PCT测试目的与应用

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1、PCT測試目的與應用作者：江志宏　說明：PCT試驗一般稱為壓力鍋蒸煮試驗或是飽和蒸汽試驗，最主要是將待測品置於嚴苛之溫度、飽和濕度(100%R.H.)[飽和水蒸氣]及壓力環境下測試，測試代測品耐高濕能力，針對印刷線路板(PCB&FPC)，用來進行材料吸濕率試驗、高壓蒸煮試驗..等試驗目的，如果待測品是半導體的話，則用來測試半導體封裝之抗濕氣能力，待測品被放置嚴苛的溫濕度以及壓力環境下測試，如果半導體封裝的不好，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之介面滲入封裝體之中，常見的故裝原因：爆米花效應、動金屬化區域腐蝕造成之斷路、封裝體引腳間因污染造成之短路..等相關

2、問題。壓力蒸煮鍋試驗(PCT)結構：試驗箱由一個壓力容器組成，壓力容器包括一個能産生100%（潤濕）環境的水加熱器，待測品經過PCT試驗所出現的不同失效可能是大量水氣凝結滲透所造成的。澡盆曲線：澡盆曲線(Bathtubcurve、失效時期)，又用稱為浴缸曲線、微笑曲線，主要是顯示產品的於不同時期的失效率，主要包含早夭期(早期失效期)、正常期(隨機失效期)、損耗期(退化失效期)，以環境試驗的可靠度試驗箱來說得話，可以分爲篩選試驗、加速壽命試驗(耐久性試驗)及失效率試驗等。進行可靠性試驗時"試驗設計"、"試驗執行"及"試驗分析"應作爲一個整體來綜合考慮。常

3、見失效時期：早期失效期(早夭期，InfantMortalityRegion)：不夠完善的生産、存在缺陷的材料、不合適的環境、不夠完善的設計。隨機失效期(正常期，UsefulLifeRegion)：外部震蕩、誤用、環境條件的變化波動、不良抗壓性能。退化失效期(損耗期，WearoutRegion)：氧化、疲勞老化、性能退化、腐蝕。環境應力與失效關係圖說明：依據美國Hughes航空公司的統計報告顯示，環境應力造成電子產品故障的比例來說，高度佔2%、鹽霧佔4%、沙塵佔6%、振動佔28%、而溫濕度去佔了高達60%，所以電子產品對於溫濕度的影響特別顯著，但由於傳統

4、高溫高濕試驗(如：40℃/90%R.H.、85℃/85%R.H.、60℃/95%R.H.)所需的時間較長，為了加速材料的吸濕速率以及縮短試驗時間，可使用加速試驗設備(HAST[高度加速壽命試驗機]、PCT[壓力鍋])來進行相關試驗，也就所謂的(退化失效期、損耗期)試驗。θ10℃法則：討論産品壽命時，一般採用[θ10℃法則]的表達方式，簡單的說明可以表達爲[10℃規則]，當周圍環境溫度上升10℃時，産品壽命就會減少一半；當周圍環境溫度上升20℃時，産品壽命就會減少到四分之一。這種規則可以說明溫度是如何影響産品壽命(失效)的，相反的產品的可靠度試驗時，也可

5、以利用升高環境溫度來加速失效現象發生，進行各種加速壽命老化試驗。濕氣所引起的故障原因：水汽滲入、聚合物材料解聚、聚合物結合能力下降、腐蝕、空洞、線焊點脫開、引線間漏電、晶片與晶片粘片層脫開、焊盤腐蝕、金屬化或引線間短路。水汽對電子封裝可靠性的影響：腐蝕失效、分層和開裂、改變塑封材料的性質。PCT對PCB的故障模式：起泡(Blister)、斷裂(Crack)、止焊漆剝離(SRde-lamination)。半導體的PCT測試：PCT最主要是測試半導體封裝之抗濕氣能力，待測品被放置嚴苛的溫濕度以及壓力環境下測試，如果半導體封裝的不好，濕氣會沿者膠體或膠體與導

6、線架之介面滲入封裝體之中，常見的故裝原因：爆米花效應、動金屬化區域腐蝕造成之斷路、封裝體引腳間因污染造成之短路..等相關問題。PCT對IC半導體的可靠度評估項目：DAEpoxy、導線架材料、封膠樹脂腐蝕失效與IC：腐蝕失效(水汽、偏壓、雜質離子)會造成IC的鋁線發生電化學腐蝕，而導致鋁線開路以及遷移生長。塑封半導體因濕氣腐蝕而引起的失效現象：由於鋁和鋁合金價格便宜，加工工藝簡單，因此通常被使用爲積體電路的金屬線。從進行積體電路塑封製程開始，水氣便會通過環氧樹脂滲入引起鋁金屬導線産生腐蝕進而産生開路現象，成爲品質管理最爲頭痛的問題。雖然通過各種改善包括採

7、用不同環氧樹脂材料、改進塑封技術和提高非活性塑封膜爲提高産品質量進行了各種努力，但是隨著日新月異的半導體電子器件小型化發展，塑封鋁金屬導線腐蝕問題至今仍然是電子行業非常重要的技術課題。鋁線中産生腐蝕過程：①水氣滲透入塑封殼內→濕氣滲透到樹脂和導線間隙之中②水氣滲透到晶片表面引起鋁化學反應加速鋁腐蝕的因素：①樹脂材料與晶片框架介面之間連接不夠好(由於各種材料之間存在膨脹率的差異)②封裝時，封裝材料摻有雜質或者雜質離子的污染(由於雜質離子的出現)③非活性塑封膜中所使用的高濃度磷④非活性塑封膜中存在的缺陷爆米花效應(PopcornEffect)：說明：原指以

8、塑膠外體所封裝的IC，因其晶片安裝所用的銀膏會吸水，一旦末加防範而逕行封牢塑體後，在下游組裝焊