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时间：2019-10-20
《XRD在Ni-Fe镀层测试中的应用》由会员上传分享，免费在线阅读，更多相关内容在行业资料-天天文库。
1、XRD在Ni-Fe镀层测试中的应用主要总结了XRD在Ni-Fe镀层测试中以下应用：镀层物相分析镀层晶粒尺寸测量显微结构分析镀层的XRD物相分析镀层物相分析举例1：对不同电镀时间经相同退火温度（490℃）的试样表面进行XRD物相分析。由图4-1可以看出，电镀22min的试样出现Al和FeNi3两相，其他为FeNi3一相。这是因为X射线的穿透能力强，而电镀22min，时间较短，镀层厚度较小，所以X射线穿透镀层，与基体Al发生衍射而在谱图中出现了Al的衍射峰。随着电镀时间增长，镀层增厚，X射线无法穿透镀层达到基体，在谱图中就只出现镀层的物相，而不再出现基体Al的衍射峰了。对退火
2、后试样表面进行XRD物相分析。由图可以看出，退火后电镀22min的试样出现Al和FeNi3两相，其他试样为FeNi3一相。退火后镀层中没有出现新的物相，仍为FeNi3相，镀层物相稳定。举例2：研究某种因素对镀层成分的影响（1）铁含量对镀层氧化物成分的影响图是镀层中铁含量分别为0、6.9%、11.75%wt时，800℃高温下氧化产物的X射线衍射图谱。（2）氧化温度对镀层氧化物成分的影响图为镀层在700、800、900℃温度下氧化后X射线衍射图谱。当镀层中不含铁时，氧化层表面只有NiO;当镀层中铁含量为6.90%时，氧化物主要是NiO，其次是少量的Fe2O3;当镀层中铁含量为
3、11.75%时，氧化层中主要成分是Fe2O3，NiO就相对较少了。从图中可以看出合金镀层在700℃、800℃氧化后氧化层的主要成分是Fe2O3；900℃氧化后，氧化层中主要是NiO，只有少量的Fe2O3和金属间化合物Ni3Fe生成。X射线衍射线宽化法，谢乐公式D(hkl)=0.89λ/B(hkl)cosθ(hkl)未退火晶粒尺寸在14nm左右，退火后的晶粒尺寸为37nm左右，可见，退火后晶粒平均直径变大了。由于退火处理，温度对组织长大的影响很大。由于镍的熔点在1453℃左右，采用490℃退火，温度较低，晶粒的长大不很明显。镀层晶粒尺寸测量显微结构分析图为电沉积纳米Ni-F
4、e合金的X射线衍射谱,从图可见,大块纳米Ni-Fe的XRD表明电沉积Ni-Fe纳米合金优先在(111)面和(200)面长大,合金是面心立方结构的单向过饱和固溶体。在XRD谱线中没发现其他相的存在。进一步观察发现,随着电流密度的增大,合金在(200)方向的生长取向逐渐减小,而(111)方向的生长取向稍有增大。谢谢！
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