数电基础实验讲义

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1、基础实验部分实验一集成逻辑门电路逻辑功能的测试一、实验目的1、熟悉数字逻辑实验箱的结构、基本功能和使用方法。2、掌握常用非门、与非门、或非门、与或非门、异或门的逻辑功能及其测试方法。二、实验仪器及设备1、数字逻辑实验箱1台2、万用表1只3、元器件:74LS0074LS0474LS5574LS86各一块导线若干三、实验内容1、测试74LS04（六非门）的逻辑功能将74LS04正确接入面包板，注意识别1脚位置（集成块正面放置且缺口向左，则左下角为1脚）重点讲解，按表1-1要求输入高、低电平信号，测出相应的输出逻辑电平。

2、得表达式为/=4表1-174LS04逻辑功能测试表1A1Y2A2Y3A3Y4A4Y5A5Y6A6Y0101010101011010101010102、测试74LS00（四2输入端与非门）逻辑功能将74LS00正确接入而包板，注意识别1脚位置，按表1-2要求输入高、低电平信号，测出札I应的输出逻辑电平。得表达式为y=aJb表1-274LS00逻辑功能测试表1A1B1Y2A2B2Y3A3B3Y4A4B4Y0010010010010110110110111011011011011101101101103、测试74LS55

3、（二路四输入与或非门）逻辑功能将74LS55正确接入面包板，注意识别1脚位置，按表1-3要求输入信号，测出相应的输出逻辑电平，填入表屮。（表屮仅列出供抽验逻辑功能用的部分数据）表1-374LS55部分逻辑功能测试表ABcDEFGHY000000001000000011000000101000000111000001001000001011000001101000001111ai■!:!!!!!:!!!!!!!0000111101ai!!!!!!!!!!!!!!!001000001ai■!:!!!!!:!!!!!!!

4、100011110ai■!:!!!!!:!!!!!!!1101000111ai!!!!!!!!!!!!!!!111111100111111110木器件的逻辑表达式应为：Y-ABCD+EFGH,与实侧值和比较，功能止确。4、测试74LS86（四异或门）逻辑功能将74LS86正确接入面包板，注意识别1脚位置，按表1-4要求输入信号，测出相应的输出逻辑电平。得表达式为Y二A㊉B表1-474LS86逻辑功能测试农1AIB1Y2A2B2Y3A3B3Y4A4B4Y00000000000001101101101110110110

5、1101110110110110四、实验结果分析（回答问题）若测试74LS55的全部数据，所列测试表应有256种输入取值组合。用实验箱、万用表作一个实验示范，并强调测试方法及万用表的用法。实验二集成逻辑门电路的参数测试一、实验目的掌握TTL和CMOS与非门主耍参数的意义及测试方法。进一步熟悉数字逻辑实验箱的基本功能和使用方法。二、实验仪器及设备1、数字逻辑实验箱1台2、万用表2只3、元器件：74LS20（T063）、CC4012各一块，2CK114只电阻及导线若干三、实验内容（简单实验步骤、实验数据及波形）1、TT

6、L与非门74LS20静态参数测试导通电源电流Iccl和截止电源电流Iccho测试电路如图2-1。74LS20为双与非门,两个门的输入端作相同处理。测得Iccl二12mA,Icch二1.6mA图2-1图2-2低电平输入电流1山和高电平输入电流IiH。每一门和每一输入端都测试一次。测试电路如图2-2o参数1AIB1CID2A2B2C2DIiL(mA)1.11.21.11.01.01.11.11.0IiH(uA)9999109982、电压传输特性。调节电位器RW,使Vi从0V向5V变化，逐点测试Vi和Vo值,将结果记录入

7、下表中。测试电路如图2-3。图2-3Vi0.30.511.21.31.351.41.451.51.61.72.43.6Vo3.63.632.72.42.11.61.31.00.70.30.30.33、CMOS双四输入与非门CC4012静态参数测试将CC4012正确插入面包板，测电压传输特性。测试电路和方法同上，输出端为空载测量。将结呆记录入下表中。Vi00.5122.32.42.452.52.552.62.734.55Vo55555555000000四、实验结果分析(回答问题)1、测量TTL与非门输出低电平时要加负

8、载，因为要求集成块冇一定带负载的能力,而TTL与非门输出低电平吋会有较大负载电流。图2-3屮R选用360Q是根据最大允许负载电流为：扇出系数(8)X低电平输入电流Iiu(1.6niA)得到的。若R很小会使负载电流过大，无法得到正常的输岀低电平。2、与非门输入端悬空可以当作输入为“1”,因为悬空相当于Ri=-,由输入端负载特性口J得此结论。3、TTL或非门闲置