《材料分析方法》总复习

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1、《材料分析方法》总复习第一篇X射线衍射分析方法第一章X射线物理基础两种X射线谱●连续X射线谱—短波限●特征X射线谱—莫赛来定律—临界激发电压—光电效应—激发限—吸收限及其应用—二次特征辐射（荧光X射线）第二章X射线衍射方向X-射线衍射需要解决的两个问题：衍射方向；衍射强度衍射方向布拉格方程——基本理论倒易点阵和爱瓦尔德图解——工具布拉格方程的讨论：2dsin=—干涉指数；—晶面间距—入射X射线波长倒易点阵爱瓦尔德图解第三章X射线衍射强度—X射线衍射强度公式中各符号的物理意义；—结构因子及其应用

2、；—系统消光；—立方系晶体的系统消光规律第四章多晶体分析方法熟悉并掌握X射线衍射仪的基本结构及其工作原理第五章物相分析掌握X射线物相定性与定量分析的基本原理第六章点阵常数精确测定掌握利用X射线进行材料点阵常数精确测定的基本原理第七章宏观残余应力分析掌握X射线宏观残余应力测试的基本原理及常用方法第八章织构测试掌握X射线织构（极图）测试的基本原理X射线在材料研究中的应用？(1)物相分析（定性和定量）；(2)残余应力测试；(3)织构测试总结第二篇电子显微分析第一章电子光学基础（1）了解电磁透镜的工作原理和特点

3、（2）掌握加速电压和电子波长的关系第二章透射电子显微镜了解TEM结构掌握两种成像模式明场像和暗场像第三章电子衍射电子衍射与X-射线衍射的主要区别电子衍射花样的实质电子衍射基本公公式电子衍射图谱的标定过程正点阵与倒易点阵的关系第四章透射电子显微镜成象原理衍射衬度（衍衬）形成原理（明、暗场像）完整晶体衬度原理（等厚和等倾条纹）非完整晶体衬度原理（层错和位错）位错衬度的本质是——应变场衬度第五章扫描电镜（SEM）扫描电镜（SEM）工作原理电子束作用样品表面产生的各种物理信号（二次电子、背散射电子、特征

4、X射线）电子探针（能谱仪和波谱仪）工作原理电子探针的工作方式及其应用背散射电子衍射（EBSD）工作原理及其应用Thinkyouforyourattention!X-射线衍射谱标定方法原理：布拉格方程：2dsin=，sin=/2d对于立方晶系，有2）对于同一谱线（物质）的各衍射线，其为常数，故，从结构因数的计算可知，晶面指数平方和m之比是简单立方点阵：1:2:3:4:5:6:8:9:10…；体心立方点阵：2:4:6:8:10:12:14:16:18…；面心立方点阵：3:4:8:11:12:1

5、6:19:20:24…。简单立方与体心立方的区分：前2根衍射线的强度作为判断依据，此时多重性因子其主导作用。简单立方前2条线为（100）和（110）；体心立方为（110）和（200）2）简单体心面心HKLm123456891011121314161718100110111200210211220300,221310311222320321400410,322411,330立方晶系衍射线分布2）线条序数12345244.0651.2875.4991.7397.0922.0325.6437.74545.

6、86548.548sin0.37510.43270.61210.71770.7495sin20.14070.18720.37470.51510.5618d，nm0.205350.17800.12580.10730.1028HKL111200220300222入射波长L=nm晶格常数a=0.3561nm2）电子衍射谱（单晶）标定方法原理：从结构因数的计算可知，晶面指数平方和N之比是简单立方点阵：1:2:3:4:5:6:8:9:10…；体心立方点阵：2:4:6:8:10:12:14:16:18…；面心

7、立方点阵：3:4:8:11:12:16:19:20:24…。2）斑点序号（1）（2）（3）R，mm13.5522.422.4d，nm0.17730.10730.1073R2183.6025501.76501.76R22：R122.73292.7329{hkl}200113113hkl200-1131132.75相机常数L=2.403nm.mm与面心立方的R212比值规律接近，据此判断为面心立方结构依据面间距值，晶格常数a=0.3717nm，可见与X射线法相比误差别较大2）立方晶系夹角公式设第一个衍射斑

8、指数为（200），第二斑点的指数{113}要与（200）的夹角为108°。以此为约束条件，即可求得第二衍射斑指数为（-113）。验算：接近实测的108°，表明结果正确2）000200-113113-1-1-31-1-3-200晶带轴指数：（1）（2）（3）2）3）综合两谱标定的结果确定该样品的点阵类型、点阵常数；一个单胞内包含的阵点个数。点阵类型：面心立方；点阵常数：0.3561nm；单胞内包含的阵点个数：4请绘制出该样品的正点阵及倒易点阵