材料分析方法复习讲义

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1、一、名词辨析1.连续X射线：从某一短波限九SWL开始，直至波长等于无穷大九的一系列波长。特征X射线：具有一定波长的特强X射线，叠加于连续X射线谱上。2•光电效应：当入射光子的能量等于或略大于吸收体原子某壳层电子的结合能时，此光子就很容易被电子吸收，获得能量的电子从内层溢岀，成为自由电子，即光电子，原子则处于相应的激发态，这种原子被入射光子电离的现象即光电效应。俄歇效应：原了中一个K层电了被入射光了击出后，L层一个电了跃入K层填补空位，此时多余的能量不以辐射X光子的方式放出，而是另一个L层电子获得能量跃岀吸收体，这样的一个K层空位被两个L层空位代替的过程称俄歇效应。3.相干

2、散射：X射线与物质原子内层电子相撞，入射光子的能量全部转给相撞电子，在X射线电场作用下，产生强迫振动，电子成为新电磁波源，向四周辐射与入射光子等波长的电磁波。非相干散射：入射线与朿缚较弱的外层电了或口由电了作用，电了获一部分动能成为反冲电了，入射线失去部分能量，改变了波长，沿与入射方向成一定角度的方向辐射。4.空间点阵：晶体中呈周期性排列，且几何、物理环境相同的基本组元（原子、离子、分子）抽象为一几何点（阵点），由此构成的几何图形。倒易点阵：在晶休点阵的基础上按一定对应关系建立起来的空间儿何图形，是晶体点阵的另一种表达形式。能谱仪、波谱仪：电子探针的信号监测系统是X射线谱

3、仪，测定特征波长叫做波谱仪，测定特征能量的叫做能谱仪，前者精度高，后者速度快，仪器结构简单等厚条纹、等倾条纹:偏离矢量S二常数时，随着样品厚度t的变化衍射強度将发生周期性的振荡，锲形边缘处出现的厚度消光条纹。因为同一条条纹的厚度是相等的，所以称之为等厚条纹。当样品厚度匸常数时，衍射强度Ig随衍射晶面的偏离参量S的变化。不同位置处的晶面由于偏离矢量的周期性变化，形成了消光条纹。因为同一条纹上晶体偏离矢量的数值是相等的，所以这种条纹被称为等倾条纹电磁透镜的球菲:是由于电磁透镜的中心区域和边缘区域对电了的折射能力不符合预定的规律造成的。远轴屯子比近轴电子被折射程度过犬。当物点通

4、过透镜成像吋不会会聚到同一焦点上，从而形成了一个散焦斑。小孔径角成像时，可使球差明显减小。像散：是由透镜磁场的非旋转对称而引起的。可以通过引入一个矫正磁场来消除明场成像：让透射束通过物镜光阑而把衍射束描掉得到图像衬度的方法叫作明场成像，所得到的像为明场像。暗场成像：让衍射束通过物镜光阑而把透射束挡掉得到图像衬度的方法叫作暗场成像，所得到的像为暗场像。暗场像图像的衬度特征和明场像正好相反。双光束近似：电了朿在透过薄晶样品成像时，除了透射束外只存在一朿较强的衍射束，而其他衍射束大大偏离布拉格条件，它们的强度可视为零。柱体近似：把成像单元缩小到和一个晶胞相当的尺寸。衍射束和透射

5、束都能在一个和晶胞尺寸相当的晶柱内通过，相邻晶柱内的衍射波互补干扰二次电了：在入射电了束作用下被轰击出來并离开样品表面的样品原了的核外电了。二次电了的能量较低，产额与原子序数没有明显的关系，主耍用于分析样品表面的形貌。背散射电了：它是被固体样品中的原了核反弹回来的一部分入射电了，其产额随样品的原了序数增大而增大，不仅可用作形貌分析，也可用作显示原子序数衬度。3.晶面：晶体中由原子构成的平面，用晶面在三个晶轴上的截数的倒数的互质整数比来标记，记为(hkl)o干涉面：品面(hkl)的n级反射面(nh,nk,nl),用符号(HKL)表示，称为干涉面。4.原子散射因子：表示某一个

6、原子在某一方向上散射波的振幅是一个电子在相同条件下的散射波振幅的f倍，它反映了原子将X射线向某一个方向上的散射能力。结构因子：它表征了单胞的衍射强度，反映了单胞屮原子种类、原子数目及原子位置对(HKL)晶面衍射方向上衍射强度的影响。5.景深：不影响分辨率条件下，电磁透镜物平面允许的轴向偏差焦长：不影响透镜分辨率条件下，像平面叮沿轴向平移距离6.背散射电子：被固体试样屮原子核反弹回来的一部分电子，其屮包括弹性和非弹性散射电子。二次电子：在入射电子束作用下被轰击岀来并离开样品表面的样品原子的核外口由电子做二次电子。7.物和分析：分析物质的物和组成和晶体结构化学成分分析：分析物

7、质的元素组成和各自的含量二•填空题1.特征X射线谱的类型：L-K,Ka:M-K,Kp以及它们的波长和能量关系2.莫塞莱定律^=K2(Z-ct)Z与2的关系3.靶材滤波片样品的选择4.2dSin&=说与2dSin0=A以及d’eMH+"+芒，R的相互联系P多重性因子FHKLf结构因子0(&)角因子A(&)吸收因子£—2"温度因子2俠&)角因子(洛伦兹因子——偏振因子2C"")sin2cos26.德拜和机的安装：止装反装偏装德拜相的误差来源：相机的半径误差、试样吸收和偏心误差、底片伸缩误差徳拜相可以进行晶体结构分析、晶格常数测定