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时间:2019-08-04
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1、X射线衍射应用1.定性分析首先可以全图快速扫描,得到粗略图谱,扫描条件:一般金属样品2θ扫描范围:约20°~100°;矿物:约5°~65°;一般步宽为0.02°;最大速度8°/min,狭峰1°-0.3mm-1°后,然后视实际谱图情况,改变扫描条件:2θ扫描范围根据实际情况,步宽为0.02°不变,速度可以慢到2°/min或者4°/min得到最终的实验谱图。分析鉴定结果:主要物相:蒙脱石(Ca0.2(Al,Mg)2Si4O10(OH)2·4H2O),标准卡片PDF号13-0135),蒙脱石特征谱线d值在1.5nm和0.4
2、5nm处即为15埃和4.5埃(而且图谱中其它杂质峰均低于蒙脱石的第二个特征峰)。次要物相:方石英(SiO2,标准卡片PDF号39-1425);石英(SiO2,标准卡片PDF号46-1045)。1.定量分析根据K(RIR=I/Icor)值法l设混合物中含有1号和2号两种物相,测得它们峰强度为I1和I2,查标准卡片库可知他们的K值(K=I/Iα-Al2O3)分别为K1和K2,那么l1号百分含量=l2号百分含量=l存在多种物相则依次类推举例说明:如图样品中存在C2CaO4·H2O(20-0231)和C2CaO4·2H2O(
3、17-0541)两种物相。通过查C2CaO4·H2O(20-0231)和C2CaO4·2H2O(17-0541)的卡片,没有RIR值,则寻找与其接近的代替,通过查找,认为PDF号为75-1313衍射谱图与C2CaO4·H2O(20-0231)谱图接近,查阅PDF号为75-1313卡片中RIR值为1.12,则认为RIRC2CaO4·H2O(20-0231)为1.12;类似地,找到PDF号75-1314谱图中RIR值为1.42,则RIRC2CaO4·2H2O(17-0541)为1.42。通过寻峰报告得到IC2CaO4·H
4、2O=3098,IC2CaO4·2H2O=220,则分析结果如下表:物相组成PDF号含量C2CaO4·H2O20-023195%C2CaO4·2H2O17-05415%1.求解半高宽直接选中被要求的峰,在平滑,寻峰,拟合后,“View
5、report&Files
6、PeakProfileReport”命令,在打开的列表中显示了此峰的半高宽值2.求解晶粒大小1)分别计算多个晶面的晶粒尺寸:直接选中被要求的峰,在平滑,寻峰,拟合后,选择菜单“View
7、report&Files
8、PeakProfileReport”命令,在打开
9、的列表中显示了各晶面的晶粒尺寸(XS)。2)计算单一晶面的晶粒尺寸:可以使用窗口中的“计算峰面积”命令,显示直观。3)平均晶粒大小:平滑,寻峰,全谱拟合后,选择菜单“View
10、report&Files
11、Size&StrainPlot”(或者Analyze
12、Size&StrainPlot)命令3.结晶度根据公式:结晶度=衍射峰强度/总峰强度用外标法:Rc=(I/I)×90%(有行业标准)1.求解晶胞参数不同晶系,根据不同公式计算,如立方晶系:a=,(hkl)可以选择最强峰;如果精修,可以直接使用jade软件功能:对谱图
13、首先物相检索、扣背景和Kα2、平滑、全谱拟合,然后选择菜单“Options
14、CellRefinement”命令,打开晶胞精修对话框。按下“Refine”按钮,Jade自动完成精修过程,并在原先显示晶胞参数的位置显示了精修后的结果。2.客户要求重叠峰分离(如那格列奈)条件设置这时候要求仪器分辨率较好,影响分辨率因素:1)一般狭缝越小,分辨率越好;2)用石墨弯晶单色器比Ni滤片的分辨率好;3)扫描速度越慢,分辨率越好,甚至有时候需要步进扫描;3.分析微量的杂质峰设置条件这时候要求仪器强度足够好,同时也要考虑分辨率,影响强
15、度的因素:1)这时候尽可能将X射线管功率开到最大限度(40kV,40mA);2)一般狭缝越大,强度越高;3)由于也要考虑分辨率,虽然Ni滤片比石墨弯晶单色器强度好,但推荐这时候仍用石墨弯晶单色器。4.测试薄膜样品当膜的厚度比较薄,参与衍射的薄膜的体积很小,使得衍射强度很低,有时甚至没有衍射峰出现;并且基体衍射峰过强也会掩盖薄膜的衍射峰。这时候就可以采用掠入射的方法(需要配备平行光薄膜附件)来进行测定。具体测定步骤如下:1)得到常规谱图:按照常规的连续扫描条件扫描样品得到样品的衍射峰Ⅰ2)掠入射得到谱图:固定入射角(θ
16、)为很小的角度(一般小于4度),单独检测器(2θ)扫描,得到衍射谱图Ⅱ3)将此谱图Ⅰ与谱图Ⅱ相比较,如果谱图Ⅱ(2θ单独扫描)中比谱图Ⅰ中相对变强的峰,视为膜的峰,若谱图Ⅱ中比谱图Ⅰ中相对减弱的峰就是基体峰此方法操作简单方便,适合于基体上镀薄膜测定,只需要普析通用X射线衍射仪整机加上平行光薄膜附件即可实现。
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