是一系列不同半径的同心圆环；非晶体电子衍射花样是一个漫散的中心斑点。（）得分评卷人二、填空题（具体要求：每小题1分，共30分）1、爱因斯坦称赞劳厄的实验为“物理学最美的实验”，该实验肯定了_____________________________；证实了_______________________；_____________________在同一数量级。2、X射线的本质为电磁波，具有波粒二相性--既具有《材料现代分析方法C》试卷第9页共6页_____________，又具有

3、_____________。3、_________是描述X射线性质的物理量；而_________则是描述X射线数量的物理量。4、产生特征X射线的最低管电压为_____________，而产生荧光X射线所需要的最长X射线波长为_____________。5、据入射的X射线波是否有能量损失，散射分为_____________和_____________。6、X射线在晶体中的衍射现象，实质上是________________________的结果；而X射线衍射理论所要解决的中心问题则是在衍射现象与晶体结构之间

4、建立起_____________的关系。7、布拉格方程既可用于____________________的分析，又可用于____________________分析。8、采用德拜相机照相时，底片的安装常采用_____________法，因为它可以消除因底片收缩、相机半径不准等而产生的误差。9、材料或物质的组成包括两部分，一是____________________；二是________________________________________。10、X射线物相分析是以________________

5、____为基础，通过比较______________________________来进行分析。11、电磁透镜的分辨率由_____________决定，而像散则可用_____________进行补偿，减小色差则通过_____________实现。12、透射电子显微镜一般都采用双聚光镜系统，其第一聚光镜是_____________，将电子枪第一交叉点束斑缩小为φ1μm～5μm；第二聚光镜是_____________，适焦时放大倍数为2倍左右。13、电子衍射的原理和X射线衍射相似，是以满足（或基本满足）__

6、___________作为产生衍射的必要条件。《材料现代分析方法C》试卷第9页共6页14、二次电子对试样表面状态非常敏感，能非常有效地显示试样表面的微观形貌，可用于样品表面的___________分析。二次电子的产额和原子序数间没有明显的依赖关系，不能进行___________分析。15、用来测定X射线特征波长的谱仪叫做_____________谱仪，用来测定X射线特征能量的谱仪叫做_____________谱仪。得分评卷人一、简答题（具体要求：本题共6道小题，共40分）1、讨论下列各组概念中二者之间的

7、关系？⑴同一物质的发射谱和吸收谱；⑵X射线管靶材的发射谱和与其配用的滤波片的吸收谱。（6分）(1）同一物质的吸收谱和发射谱；答：λk吸收〈λkβ发射〈λkα发射(2）X射线管靶材的发射谱与其配用的滤波片的吸收谱。答：λkβ发射（靶）〈λk吸收(滤波片)〈λkα发射（靶）。任何材料对X射线的吸收都有一个Kα线和Kβ线。如Ni的吸收限为0.14869nm。也就是说它对0.14869nm波长及稍短波长的X射线有强烈的吸收。而对比0.14869稍长的X射线吸收很小。Cu靶X射线:Kα=0.15418nmKβ=0

8、.13922nm。(3）X射线管靶材的发射谱与被照射试样的吸收谱。答：Z靶≤Z样品+1或Z靶>>Z样品X射线管靶材的发射谱稍大于被照射试样的吸收谱，或X射线管靶材的发射谱大大小于被照射试样的吸收谱。在进行衍射分析时，总希望试样对X射线应尽可能少被吸收，获得高的衍射强度和低的背底。答案之二1）同一物质的吸收谱和发射谱；答：当构成物质的分子或原子受到激发而发光，产生的光谱称为发射光谱，发射光谱的谱线与组成物质的元素及其外围电子的结构有关。吸收光