日语论文翻译（精品）

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1、(19)日本国特許庁(JP)(19)日本特许厅(JP)51)Int.CL.5G01J3/4551)Int.CL.5GO1J3/45(21)出願番号(22)出願日钟岳泠10H语1018200002(12)公開特許公報(A)(11)特許出願公開番号(12)公开特许公报識別記号庁内整理番号8707-2G识別记号厅内整理号8707-2G特顧平4-1平成4年(1992)6月22日(21)申请号特顾平4-162651(22)申请口平成4年(1992)6刀22口特開平6(43)公開日(A)3190平成6年(1994)1月11日(11)特许申请公开号特开平6-3190(43)公开日FI審査請求未請求FI审查请

2、求平成6年(1994)1月11日技術表示箇所誌求項①数1(全4貝)技术表示处未请求请求项目数1(全4页)(71)出願人000242600北陽電機株式会社大阪府大阪市北区曽根崎2丁目1番12号(72)発明者中山裕大阪府大阪市北区曽根崎2丁目1番12号北陽電機株式会社内(74)代理人弁理士江原省悟(外2名)(71)屮请人000242600北阳电机股份冇限公司大阪府人阪市北区曾根崎2巷1帝12号(72)发明人中山裕大阪府大阪帀北区曾根崎2巷1祈12号北阳电机股份有限公司(74)代理人办理人江原省悟(外2人)(54)【発明名称】実時間7-9^分光器O光路差補正方法(54)发明的名称：实时傅立叶光谱仪的

3、光路差异校正方法(57)【要約】【目的】被測定光広光路差总与;固定"一。位置調整力寸容易疋、光路差広多少①変動力了生ext.補正•正確卜儿測定力了可能実時間7-V工分光器①実現。(57)摘要:0的：实现使实时傅立叶光谱仪能够容易地调整使被测定光产生光路差异的固定反射镜的位置，即使光路茅异多少产生了变化，也能进行校止并止确地测定光谱。【構成】被測定光(20)肚平行化固定—(4)〜(6)总反射0、光路差，与次元(8)上疋干渉縞总結像》、"干渉縞①位相関係总一次元4(8)疋検知。疋演算被測定光(20)。入勺、)5測定二①実時間7—!J工分光器V、既知0入勺、)®光总入料、如入宀卜儿总実測lz、実測b

4、/>O波長7卜量总求求g"卜量力、5固定"一(4)〜(6)①変位怎基乍<光路差①変動量声分力则、光路差声補正二①補正光路差-ctox被測定光(20)卜儿測定总実行构成：被测定光被平行化后从固定反射镜(4)〜(6)反射，产生光路差异，在一次元影像传感器上形成干涉条纹，用一次元影像传感器检测并计算这个干涉条纹的位相关系,便可以测定被测定光(20)的光谱。向这个实时傅立叶光谱仪射入光谱已知的光，并实测它的光谱，计算实测出的光谱与已知光谱的波长的改变量，从求得的变换量可以知道基于固定反射镜(4)〜(6)的变位之上的光路差异的变动量，并校正光路差异。利用校正后的光路差异可以测定被测定光

5、(20)的光谱。【特許請求①範囲】【請求項1】被測定光总複数o固定5y-T'順次広反射光路差rid干渉縞总作成0、二CO干渉縞CO位相関係总一次元検知作成L7z^A夕一7工口夕''7厶总、光路差方向—!J工変換被測定光G入人少卜八求^）召実時問7—JJ工分光器左、被測定光口弋才小既知。久2b/>O光卜儿总実測L.二①光①実測既知（./UO波長0^7b量力、5、固定y-（D変位人基乍<光路差①変動量总演算•補正T6r特徴<^T6実時間7一y工分光器①光路差補正方法。特许申请的范围：申请项1：使用能使被测定光依次从复数数量的固定反射镜反射，由于光路差异而生成干涉条纹，用一次元影像传感器检测这一干涉

6、条纹的位相关系并生成干涉图，把十涉图进行光路茅异方向上的傅立叶变换來测定被测定光的光谱的实时傅立叶光谱仪，不实测被测定光，而是测定光谱已知的光的光谱，然后根据光的实测出的光谱与已知的光谱的波长比较得出的变换量，计算基于固定反射镜的变位上的光路差异的变动量，并校正。以上述内容为特征的实吋傅立叶光谱仪的光路差异校正方法。【発明（7）詳細卞説明】[0001]【産業上①利用分野】本発明怎、被測定光①空間的泾光路差oko形成干渉縞①位相関係力A夕一7工口夕'严厶总得"V、被測定光卜丿L/总求実時間y~｝）工分光器光路差補正方法広関歹60发明的详细说明：0001产业上的利用领域：本发明关于根据由被测定光的

7、空间的光路弟异形成的干涉条纹的位相关系得到干涉图来测出被测定光的光谱的实时傅立叶光谱仪的光路差异校正方法。[0002】【従来①技術】物体力光60兔強夕卜儿总求^）2）実時間*7—工分光器CO概要七動作原理总、図3总参照説明T6O0002所有技术：参照图3,说明测定物体发出的光的光谱的实时傅立叶光谱仪的概耍和操作原理。[0003】入射兔!；yb（1）力入射物体力沱①被測定光（20）（±.uyX（2）