欢迎来到天天文库
浏览记录
ID:41273421
大小:130.51 KB
页数:4页
时间:2019-08-21
《手机转轴的总结》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在行业资料-天天文库。
1、手机转轴的总结手机转轴是折叠式手机的一个重要元器件,它将手机翻盖和手机主面装配连接起来后,由它驱动来实现折叠式手机旋转的功能。手机转轴和手机翻盖,手机主面三部件间的配合尺寸特别重要,而且常常易出现问题,根据前期工作经验,将它们间的配合尺寸作出了如下总结:(单位为mm)1.A=A1-0.2,翻盖和主面的A,A1的配合面都为直身。为了让A1面与A面摩擦后的痕迹隐藏起来,不影响外观,在A1的两面各加0.03的凸台,面积小于A1面的R位0.5,见上图,这样设计尺寸改为A1=A+0.26。2.B=B1+(0.05~0.07),C=C1+0.2,C1=0.8~1.5(一般取值)。
2、B1圆轴面取1º的拔模斜度,B圆孔处与B1的配合面取0º的拔模斜度,这样B和B1的配合为线接触,加上B和B1的配合间隙适中,翻盖和主面装配后晃动很小。3.D=D1+0.2,在翻盖装转轴处,倒0.2X45º角,方便转轴装进翻盖。4.E1=E+(0.02~0.04),F1=F+(0.02~0.04),E2=E-(0.01~0.03),F2=F-(0.01~0.03),以上取值可以保证转轴和翻盖的配合间隙适中,转轴可以很方便用手轻易压入。5.G1=G+(0.02~0.04),H1=H+(0.02~0.04),以上取值可以保证转轴和主面的配合间隙适中,转轴装入主面后不会晃动,
3、从而保证翻盖和主面晃动很小。6.翻盖中轴的挡墙厚度值J=0.7~0.8,K=0.7~1.0,L=2.5,(一般取值),M1=M+(0.1~0.2)。7.@=30º,一般转轴设计成180º转角,手机翻盖的打开角度ID设计一般是150º,若在主面上设计缓冲垫,将手机翻盖回压2º~4º,此时@取30º,则手机翻盖合上时预压角度为30º。8.@=30º-(2º~4º),即在主面上不设计缓冲垫,而将转轴设计成有2º~4º的预压角度,则手机翻盖合上时预压角度为26º~28º。9.为了保证翻盖中轴的强度,翻盖中轴的T值与所用的材料有关,见下表(供参考):材料MIN(最小值)AV(平
4、均值)T:PC1.0mm1.2mmPC/ABS1.2mm1.4mm折叠式手机在生产装配中及用户使用中会出现一些与转轴位有关的问题:1.与转轴配合的翻盖中轴位破裂。原因:A.转轴与翻盖中轴配合紧,过盈配合;B.翻盖中轴塑胶壁厚太薄。C.翻盖中轴的熔接线处强度不够。解决方案:A.转轴与翻盖中轴配合要做到有间隙,取值见上面第4点。B.翻盖中轴塑胶壁厚保持在1.0mm以上,取值见上面第9点。C.改变翻盖的入水口或增加胶位来达到改变熔接线的位置,注塑时调整注塑参数,让熔接线减小。2.手机整个翻盖摇晃。原因:A.手机翻盖和手机主面同轴度不好;B.手机转轴和手机翻盖,手机主面三部件
5、间的配合间隙太大。解决方案:要调整好几个塑胶件的同轴度和间隙值。3.转轴不顺畅,即手机在从闭合到打开过程中,有疙疙嗒嗒的响声。原因:手机转轴和手机主面配合间隙太大。解决方案:调整好手机转轴和手机主面配合间隙。4.翻盖打开后,稍用力能继续后翻。原因:没设计好足够的挡位,挡住翻盖继续后翻。解决方案:在主面与翻盖设计好足够的挡位,一般采用凸起的胶位来限位;另外在主面上设计缓冲垫。5.装转轴时刮主面肩膀部的漆面。原因:上图中主面C1取值偏大,另外是装配人员大意所致。解决方案:主面C1一般取值0.8mm~1.5mm;生产装配时用适当的方法和治具。6.拆转轴时损坏转轴及主机面壳。
6、生产装配检测时常发现问题,需拆转轴返工,员工拆时用力过大,常顶坏主机面壳和转轴。解决方案:一手用弯头的治具对准转轴头部往里压,同时另一手将翻盖往旁边拉出,这样就易拆,故拆转轴的工序要对员工给予专门培训。7.手机闭合力不足。手机闭合后,反转手机,使翻盖朝下,翻盖会掉落摇晃。原因:A.手机翻盖合上时预压角度设计小了。B.选用的转轴扭矩力太小。解决方案:A.手机翻盖合上时预压角度一般要设计26º~30º。B.转轴的扭矩力一般(单位kgf.mm)有:5.0,4.5,4.0,3.5,3.0。设计时要根据个案手机的翻盖重量来选用转轴的型号,或在量产前,根据试用不同的扭矩力转轴型号
7、来选用较好的一种。1.手机转轴扭矩力衰减过大。手机经过翻盖翻转测试或长时间使用后,因手机开合造成转轴的凸轮部位磨损及弹簧衰减,相应扭矩力衰减,出现手机开启和闭合时松松垮垮的手感。。从数据上来说,一般扭矩力衰减不超过20%,就不会出现手机开启和闭合时有松松垮垮的手感。我厂现在成品手机会做翻盖实验,翻转六万次后,若没出现手机开启和闭合时有松松垮垮的手感,就判断为合格。现在我厂选用的转轴供应厂Nanotech,M2sys的都能过六万次翻盖实验。手机转轴的结构示意图如下:2.FPC断裂损坏。手机经过翻盖翻转测试或长时间使用后,FPC易出现断裂损坏。原因:在手
此文档下载收益归作者所有