NIR--卫生部细菌耐药监测网 3项药敏数据PIM

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1、统计过程控制SPC1.什么是SPC?产品控制过程控制变差平均数Xbar1.平均数,通常用Xbar或X表示:把一组数据全部相加,再除以该组数据的个数极差R极差(R):一组数据中的最大值减最小值标准差S标准差(S):可直接由方差开平方得来UCL,LCL管制上限(UpperControlLevel,缩写为UCL):由Xbar加上三倍的标准差管制下限(LowControlLevel,缩写为LCL):由Xbar减去三倍的标准差准确度,精密度准确度是一种制程能力指数,通常用Ca表示,精密度也是一种制程能力指数,通常用Cp表示:Cpk综合能力指数(Cpk):用1减去准确度后,再乘以精密度以下是5组水

2、份仪测定值测定顺序测定值1~51.581.481.371.171.386~101.190.991.491.571.4711~151.481.571.571.291.2916~201.471.471.481.991.5821~251.371.491.291.481.4826~301.081.481.481.491.78R1=1.58-1.17=0.31R2=1.57-0.99=0.58R3=

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