SMT高级工程师教案

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1、SMT高級工程師教案6SMT測試ATE工程師應注意及準備事項：1.當拿到R/DCADFILES時，請在A-TEST導入時分析該被測試之TESTABILITY2.在B-TEST導入ATE測試時，應注意版本變更之零件，規格；並分析下列資料：名稱數量A.PCBCADFILES(NEWVER)1B.BOM1C.ARTWORK1D.CIRCUIT1E.BEARBOARD1-2F.FUNCTIONM/B2-33.B-TEST後提出TESTABILITY報告.A.列出A-TEST&B-TEST之異差B.列出那些零件須加測試點及

2、注意事項C.列出治具要求之注意事項D.列出LAYOUTTESTPAD及測試針之規格及注意事項E.其它R/D設計須附合治具程式控制之要求ATE工程師應注意及準備事項：1.R/D在LAYOUT時之節點至少要有一測試點(TESTPAD)2.線路途的每一測試點(TESTPAD)，間距至少75MIL以上3.手插零件不需加測試點，但如果是CONNECTOR很密之零件視需要加測試點.4.CHIP除了空腳外，其餘各腳均需加測試點.5.如果是單面之被測試時，測試點要均勻分佈於測試板.6.如果是雙面之被測試時，測試點儘量LAYOUT

3、在焊錫面.7.測試點附近之零件高度應小於0.255IN(視產品而定)8.測試點周圍0.018IN內不可有測試或零件1.PCB邊緣0.125IN內不可有測試點10.測試點到另一測試點不可小於0.083IN.125°.125°.125°PCBDEIGES.125°0.08272.1mm(82.7mil)MINIMUNDESIRABLETESTPADPOSITIONONG.035”(0.83MM)11.所有導通孔及氣孔必須請PCB廠做MASK以防測試時漏氣12.定位孔之定位針之尺寸誤差在+-.002IN13.定位孔直徑

4、大於0.012IN14.定位孔之內壁不可吃錫15.治具之定位孔要用CNC鑽孔**測試零件CHIP,CONNECTOR為設計重點**16.測試點不可被被綠漆蓋住(測試前用放大鏡檢查)17.板邊至測試點約0.125IN不可有測試點.PCBOARDDATUMPOINTTOL±.002(.5mm)TESTPADTOL±.002(.5mm)(.5mm)TOL±.002TOOLINFHOLE18.測試點直徑不小於0.35/0.50in(35mil)，(目前約30mil)Solderpad(.09mm).035’SOLDERR

5、ESISTPROBETIP19.導通孔之中心間距要150mil以上20.各測試點必須吃錫，但邊緣不可被綠漆MASK21.如考量功能測試時，要在CONNECTOR最進處加測試點22.VCC點至少5點，GND點至少10點以上為治具部份23.對IC或CHIP之控制位址線(如RESET，ENABLE…)不可直接接到VCC或GROUND上4.7KNEORCL24.測試盪器須先除頻或加JUMPER控制10pfVCC25.對POWER-ONRESET在設計，要有隔離之設計4.7KRESET0.1UFVCCVCC414.7KOU

6、T23OSCRESET26.對振盪器如有控制ENABLE.DISABLE之產品測試會更穩，否則須加除頻電路或善用JUMP亦是一個好方法27.對IC或CHIP之OPTION空腳要LAYOUT測試點28.BGA零件背面之PCB不可LAYOUT零件■元件值ICT■短路開路-ICBoundarySocan-ICPatternICT■IC元件功能■自動調整ATE■組裝板功能測試測試設備的功能及區隔■IC保護二極體■靜態測試■動態測試-ICT：In-CircuitTester-ATE：AutomaticTestEquipme

7、nt-MDA：ManufactureingDefectAnalyzer測試步驟完成動態靜態產品n自動調整n組裝板功能測試-ICBoundaryScan-ICPatternnIC保護二極體nIC元件功能n元件值n短路開路製造不良分佈高中低空板不良元件反插元件不良功能不良漏件/錯件短路/開路測試成本不良百分比高中低空板不良元件反插元件不良功能不良漏件/錯件短路/開路製造不良分佈及測試成本nOKANONnTR-518nTESCON50K美金以上nIC保護二極體n元件值n短路開路50K美金以上nTR-518Fn自動調整n

8、組裝板功能nHPnTERADYNE-BoundartScan-Pattern100K美金以上nGenRadnIC元件能價格產品測試功能測試設備的市場測試治具nIn-Line測試治具n壓合式測試治具n真空測試治具n雙面測試治具n單面測試治具n加裝”導板”(GuidingPlate)n正確選擇測試點n正確選擇測試針頭n高品質的測試針治具製作的考慮因素SMT製造不良問題未來趨勢