考题材料分析

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1、考题材料分析班级：姓名：学号：一、判断对错（具体要求：每小题2分，共10分）1•透射电镜的分辨率由物镜决定，而扫描电镜的分辨率由所收集信号的分辨率决定。（）2.当干涉指数为任意整数时，干涉面都代表了一族真实的晶面。（）3.X射线衍射具有“选择反射”特性。即只有当入、0、d三者之间满足布拉格方程时才能发生反射，而可见光可以在任何入射角反射。（）4.衡量一个原子对入射X射线的散射采用原子散射因子，而衡量一个结构对入射X射线的散射采用结构因子。（）5.单晶体电子衍射花样由排列得十分整齐的许多斑点组成；多晶体电子衍射花样是一系列不同半径的同心圆环；非晶体电子衍射花样是…个漫散的

2、中心斑点。（）二、填空题（具体要求：每小题1分，共30分）1、爱因斯坦称赞劳厄的实验为“物理学最美的实验”，该实验肯定了;证实了;在同一数量级。《材料现代分析方法C》试卷2、X射线的本质为电磁波，具有波粒二相性―既具有,乂具有。3、是描述X射线性质的物理量；而则是描述X射线数量的物理量。4、产生特征X射线的最低管电压为,而产生荧光X射线所需要的最长X射线波长为o5、据入射的X射线波是否有能量损失，散射分为和6、X射线在晶体中的衍射现象，实质上是的结果；而X射线衍射理论所要解决的中心问题则是在衍射现象与晶体结构之间建立起的关系。7、布拉格方程既可用于的分析，又可用于分析。

3、8、采用德拜相机照相时，底片的安装常采用法，因为它可以消除因底片收缩、相机半径不准等而产生的误差。9、材料或物质的组成包括两部分，一是;二是O10、X射线物相分析是以为基础，通过比较来进行分析。11、电磁透镜的分辨率由决定，而像散则可用进行补偿，减小色差则通过实现。12、透射电子显微镜一般都采用双聚光镜系统，其第一聚光镜是,将电子枪第一交叉点束斑缩小为lpm~5pm；第二聚光镜是，适焦时放大倍数为2倍左右。13、电子衍射的原理和X射线衍射相似，是以满足（或基本满足）《材料现代分析方法C》试卷作为产生衍射的必要条件。14、二次电子对试样表面状态非常敏感，能非常有效地

4、显示试样表面的微观形貌，可用于样品表面的分析。二次电子的产额和原了序数间没有明显的依赖关系，不能进行分析。15、用来测定X射线特征波长的谱仪叫做谱仪，用来测定X射线特征能量的谱仪叫做谱仪。1、讨论下列各组概念中二者之间的关系？⑴同一物质的发射谱和吸收谱；（2）X射线管靶材的发射谱和与其配用的滤波片的吸收谱。（6分）（1）同一物质的吸收谱和发射谱；答：入k吸收〈入kB发射Qka发射（2）X射线管靶材的发射谱与其配用的滤波片的吸收谱。答：Xk（3发射（靶）〈入k吸收（滤波片）〈Aka发射（靶）。任何材料对X射线的吸收都有一个Ka线和K0线。如Ni的吸收限为0.14869nm

5、o也就是说它对0.14869nm波长及稍短波长的X射线有强烈的吸收。而对比0.14869稍长的X射线吸收很小。Cu靶X射线:Ka=0.15418nmKB=0.13922nmo（3）X射线管靶材的发射谱与被照射试样的吸收谱。答：Z靶WZ样品+1或Z靶>；>；Z样品X射线管靶材的发射谱稍大于被照射试样的吸收谱，或X射线管靶材的发射谱大大小于被照射试样的吸收谱。在进行衍射分析时，总希望试样对X射线应尽可能少被吸收，获得高的衍射强度和低的背底。三、简答题（具体耍求：本题共6道小题，共40分）答案之二1）同一物质的吸收谱和发射谱；答：当构成物质的分子或原子受到激发而发光，

6、产生的光谱称为发射光谱，发射光谱的谱线与组成物质的元素及其外围电子的结构有关。吸收光谱是指光通过物质被吸收后的光谱，吸收光谱则决定于物质的化学结构,与分子中的双键有关。《材料现代分析方法C》试卷2）X射线管靶材的发射谱与其配用的滤波片的吸收谱。答：可以选择入K刚好位于辐射源的KQ和KB之间的金属薄片作为滤光片，放在X射线源和试样之间。这时滤光片对KB射线强烈吸收，而对Kci吸收却少。???????2、试计算?311?及?132?的共同晶带轴？（8分）????3、多重性因子的物理意义是什么？某立方晶系晶体，其｛100｝的多重性因子是多少？如该晶体转变为四方晶系，这个晶面族

7、的多重性因子会发生什么变化？（6分）4、多重性因数的物理意义是什么？某立方第晶体，其｛100｝的多重性因数是多少？如该晶体转变为四方系，这个晶休的多重性因数会发生什么变化？为什么？答：（1）表示某晶面的等同晶面的数目。多重性因数越大，该晶面参加衍射的几率越大，相应衍射强度将增加。（2）其｛100｝的多重性因子是6；（3）如该晶体转变为四方晶系多重性因子是4；（4）这个晶面族的多重性因子会随对称性不同而改变。《材料现代分析方法C》试卷4、分别说明成像操作与衍射操作时各级透射电子显微镜之间的相对I关系?（7分）（解答之一）4、分别说明成像操作